• Journal of Dental Rehabilitation and Applied Science
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• v.28 no.2
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• pp.127-138
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• 2012

This study is to assess the effect of preload level on the stress development at the marginal cortical bone surrounding implant neck. A finite element model was created for a single implant placed in the lower jaw bone. An external load of 100N was applied on the top of abutment at 30 degree with the implant axis in lingo-buccal direction. Five different preloads, i.e. 0, 200, 400, 600, 800N were applied to the abutment stem to investigate if and/or how the preload affects on the marginal bone stress. Differences in the marginal bone stress were recorded depending on the level of preload. On the other hand, the tensile stress on the marginal cortical bone decreased in models of higher preload. Preloads between abutment/fixture can increase compressive stresses in the marginal cortical bone although the amount may be insignificant as compared to those generated by functional forces.

• The Journal of Korean Academy of Prosthodontics
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• v.48 no.1
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• pp.61-68
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• 2010

Purpose: This article attempted to determine the factors affecting the preload and screw loosening. Methods: Available clinical studies from 1981 to 2008 from the PUBMED that presented screw loosening data and review articles regarding screw joint stability were evaluated. Eleven studies dealing the biomechanical principles of the screw mechanics were reviewed. Moreover, the results of our data were included. Results: The frequency of screw loosening was consequently reduced due to the advancement in torque tightening with torque wrench, screw material, coating technique for reducing the frictional force, and thread design, etc. If preload in the screw falls below a critical level, joint stability may be compromised, and the screw joint may fail clinically. The types of fatigue failure of screw were divided to adhesive wear, plastic deformation, and screw fracture. Conclusion: An optimum preload is essential to the success of the implant-abutment complex. To maintain optimum preload, using a torque wrench and re-tightening at recall time were needed.

• Proceedings of the KIEE Conference
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• 2011.07a
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• pp.1578-1579
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• 2011

본 논문에서는 고분자 절연체가 인가된 전압의 시간에 따라 변화하는 공간전하와 전도 전류의 영향에 대하여 조사를 하였다. 또한 극성반전에 따른 공간전하의 분포와 전도 전류에 변화에 대한 연구를 실시하였다. 기존의 공간전하 분포 측정법들은 주로 고분자 절연재료 내에서 공간전하분포의 측정만을 목표로 한 반면에 공간전하 측정법 중의 하나인 PEA(Pulsed Electro-Acoustic method)을 개선시켜 공간전하와 전도전류의 동시 측정을 가능하게 하였다. 개선된 PEA법은 시간변화에 따른 공간전하와 전기전도의 직접적인 상관관계와 미리 형성 되어 있는 공간전하가 전기전도 및 절연특성에 미치는 영향을 직접적으로 분석할 수 있는 장점을 가지고 있다. 이러한 공간전하와 전류의 동시 측정법을 이용하여 연구하였다.

• Proceedings of the Korea Technical Association of the Pulp and Paper Industry Conference
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• 2002.05a
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• pp.108-108
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• 2002

고분자전해질들은 제지공정에서 건조지력제, 습윤지력제, 정착제, 보류제 등으로 널리 사 용되어지고 있으며, 이러한 고분자전해질들이 보유하고 있는 관능기의 종류와 분자량에 따라 각각의 다른 특성을 발현하게 된다. 이중 관능기의 종류와 비율에 따라 결정되는 중요한 특성 중 한가지가 전하밀도이며, 이러한 전하밀도는 제지공정에 사용할 때 습부공정에서 매우 중요 한 인자라 할 수 있다. 전하밀도는 고분자전해질의 분자구조와 단량체의 종류에 따라 다르며, 적용 pH의 조건에 따라 변화하게 된다. 3급 아민과 4급 암모늄을 관능기로 가진 고분자전해질 의 경우 pH에 따른 전하밀도의 변화는 이미 잘 알려져 있는 바,3급 아민을 작용기로 가진 양이 온성 고분자전해질은 pH 9에 도달하면 양전하를 완전히 상실하고,4급 암모늄을 작용기로 가진 양이온성 고분자전해질은 pH의 변화에 상관없이 양전하가 변하지 않는다고 보고되어 있다. 본 연구에서는 양이온성과, 양쪽이온성 고분자전해질들 중 Cationic PAM, Amphoteric P PAM, PolyDADMAC, Epoxide polyamide resin, Epi-DMA copolymer 등을 시 료로 사용하였 으며, 양이온성 관능기의 종류가 다른 고분자 전해질을 이용하여 pH 변화에 따른 전하밀도의 변화를 검토하였다. 또한 일반적으로 중성 초지공정의 pH 조건은 7.0 - 8.0이며, 이 pH 조건에 서 고분자전해질의 거동은 매우 중요하다고 할 수 있다. 따라서 양이온 관능기의 종류에 따른 고분자전해질들을 pH 7.8에서 보관시간에 따른 전하밀도의 변화를 조사하였으며, 전하밀도가 변화하는 양상에 따라 양이온성 관능기의 분자구조의 변화를 검토하였다. p pH 변화에 따른 전하밀도의 변화 결과로부터 3급 아민을 포함한 양이온성 고분자전해질 뿐만 아니라,4급 암모늄을 포함한 일부의 양이온성 고분자전해질 또한 알카리 조건에서 전하 밀도가 감소하며, 강한 얄차리 조건에서는 음이온성 고분자전해질로 변화하는 현상을 관찰할 수 있었다. 이상의 결과들로부터 약 알카리(pH 7.5 - 8.0) 조건 하에서도 시간의 변화에 따라 4 급 암모늄을 포함하는 고분자전해질의 전하밀도가 변화할 것이라 예측하였으며, 실험을 통해 그 사실을 확인하였다. 알카리 조건에서 전하밀도가 변하지 않는 4급 암모늄 고분자전해질과, 전하밀도가 변하는 4급 암모늄 고분자전해질의 분자구조를 비교해 볼 때, 그 원인은 4급 암모늄 의 관능기가 고분자 연쇄로부터 가수분해 되어 나타나는 현상으로 판단된다.

