• Korean Journal of Optics and Photonics
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• v.7 no.1
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• pp.17-23
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• 1996

At oblique angles of incidence, polarization properties of metal layers and dielectric layers are investgated and we designed the optical thin film systems reducing the variation of the polarization state, for target reflectances 0.5 and 0.6 at $45^{\circ}$ incidence in broad band wavelength regions $(\DELTA\lambda/\lambda= 10%)$ using two dielectric matching layers and one metal layer.

• 한국지구과학회:학술대회논문집
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• 2005.09a
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• pp.79-84
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• 2005

이 논문에서는 구름과 같은 기상 상태의 제약 없이 자료 획득이 가능한 SAR 자료를 이용하여 토지 피복 특성을 구분하고자 하였다. 기존 단일 주파수, 편광 상태의 자료만을 제공하는 SAR 자료를 이용한 분류에서의 낮은 분류 정확도를 향상시키고자 이 논문에서는 다중 시기 C 밴드 자료이면서 서로 다른 편광 상태의 자료를 제공하는 Radarsat-1(HH)와 ENVISAT(VV) 자료를 분류에 이용하였다. 분류 기법으로 Random Forests를 적용한 결과, 단일 편광 상태의 자료만을 이용하였을 때에 비해서 보다 향상된 분류 정확도를 얻을 수 있었다.

• Proceedings of the KIEE Conference
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• 2015.07a
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• pp.1267-1268
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• 2015

본 논문에서는 평탄 대역 모드와 손실형 평탄 대역 모드의 투과 스펙트럼을 가지는 PDLS 기반 Lyot형 광섬유 빗살 필터에서 출력되는 편광 상태를 이론적으로 분석하였다. 분석을 위해 파장 가변 레이저, 편광 조절기, 그리고 편광자를 사용하였다. 필터에 배치된 두 개의 반파장판을 적절히 조절하여 평탄 대역 모드와 손실형 평탄 대역 모드를 선택할 수 있다. 편광 조절기를 적절히 조절하면 파장 가변 레이저로부터 나오는 빛의 편광을 원하는 것으로 선택 가능하고 한 채널 내에서 필터의 투과 대역을 미세하게 조절할 수 있다. 그리고 편광자를 통해 출력되는 스펙트럼으로 출력 스펙트럼의 파장별 편광 상태를 알 수 있다.

• Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea SD
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• v.37 no.7
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• pp.36-42
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• 2000

Some polarization characteristics of reflection type photopolymer are investigated. Photopolymer on a Mylar substrate alters an incoming linearly polarized laser beam to an elliptical polarization. Due to the rotation of the polarization, the recording gratings show different diffraction efficiencies. The rotation angle is of order of 10-50% for the tested samples. It is found that the polymer layer does not changes the polarization direction but the Mylar substrate alone distorts the incoming polarization to a comparable degree. As align the polarization states of photopolymers to be parallel with a laser using a He-Ne laser(633nm), which is not sensitive to that material, it was possible to make high diffraction efficiency gratings.

• Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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• 2012.08a
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• pp.63-63
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• 2012

편광분석법(ellipsometry)은 대상 물질의 유전율 함수의 실수부와 허수부를 Kramers-Kronig 관계식의 도움 없이 그 물질상수를 정확히 측정할 수 있는 매우 우수한 기술이다. 이 기술의 큰 장점 중 하나는 빛의 편광상태의 변화를 이용한 비파괴적인 방법으로써 실시간 측정이 가능하며, 박막의 두께측정의 오차범위는 0.1 nm 이하로써 매우 정확하다는 것이다. 본 연구자는 이러한 우수한 측정 기술인 편광분석법을 고진공의 분자살박막증착장치(MBE) 와 결합하여 AlSb, AlP의 유전율 함수를 측정하였다. Al 계열을 포함하는 반도체 화합물은 Al의 산소친화력이 강해 대기 중에서 순수한 유전율 함수를 얻기가 불가능하다. 하지만 본 연구실에서 초고진공 상태의 MBE 챔버에서 시료를 성장시키는 동시에 실시간으로 편광분석기를 이용하여 측정하였고, 지금까지 발표된 결과들 중 가장 순수한 상태의 AlSb 유전율 함수를 얻어낼 수 있었다. 또한 순수한 AlP의 유전함수를 측정할 수 있었고, 이는 편광분석기를 이용한 최초의 실험결과로써 이차미분을 이용한 전이점 분석결과 이론적인 전자밴드구조에서 E1, E1+${\Delta}1$, E2에 해당하는 밴드갭들을 확인할 수 있었다. 또한 표면의 원자배열 구조와 실시간으로 일어나는 그들의 역학적인 현상들에 관한 정보를 얻을 수 있는 surface photoabsorption (SPA)를 metalorganic chemical vapor deposition (MOCVD)에 장착하여 실시간 모니터링이 가능하도록 하였다. SPA를 이용하여 GaAs/AlGaAs 양자우물구조의 성장을 원자층 수준으로 실시간 모니터링을 할 수 있었다. 그리고 SPA를 이용하여 MOCVD 안에서 InP에 As가 흡착 및 탈착되는 현상을 분석하여, As의 흡착이 두 단계에 의해 이루어짐을 분석하였다. 그리고 편광분석법의 빠르고 정확한 측정 기술을 규칙적인 구조체에서 전자기파의 회절을 구할 수 있는 Rigorous Coupled-Wave Analysis (RCWA) 계산방법과 결합하여 나노구조의 기하학적인 모양을 정확하고 빠르게 구할 수 있었다. 본 연구를 위해 규칙적인 3차원 Si 구조체 제작하여 편광분석기로 측정하고 $SiO_2$와 표면 거칠기를 고려하여 RCWA로 분석한 결과, 규칙적인 Si 구조와 산화막 층까지 정확하게 분석할 수 있음을 확인하였다. 또한 규칙적인 나노구조분석 연구를 넘어 불규칙적인 나노구조에 대한 분석 가능성을 보이기 위해 InAs 양자점을 증착하여 분석하였고, 이를 통해 편광분석법과 RCWA를 이용하여 불규칙적인 나노구조의 모양과 크기, 분포의 분석이 가능함을 보였다.

