• 한국우주과학회:학술대회논문집(한국우주과학회보)
• /
• 한국우주과학회 1997년도 한국우주과학회보 제6권2호
• /
• pp.13.1-13
• /
• 1997

• 천문학회보
• /
• 제5권
• /
• pp.19.1-19.1
• /
• 1980

• 물과 미래
• /
• 제50권12호
• /
• pp.15-20
• /
• 2017

• Journal of Astronomy and Space Sciences
• /
• 제16권1호
• /
• pp.31-40
• /
• 1999

Svechnikov & Kuznetsova(1990)의 목록으로부터 761개의 접촉식쌍성을 택하여 그의 물리적 특성에 따라 공통 복사대기층을 갖는 CE형과 공통 대류대기층을 갖는 CW형으로 분류하여 질량비에 따른 그의 특성을 분석하였다. 그 결과 분광형이 조기형인 CE형은 만기형인 CW 형에 비교하여 주성과 반성의 온도차($$\mid${Delta}T$\mid$$)가 크며 주기는 길게 나타났다. 그런데 CW형은 CE형에 비교하여 질량비가 다소 좁은 범위(0.3$L_2/L_1=0.01+0.89q$의 상관 관계를 보였다. 한편, 질량비에 따른 반경과의 관계에서는 CE형과 CWs형의 차이의 원인이 반성의 반경 때문임을 확인하였으며, CW형 접촉식쌍성의 질량비에 따른 두 별의 반경의 합과 반경비와의 새로운 관계를 제시하였다.

• 한국항공우주학회지
• /
• 제33권4호
• /
• pp.27-34
• /
• 2005

본 연구에서는 분포 종동력을 받는 외팔 송수관의 안정성에 대하여 연구하였다. 지배 운동 방정식은 확장 해밀턴의 원리에 의해 유도 되었으며, 유한 요소법에 의해 수치해석이 이루어 졌다. 다양한 질량비에 대하여 분포 종동력 값에 따른 임계 유속 값을 결정하였다. 임계 유속에서의 플러터 모드 형상의 차수를 결정하기 위하여 1/12의 주기로 그려, 질량비에 따른 임계 유속의 그래프에 있어서 플러터가 발생하는 고유치 분기의 차수와 함께 명기하였다. 또한 내부감쇠가 시스템의 안정성에 미치는 영향을 조사하였다.

• 천문학회보
• /
• 제37권1호
• /
• pp.78.2-78.2
• /
• 2012

Orion A 분자운은 별탄생이 활발하게 일어나는 영역이면서 태양계에 비교적 가깝다. 그렇기 때문에 낮은 분해능으로도 자세한 관측이 가능하다. Orion A 분자운까지의 거리가 450 pc 이므로 대덕전파안테나 1' beam으로 0.13 pc 가 된다. 이곳에는 필라멘트 구조가 있는데 FCRAO를 통한 다파장관측을 통해서 필라멘트 구조가 확인되었다.(Melnick et al. 2011). 필라멘트는 길이 4.8 pc, 너비 1.5 pc 로 대덕전파망원경의 1' beam으로 자세한 관측이 가능하였다. 2010년 11월-2011년 5월까지 Orion A 분자운을 대덕전파망원경을 이용하여 $^{12}CO$, $^{13}CO$(J=1-0) 분자선 관측을 하였으며, 관측영역은 적경: 5h 32m - 5h 37m, 적위: $-5^{\circ}$ 14' - $-5^{\circ}$ 37'으로 ($1^{\circ}{\times}1^{\circ}$) 영역을 관측하였다. 그 결과 필라멘트구조를 확인할 수 있었으며 일자 형태로 분포되어 있다는 구조적 결과 얻었다. 관측된 필라멘트 덩어리의 전형적인 크기는 약 0.7 pc, 밀도는 약 $10^4cm^{-3}$, 질량은 약 500 $M_{\odot}$이다. 매우 밀한 곳은 1000 M${\bigodot}$이상의 질량분포도 나타내고 있다. 이것은 이 지역이 일반적인 분자운과 비교했을 때 고밀도 영역임을 나타내고 있다. 더욱 자세한 밀도구조와 질량분포를 밝혀보고 별탄생과의 관련성을 연구하고자 한다.

