Novel F-shaped Triple Gate Structure for Suppression of Kink Effect and Improvement of Hot Carrier Reliability in Low Temperature polycrystalline Silicon Thin-Film Transistor (킹크효과 억제를 위한 새로운 f-모양 트리플게이트 구조의 저온 다결정실리콘 박막트랜지스터)
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- Proceedings of the KIEE Conference
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- 2011.07a
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- pp.1416-1417
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- 2011