• Electrical & Electronic Materials
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• v.4 no.1
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• pp.73-81
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• 1991

본 논문은 가교폴리에틸렌중의 공간전하 분포를 직접 측정이 가능한 Laser-유기압력파법에 의하여 조사하였다. 그 결과 XLPE는 폴리에틸렌보다 전자주입이 쉽게 됨을 알았으며 그때의 시료내의 공간전하 분포를 측정할 수 있었다.

• Electrical & Electronic Materials
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• v.6 no.4
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• pp.347-353
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• 1993

레이저 유기 압력 펄스법을 이용하여 가교폴리에틸렌필름과 전력케이블의 공간전하의 성질을 정량적으로 연구하여 다음과 같은 결론을 얻었다. 잔류가교제를 갖는 XLPE에서는 음극으로부터 현저한 전자주입이 나타나고 시료전체에 걸쳐 부의 공간 전하가 형성되었으며 음극으로 부터의 전자 주입은 전계상승에 따라 증가 하였다. XLPE 전력 케이블에서는 잔류가교제가 이온화하여 생긴 정 및 부의 헤테로 공간 전하가 음극 및 양극 부근에 형성되었다.

• Journal of the Korean Institute of Telematics and Electronics D
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• v.36D no.1
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• pp.83-89
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• 1999

A Unified model for the alpha-particle-induced charge collection has been developed. By accounting for funneling and diffusion charges separately, new model accurately describes the dependence of collected charge on junction size, junction bias, injection energy, injection angle, injection point, and trench oxide depth.

• The Journal of the Korea institute of electronic communication sciences
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• v.7 no.6
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• pp.1403-1411
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• 2012

In this paper, we have evaluated theoretically the PEA method which is the most popular methods for the non-destructive measurement of space charge distribution in polymer dielectric materials and is recently one of big issues in DC high voltage cables. On the basis of theoretical evaluation, we have developed the space charge measurement system in polymer dielectrics under DC appled voltage and improved the accuracy of space charge distribution by applying the deconvolution process for distorted signals.

• 대한치과보철학회:학술대회논문집
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• 2005.11a
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• pp.71-71
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• 2005

• Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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• 2016.02a
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• pp.342-342
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• 2016

최근 반도체 제조 공정 기술이 발전함에 따라, 나노 영역에서의 열 및 전기 특성에 관련하여 깊이 있는 연구들이 많이 수행되고 있다. 그 중 반도체 기판의 표면 거칠기는 열전도도 및 전하 이동도와 밀접한 관련이 있으며 나노 소자의 특성을 결정짓는 중요한 요소가 된다. 표면이 거친 정도에 따라 포논 산란 작용이 열적 특성에 영향을 미치며 표면 거칠기와 상응하는 포논의 파장은 이를 산란시켜 열전도도를 감소시키는 것으로 보고되었다[1]. 또한, 트랜지스터의 소형화에 따라 수직 전계가 증가하며 그 결과, 표면 거칠기 성분이 표면에서의 전자 및 홀의 이동 특성에 영향을 미친다. 따라서 원자 층 두께의 표면 거칠기의 중요성이 부각되며 이에 대한 물성 연구가 수행되어야 한다. <100> 벌크 실리콘에서 약산 용액인 500-MIF를 이용하여 시간에 따라 dipping을 진행한 후 표면 거칠기의 변화를 profiler (Tencor P-2)로 측정하여 확인하였다. 거칠기는 dipping을 시작한 후 10분부터 18분까지 약 $3{\AA}/min$의 변화를 가지는 것으로 관측이 되었다. 또한 Hall measurement system으로 벌크 실리콘에서의 온도에 따른 전하 이동도를 측정하였다. 측정 결과, 300 K일 때 p-type 벌크 실리콘의 전형적인 전하 이동도 값인 약 $450cm^2/V{\cdot}s$을 얻었으며, 저온에서는 높은 이동도를 가지다가 온도가 증가할수록 이동도가 감소하는 형태를 확인하였다. 서로 다른 표면 거칠기를 가지는 반도체 기판을 저온부터 상온 이상까지 온도의 변화를 주어 그에 따른 전하 이동도를 측정하고 열전도도 및 전하 이동도의 특성을 분석하였다.