• 한국진공학회:학술대회논문집
• /
• 한국진공학회 2009년도 제38회 동계학술대회 초록집
• /
• pp.376-376
• /
• 2010

이차이온질량분석기(SIMS)는 수 kV의 에너지를 갖는 일차이온($O_2^+$, $Cs^+$)을 시료표면에 충돌시켜 표면에서 떨어져 나온 이온의 질량 및 개수를 분석하는 장비이다. SIMS는 성분원소의 깊이분포도 측정, 질량분석, Image mapping등 다양한 분석을 할 수 있다. 특히 극미량 분석이나 깊이분포도 분석에서 가장 뛰어난 성능을 가지고 있어 아직까지 많이 사용하고 있다. 하지만 SIMS는 이온빔을 이용한 스퍼터링(Sputtering) 방법으로 분석을 하므로 파괴적이며 매질효과가 심하다. 또한 Matrix 물질의 함량이나 물질 자체가 변한다면 Sputtering rate도 그에 따라 변하게 된다. 이러한 현상에 의해 Sputtering rate는 다른 물질이 섞여 있는 경우 Sputtering rate이 빠른 물질이 먼저 Sputtering이 되는 Preferential Sputtering 현상이 나타나기 때문에 계면에서 깊이분해능에 좋지 않은 영향을 주게 된다. 본 연구에서는 SIMS로 Si(100) 기판 위에 약 100nm 두께로 Fe가 증착된 시료를 분석하였다. 이차이온으로 $O_2^+$이온을 사용하였으며 이온의 입사각을 변화시켜 각 조건에서 생기는 Fe 표면의 Topograph을 SEM으로 관찰하였으며, Topograph와 SIMS깊이분해능의 관계을 이해하고 $O_2^+$ 이온의 입사각 변화에 따른 Fe 표면의 Topograph의 형태와 산화도를 이해하고자 한다.

• Bioinformatics and Biosystems
• /
• 제1권2호
• /
• pp.109-114
• /
• 2006

프로테오믹스에서 얻는 탄뎀 질량 스펙트럼은 효소로 가수분해된 펩타이드의 전구이온(precursor ion) 분자량과 펩타이드에 에너지를 가하여 생성된 이온조각(fragment ion)들의 분자량값들로 구성된다. 탄뎀 질량스펙트럼의 전구이온 분자량은 단백질 서열 데이터베이스에서의 검객 과정에서 가장 먼저 고려하는 값이다. 단백질 검색 프로그램은 단백질 서열 중에 스펙트럼의 전구이온으로부터 계산된 분자량과 일치하는 펩타이드 서열들을 찾아내고, 이들 중의 하나를 이온조각들의 분자량 정보를 이용해서 선택한다. 이 때에 전구이온의 분자량은 사용자가 지정한 오차범위 내에서 일치하는 감을 검색하는데, 이때의 오차범위는 질량분석기의 정확도에 따라 결정된다. 본 논문에서는 인간 혈액의 혈장시료로부터 FT LTQ 질량분석기를 통해 얻어진 탄뎀 질량 스펙트럼에서 전구이온 분자량의 분포를 역순서열을 이용하여 분석하였다. 전구이온 분자량의 분포를 재해석하여 실험값의 정확도를 보정하고 단백질 동정의 성능을 향상시키는 방법을 모색하였다.

• Journal of Astronomy and Space Sciences
• /
• 제20권2호
• /
• pp.133-142
• /
• 2003

접촉쌍성은 물리적 특성에 따라 5가지의 유형으로 분류되고 있다. 그러나 이와 같은 분류 이외에도 질량비가 극단적으로 작은(q＜0.2) 접촉쌍성이 또 다른 유형으로 분류됨을 확인하였다. Svechnikov & Kuznetsova(1990)의 목록에 따르면 이러한 유형의 접촉쌍성은 주성의 분광형이 A형의 한정된 영역에 분포하며 여러 가지 물리적 특성에 있어서 조기형 접촉쌍성과 만기형 접촉쌍성을 양분하는 중심 영역에 분포하고 있다.

• 대한기계학회논문집A
• /
• 제28권3호
• /
• pp.215-221
• /
• 2004

Large machine and structure can not be normally treated as lumped parameter system. Such machine or structure must be broken down to individual beams or panels the motion of which must be analysed before an absorber system can be designed for each element. The absorber may be a lumped parameter system or a continuous system. One of the most common elements in a machine or structure is the cantilever, and in this paper is considered the design of a continuous parameter absorber to reduce the transverse vibrations of a beam. So this paper describes the method to obtain the accurate information about combined continuous beam system with DVA. This information is obtained from the combined system's receptance. and this paper shows the convenience and useful informations when design the dynamic vibration absorber with the combined system's receptance.