• 한국정보처리학회:학술대회논문집
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• 한국정보처리학회 2002년도 춘계학술발표논문집 (하)
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• pp.1611-1614
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• 2002

하나의 보드에 대한 소자들의 테스팅을 위해서 IEEE 1149.1이 제안되었고 완전한 테스팅을 지원한다. 하지만 여러 보드에 대해서는 불가능하여 IEEE 1149.1을 확장한 시스템 레벨의 테스팅 방법이 제안되었다. 기존의 IEEE 1149.1을 확장한 방법은 보드 레벨의 테스팅과 시스템 레벨의 테스팅이 하나의 데이터 패스에 의해서 테스트 시간이 길고 비효율적이다. 본 논문에서는 보드 레벨 테스팅과 시스템 레벨 테스팅을 구분하여 불필요한 테스트 데이터 이동을 줄여 테스트 시간을 줄이고 효율적인 방법을 제시한다. 그리고 이를 지원하기 위한 Path Select Unit을 설계한다. 구현된 PSU는 작은 게이트 사이즈로 적은 테스트 비용으로도 효율적으로 시스템 레벨 테스팅이 가능해진다.

• 한국정보과학회:학술대회논문집
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• 한국정보과학회 2000년도 가을 학술발표논문집 Vol.27 No.2 (3)
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• pp.30-32
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• 2000

본 논문에서는 RTL 회로의 데이터패스에 대한 테스트 용이도 분석방식과 테스트 용이화 설계방식을 제안한다. 데이터패스에 대한 테스트 용이도 분석은 콘트롤러에 대한 정보없이 RTL 회로의 데이터패스만으로 수행한다. 본 논문에서 제안한 테스팅을 고려한 설계방식은 내장된 자체 테스트(BIST)나 주사(scan)방식이 아니며, 주사 방식을 적용했을 때에 비해 본 논문에서 제안한 테스트 용이화 설계방식을 적용했을 때에 보다 적은 면적 증가율(area overhead)을 보인다는 것을 실험을 통해 확인하였다. 또한, 회로 합성 후 ATPG를 통해 적은 면적 증가만으로 높은 고장 검출율(fault coverage)을 얻을 수 있음을 보인다.

• 한국통신학회논문지
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• 제25권12A호
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• pp.1912-1923
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• 2000

본 논문에서는 내장된 자체 테스트(BIST: Built-In Self Test) 기법의 구현에 관해 기술한다. 내장된 자체 테스트 기법이 적용된 칩은 영상 처리 및 3차원 그래픽스용 부동 소수점 DSP 코어인 FLOVA이다. 내장된 로직 자체 테스트 기법은 FLOVA의 부동 소수점 연산 데이터 패스에 적용하였으며, 내장된 메모리 자체 테스트 기법은 FLOVA에 내장된 데이터 메모리와 프로그램 메모리에 적용하였다. 그리고, 기판 수준의 테스팅을 지원하기 위한 표준안인 경계 주사 기법(IEEE 1149.1)을 구현하였다. 특히, 내장된 자체 테스트 로직을 제어할 수 있도록 경계주사 기법을 확장하여 적용하였다.

• 소프트웨어공학소사이어티 논문지
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• 제24권2호
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• pp.35-45
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• 2011

금질 기법을 이용한 테스트 데이터 자동 생성 기법은 오랫동안 연구되어 왔으며, 효율적인 테스트 데이터 생성 방법 중 하나이다. 그러나 인풋 도메인이 넓을 경우, 기존의 담금질 기법은 이웃 선택 기법의 한계 때문에 나쁜 성능을 보였다. 이러한 한계를 극복하기 위해, 우리는 새로운 이웃 선택 기법인 분기 거리 이웃 선택 방법을 제안한다. 제안된 기법의 성능을 검증하기 위해서 우리는 분기 거리 이웃 선택 기법, 기존의 이웃 선택 기법 그리고 랜덤 테스트 데이터 생성 기법을 비교하는 실험을 수행하였다. 실험 결과 제안된 기법이 2가지 기법에 비해 우수한 성능을 보임을 알 수 있었다.