• Journal of the Korean Society for Precision Engineering
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• v.25 no.4
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• pp.53-60
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• 2008

Electron detectors used in scanning electron microscope accept electrons emitted from the specimen and convert them to an electrical signal that, after amplification, is used to modulate the gray-level intensities on a cathode ray tube, producing an image of the specimen. Electron detector is one of the key components dominating the performance of scanning electron microscope so that the development of electron detectors having high performance is indispensable to acquire high quality images using scanning electron microscope. In this paper, we designed and manufactured an electron detector and conducted a couple of image capture experiments using it. In particular, scintillator which generates light photons when it is struck by high-energy electrons was manufactured and experimental studies on the optimization of manufacturing condition was carried out. From experiments to evaluate the performance of our detector, it was verified that the performance of our detector is equivalent to or better than that of the conventional one.

• Transactions of the Korean Society of Machine Tool Engineers
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• v.16 no.5
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• pp.140-144
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• 2007

As an electron scanning microscopes has traditionally required a considerably large room equipped with several service and pipe lines due to its inherent size. As an alternative, a small sized SEM, simply called a mini-SEM, is introduced even if the performance in terms of magnification and resolution is a little inferior to a classical thermal SEM. However, the size and fabrication cost is dramatically reduced, dedicating to opening a new market. The optical system in the mini-SEM is redesigned and specimen stage is quitely reduced and vertical axis is excluded. The design tools and calibration techniques to develope the mini-SEM are introduced and its performance is verified through numerical analysis experiments.

• Restorative Dentistry and Endodontics
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• v.25 no.4
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• pp.543-549
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• 2000

Gutta-percha와 근관sealer를 사용한 근관 충전은 가장 많이 이용되고 성공률이 높은 방법이지만, 현재 사용되는 모든 근관sealer는 미세누출을 나타낸다. 따라서 더 효과적인 근관 폐쇄를 이루기 위한 재료 및 방법들이 연구되어왔다. 이중 상아질 접착제는 근관 충전재와 함께 사용되어 미세누출을 감소시키지만, 근관 내에 사용하기에 술식이 복잡하고 기술이 요구된다. 본 연구의 목적은 gutta-percha와 레진계 근관 sealer로 충전한 근관에서 self-etching primer를 미리 도포한 경우와 도포하지 않은 경우의 치근단 미세누출을 비교하고, self-etching primer를 도포함에 있어 근관 내에 적용하는 방법에 따른 미세누출을 비교하는 것이다. 또한 근관sealer와 상아질 계면을 주사전자현미경으로 관찰하여, 이 결과를 미세누출과 관련시켜보고자 하였다. 36개의 발거된 사람의 단근치에서 치관부를 절단, 제거하고 ProFile로 근관 형성한 후, 무작위로 선택하여 4개의 군으로 분류하였다. 1군에서는 주사기와 30게이지 주사 바늘로 self-etching primer를 근관 내에 적용하였고, 2군에서는 self-etching primer를 paper point에 적셔 근관 내에 적용하였다. 3군에서는 self-etching primer를 적용하지 않았다. 1, 2, 3군의 치아를 gutta-percha와 AH26 sealer를 사용하여 continuous wave 충전법으로 충전한 후 치근단공 주위 3mm를 제외한 치근변에 nail polish를 2회 도포하였고, 4군(음성 대조군)은 치근면 전체에 도포하였다. 1군과 2군에서 각각 2개의 치아는 주사전자현미경적 관찰을 위해 준비하였다. 모든 치아를 Methylene Blue 수용액에 48시간동안 침적, 수세한 후 치아 장축에 평행하게 양분하여 10배의 실물확대현미경 하에서 치근단 색소 침투를 관찰하였다. Self-etching primer를 도포한 군과 도포하지 않은 군 사이에는 평균 미세누출량에 유의한 차이가 없었다. 주사 바늘로 적용한 군과 paper point로 적용한 군 사이에도 평균 미세누출량에 유의한 차이가 없었다. 상아질과 근관 sealer계면의 주사전자현미경 관찰 결과 일부분에서 긴밀한 접착 관계를 나타내었고, 다른 부분에서는 간극을 나타내었다.