• The Journal of Korean Institute of Communications and Information Sciences
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• v.33 no.1C
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• pp.94-101
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• 2008

In this paper, we introduce a real-time state-of-polarization(SOP) finding system. The system divides the optical wave into linear horizontal- and vertical-SOP components and measures two different beat-signals, which are produced by superposition with reference optical source, in time domain. From these measured beat signals we can get SOP information of the signal instantly. Since the proposed scheme is a feed-forward measurement system, comparing with conventional systems which require an optical feedback loop, the measurement time becomes reduced tremendously. We also introduced a novel calibration method for compensating birefringence-related errors which may occur during the measurement. We prove the operation and performance of the proposed system through computer simulation and actual experiments.

• Proceedings of the Korean Institute of IIIuminating and Electrical Installation Engineers Conference
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• 2007.05a
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• pp.342-345
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• 2007

본 연구에서는 광섬유형(Fiber Optic Current Sensor) 광전류센서 구성 시 발생하는 선형복굴절(Linear Birefringence)의 보상에 용이한 수직원형틀(Orthogonal Loop Type) 센서헤드(Sensor Heads)를 개선하여 1 Cross 수직원형틀(l Cross Orthogonal Loop Type)을 제시하였다. 그리고 기존의 페루프형 원형틀 (Closed Loop Type), 수직원형틀 그리고 1 Cross 수직원형틀의 편광상태를 비교하였다. 그 결과 편광상태 측정 시 페루프 원형틀을 수직원형틀로 교체할 경우 15.3%, 1 Cross 수직원형틀로 교체할 경우 33.8%의 선형복굴절 감소 효과가 나타났다. 이에 1 Cross 수직원형틀을 광전류센서에 적용할 경우 안정된 편광특성으로 고신뢰성 광전류센서 개발 가능성을 높게 할 것이다.

• Korean Journal of Optics and Photonics
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• v.15 no.6
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• pp.547-554
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• 2004

We investigated a LiNbO$_3$ based integrated-optic polarization controller with the Ti-indiffused waveguide along the z-axis utilizing the electro-optic effect. The device consists of a first quarter-wave (λ / 4) followed by a half-wave (λ / 2) and a second quarter-wave (λ / 4) wave-plate. We analyzed the amount of phase change and the transformation of the polarized mode as a function of the combination of wave-plates and of their applied voltages. The operation has been systematically measured utilizing a polarimeter and Poincare sphere. We confirmed that the fabricated device controls the transformations from any arbitrary input state of polarization (SOP) into any general output SOP.

• Korean Journal of Optics and Photonics
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• v.12 no.3
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• pp.184-189
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• 2001

The design of an ultra fast ellipsometer is suggested. It adopts the division-of-amplitude-photopolarimeter (DOAP) as the polarization state detector. It does not utilize any moving part such as the rotating polarizer(analyzer) or even any electronic modulation part like the piezo-electric phase modulator. Hence the time resolution of the present system is limited only by the response time of the photo-detector and electronic circuit as well as the analog-digital converter. The feasibility of the suggested ultra fast ellipsometer was tested and the response time with nano-second time resolution has been verified. Its future application to the investigation of kinetics including that of the phase-change optical recording media like GezSb2 Tes is discussed. ussed.

• Korean Journal of Optics and Photonics
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• v.8 no.6
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• pp.486-491
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• 1997

A division-of-amplitude type photopolarimeter has been constructed for the analysis of the dynamic optical characteristics of liquid crystal panels, one of the essential components of liquid crystal displays. In this instrument an incoming light ray, whose state of polarization is to be determined, is divided into three rays of nearly same intensities and of identical polarization state by using NPBS'(non-polarizing beam splitters). Each of the three rays is further divided into two components of orthogonal polarization states by using a PBS(polarizing cube beamsplitter) or by using a combination of a quater wave plate followed by a PBS. The intensity of each ray is measured by using a photodiode to produce a set of six photo-signals, which in turn are converted into four Stokes parameters describing the state of polarization of the incoming ray. Performance test of the insrument shows that its time resolution is 80 $mutextrm{s}$, accuracy $\pm$0.3 degrees when the state of polarization of the incoming ray is representated on the Poincare sphere.