• Proceedings of the Optical Society of Korea Conference
• /
• 2006.07a
• /
• pp.117-118
• /
• 2006

• Proceedings of the Optical Society of Korea Conference
• /
• 2005.02a
• /
• pp.82-83
• /
• 2005

• Proceedings of the Optical Society of Korea Conference
• /
• 2005.07a
• /
• pp.154-155
• /
• 2005

• The Journal of Korean Institute of Communications and Information Sciences
• /
• v.19 no.9
• /
• pp.1748-1758
• /
• 1994

Recently, the demand of mobile communication is rapidly increasing. Also, not only the voice service but also the nonvoice services such as data, FAX, and image service are required. Therefore, in this paper, the voice/data intergraed service methods that will be utilized as a basic core technology of the PCS systems are proposed and their performances are analyzed and compared by computer simulation. According to the simulation results, it could be seen that the performance of voice/data integrated PR-CDMA method is better than that of voice/data integrated broadband CDMA method using a dedicated terminal or a voice/data integrated terminal. The reason is that the voice/data integrated PR-CDMA method can overcome the weak points of CDMA protocol, such as a limitation of the fixed CDMA logical channel number and a falling-off in channel utilization, by using PRMA protocol as a multiple access method that the terminals to which a CDMA logical channel is assigned compete.

• Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
• /
• 2014.02a
• /
• pp.108.1-108.1
• /
• 2014

제품의 고성능 사양을 위해 초미소 크기(Nano Size)의 구조를 갖는 제품들이 일상에서 자주 등장한다. 대표 제품은 주변에서 쉽게 접할 수 있는 전자제품의 반도체 칩이다. 반도체 칩 소자 구조는 크기를 줄이는 것 외에도 적층을 통해 소자의 집적도를 높이는 방향으로 진화를 하고 있다. 복잡한 구조로 인해 발생되는 여러 반도체 결함 중에 TSV 결함은 현재 진화하는 반도체 칩의 구조를 대변하는 대표 결함이다. 이 결함을 효율적으로 검출하고 다루기 위해서는 초미소 크기(Nano Size)의 결함을 비파괴적인 방법으로 가시화하고 분석하는 장비가 필요하다. X-ray 시스템은 이러한 요구를 해결하는 훌룡한 한 방법이다. 이 논문에서는 X-ray 시스템의 구성 및 위의 TSV 결함을 검출하고 분석하기 위한 시스템의 특징에 대해 설명을 한다. X-ray 시스템은 크게 X선을 발생시키는 X선튜브와 대상 물체를 투과한 X선을 영상화하는 디텍터, 대상물체의 영상화를 위해 물체를 적절하게 구동시키는 이동장치로 구성되어 있다. 초미소크기(Nano Size)의 결함 검출을 위해서는 X선 튜브, 디텍터, 이동장치에 요구되는 사양의 복잡도, 정밀도는 이러한 시스템의 개발을 어렵게 만든다. 이 논문에서는 이러한 시스템을 개발 시에 시스템 핵심 요소의 특징을 분석한다.

• Proceedings of the Optical Society of Korea Conference
• /
• 2005.07a
• /
• pp.156-157
• /
• 2005

• Proceedings of the Optical Society of Korea Conference
• /
• 2006.02a
• /
• pp.131-132
• /
• 2006

• Proceedings of the Optical Society of Korea Conference
• /
• 2008.02a
• /
• pp.193-194
• /
• 2008

• Proceedings of the Korean Institute of Communication Sciences Conference
• /
• 2006.07a
• /
• pp.410-410
• /
• 2006

• Proceedings of the Korean Information Science Society Conference
• /
• 2000.04b
• /
• pp.553-555
• /
• 2000

기존의 특징점 추출 알고리즘들은 입력 지문의 전처리, 이미지의 이진화, 세선화, 특징점 추출 등의 여러 처리 단계를 거쳐 이루어지므로 잡음등과 같은 외부적 요인과 여러 처리단계엣 발생하는 내부적 요인 등으로 왜곡 현상을 피하기 어렵고 전체 인증 시간이 길어 지는 등 성능 저해 요인이 많다. 본 논문에서는 복잡한 처리 과정을 거치지 않고 입려영상에서 집적 융선의 흐름을 추적하여 특징점들을 추출하고 매칭을 수행함으로써 이미지의 왜곡에서 오는 오류를 줄이고 처리 시간을 단축하여 기존의 시스템보다 빠른 시간에 지문을 인식하는 시스템을 설계 및 구현한다.