• Journal of Biomedical Engineering Research
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• v.20 no.6
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• pp.539-546
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• 1999

현재 상용화되고 있는 치과용 76.5% Pd-11.2% Cu-7.2% GarP 합금의 왁스모형을 원심주조기로 주조하여, 임상조건의 탈개스 및 세라믹 소성처리를 하였다. 이에따른 각각의 시편에 대해 미세조직의 변화를 주사전자현미경 및 EDS로 관찰하고, 최종적인 투과전자현미경으로 조사하였다. 각 조건의 편석, 결정립계 및 석출물부위를 주사전자현미경과 EDS 고 관찰한 결과, 이원계 Pd-GA합금의 안정상들에 해당하는 정량적인 조성비는, 단지 상대적으로 Ga의 성분비만 높게 감지되었다. 특히, 세라믹소성 처리후 미세조직에서 형성된 석출물에 근접한 기지조직일수록 Ga의 농도가 상대적으로 줄어든 고갈현상을 확인하엿다. 또한 투과전자현미경의 제한시야회절도형 분석결과, 주조 및 탈개스처리 후 미세조직의 편석부위에서는 GA의 가장 큰 강도를 보였고, 또 Ga과 Pd 고용체 사이에 미세한 판상의 석출물에 기인하는 줄무늬를 관찰하였다. 한편, 세라믹소성처리후 미세조직의 석출물은 금속간화합물 Pd2Ga으로 밝혀졌으며, 기지조직은 <100> 방향을 따라 약 25nm의 폭을 가지는 미세한 섬유상 형태의 소위 "tweed 조직'을 형성하였다.성하였다.

• Applied Microscopy
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• v.4 no.1
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• pp.1-4
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• 1974

Variations of camera constant due to the change of the lens current were examined for Hitachi HU-125C electron microscope. It was shown that the variation in specimen height had a marked effect on the change of camera constant. Also the rotation of the image from the diffraction pattern was determined by using a test crystal. Suggestions were given for improving practical operation of electron microscope in the work of thin foils.

• Journal of the Korean Vacuum Society
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• v.12 no.2
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• pp.144-149
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• 2003

Carbon tips were grown on Si cantilevers by applying an electron beam to them directly with Scanning Electron Microscope. A carbon tip was fabricated by aligning the electron beam directly down the vertical axis of Si cantilever and then irradiating a single spot on the cantilever for a proper time in the dominant atmosphere of residual gases generated by the oil of the diffusion pump. A number of control parameters for SEM, including exposure time, acceleration voltage, emission current, and beam probe current, were allowed to make various aspect ratio feature. The growth of carbon tips was not affected by the surface morphology of substrates. We could acquired the tip whose effective length is 0.5 $\mu\textrm{m}$, bottom diameter is 90 nm and cone half angle $3.5^{\circ}$ The growth technique of the high aspect ratio carbon tips on the tip-free cantilevers is available to reduce the complexities of fabricating sub-micron scale tips on the PZT thin film actuator integrated AFM cantilevers.

• The monthly packaging world
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• no.6 s.182
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• pp.108-117
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• 2008

본 고에서는 플라스틱 소재의 인쇄나 코팅, 핫멜트 라미네이팅 필름 제조에 있어서 코로나 처리가 계면 접착에 미치는 영향에 어떤 현상으로 나타나는가를 2가지 방법으로 관찰하였다. 첫째, Tandem 압출기에서 코로나 바의 방전 극(Electrode)수를 각각 4개 1조 전극수인 것과 9개 1조 전극수인 2가지 방전 바 시스템으로 다르게 구성하여 코로나 방전의 효과가 경시 변화되는 경향과 구간별 표면장력이 지속되는 관계를 확인하기 위해 144시간 동안 Dynes를 측정 관찰한 결과 4개 전극수보다는 9개 전극 수 구성이 초기 Dynes도 높고, 48 Dynes 에서의 지속 기간이 길어져 방전밀도가 표면장력의 지속성과 관계있음을 확인하였다. 둘째, 코로나 처리한 베이스 필름과 압출 핫멜트 수지 코팅 계면 사이의 접착 형상, 핫멜트 층 표면의 코로나 처리 후의 형상에 대하여 주사 전자현미경으로 관찰하여 화학적, 물리적, 기계적 작용의 3가지 기능을 확인하고 비코로나 처리 경우와 비교하였다. 한편 압출 1차 EVA층과 2차 EVA층은 코로나 처리 없이도 안정적 결합을 하는 것을 확인하였다.

• Transactions of the Korean Society of Mechanical Engineers A
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• v.30 no.12 s.255
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• pp.1557-1563
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• 2006

A scanning electron microscope (SEM) is well known as a measurement and analysis equipment in nano technology, being widely used as a crucial one in measuring objects or analyzing chemical components. It is equipped with an electron optical system that consists of an electron beam source, electromagnetic lenses, and a detector. The present work concerns numerical analysis for the electron optical system so as to facilitate design of each component. Through the numerical analysis, we investigate trajectories of electron beams emitted from a nano-scale field emission tip, and compare the result with that of experimental observations. Effects of various components such as electromagnetic lenses and an aperture are also discussed.

• Proceedings of the Korean Society of Precision Engineering Conference
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• 2008.11a
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• pp.449-450
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• 2008

• Proceedings of the Korean Society of Precision Engineering Conference
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• 2007.11a
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• pp.461-462
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• 2007