• Title/Summary/Keyword: 잔류 미세먼지

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A Study on the Prediction of Residual Probability of Fine Dust in Complex Urban Area (복잡한 도심에서의 유입된 미세먼지 잔류 가능성 예보 연구)

  • Park, Sung Ju;Seo, You Jin;Kim, Dong Wook;Choi, Hyun Jeong
    • Journal of the Korean earth science society
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    • v.41 no.2
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    • pp.111-128
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    • 2020
  • This study presents a possibility of intensification of fine dust mass concentration due to the complex urban structure using data mining technique and clustering analysis. The data mining technique showed no significant correlation between fine dust concentration and regional-use public urban data over Seoul. However, clustering analysis based on nationwide-use public data showed that building heights (floors) have a strong correlation particularly with PM10. The modeling analyses using the single canopy model and the micro-atmospheric modeling program (ENVI-Met. 4) conducted that the controlled atmospheric convection in urban area leaded to the congested flow pattern depending on the building along the distribution and height. The complex structure of urban building controls convective activity resulted in stagnation condition and fine dust increase near the surface. Consequently, the residual effect through the changes in the thermal environment caused by the shape and structure of the urban buildings must be considered in the fine dust distribution. It is notable that the atmospheric congestion may be misidentified as an important implications for providing information about the residual probability of fine dust mass concentration in the complex urban area.

Concentration Variations of Persistent Organic Pollutants in Ambient Air of Gosan, Jeju in November 2001 (2001년 11월 제주도 고산에서의 대기 중 잔류성 유기오염물질 농도 변화)

  • 김영성;김진영;진현철;문길주;김연제;한진석;김영준;김상우;윤순창
    • Proceedings of the Korea Air Pollution Research Association Conference
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    • 2002.04a
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    • pp.83-84
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    • 2002
  • 우리 사회가 중국으로부터 오염물질 이동을 주목하기 시작한 것은 국지 오염 중심의 아황산가스, 먼지 등 1차 오염이 어느 정도 해결된 1990년대 초반 이후이다. 1992년 환경부 선도기술개발사업으로 산성비 감시 및 예측기술개발이 시작되고 1995년부터 국립환경연구원 주도로 배경농도 지역에서 미세입자 측정이 진행되면서 국내의 장거리 이동대기오염물질 연구는 점차 자리를 잡게 되었다. (중략)

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Electrochemical characteristics in water cavitation peening for Al bronze in distilled water (동합금 Water cavitation peening에 의한 전기화학적 특성 연구)

  • Kim, Seong-Jong;Park, Jae-Cheol;Kim, Min-Seong;Han, Min-Su
    • Proceedings of the Korean Institute of Surface Engineering Conference
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    • 2011.05a
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    • pp.79-79
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    • 2011
  • water cavitation peening(WCP)은 water jet 과정으로 인한 cavitation이 발생할 때, 금속표면 cavitation 현상에 의해 재료표면의 잔류응력과 경도 등의 물성을 변화시키게 되며, 그로 인해 생긴 잔류 응력으로 재료의 내구성 및 수명을 향상시키는 기술이다. 최근에는 water jet을 이용한 장치들이 건설 분야, 일반기계분야, 컷팅 공정, 분쇄 등 다양한 분야에서도 사용되고있다. 그러나 water jet을 이용한 peening은 소개 된지 20여년이 경과했음에도 불구하고 연구 및 개발 내용은 shot peening에 비해 아직 초기 단계이다. water cavitation peening은 기존의 피닝 방법의 단점을 보완 할 뿐만 아니라 환경적인 측면에서도 그 가치가 크다. 아직은 다른 peening 기법 보다 잔류압축응력 부가 측면에서 그 효과가 떨어지지만, water cavitation peening은 열에 영향을 받는 영역이 생성되지 않으며, 기계의 표면 가공을 하는 동안 어떤 미세한 먼지도 생성하지 않아 친환경적이다. 또한 복잡한 외형을 가지는 부품 및 내면에 적용성이 뛰어나고, 표면 정밀도 저하가 낮다는 장점이 있다. 본 연구에서는 조류발전용 블레이드의 재료로 사용하려는 동합금에 대하여 증류수 내에서 water cavitation peening 시간, 거리, 파형 등의 변수를 적용하여 최적 조건을 찾고, 다양한 전기화학적 실험을 실시하였으며, water cavitation peening 부의 부식특성을 평가 하였다. ASTM-G32 규정에 의거하여 압전효과를 용한 진동발생 장치(RB 111-CE)를 이용하여 동합금 표면에 water cavitation peening을 실시하고, 실험 후 표면의 손상거동을 관찰하기 위하여 3D현미경 및 전자주사현미경(SEM)을 사용하였다. 물성치 변화를 확인하기 위하여 SHIMADZU사의 HVM-2 Model의 비커스 경도기를 이용하여 표면 경도값을 측정하였다. 전기화학실험은 각 3회 이상 실시하였으며, Tafel 분석결과로 부식전류밀도와 부식전위의 평균, 부식전위를 알 수 있었고, 음분극 실험결과, 용존산소 환원반응에 의한 농도분극에서 수소가스발생에 의한 활성화 분극으로 진행되는 변곡점을 확일 할 수 있었다.

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The development of the Ionizer using clean room (청정환경용 정전기 제거장치 개발)

  • Jeong, Jong-Hyeog;Woo, Dong Sik
    • Journal of the Korea Academia-Industrial cooperation Society
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    • v.19 no.1
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    • pp.603-608
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    • 2018
  • Although the voltage-applied discharge method is most widely used in the semiconductor and display industries, periodic management costs are incurred because the method causes defects due to the absorption of ambient fine dust and causes emitter tip contamination due to the discharge. The emitter tip contamination problem is caused by the accumulation of fine particles in ambient air due to the corona discharge of the ionizer. Fuzzy ball generation accelerates the wear of the emitter tip and deteriorates the performance of the ionizer. Although a mechanical cleaning method using a manual brush or an automatic brush is effective for contaminant removal, it requires management of additional mechanical parts by the user. In some cases, contaminants accumulated in the emitter may be transferred to the wafer or product. In order to solve this problem, we developed an ionizer for a clean environment that can remove the pencil-type emitter tip and directly ionize the surrounding gas molecules using the tungsten wire located inside the ion tank. As a result of testing and certification by the Korea Institute of Machinery and Materials, the average concentration was $0.7572particles/ft^3$, the decay time was less than two seconds, and the ion valance was 7.6 V, which is satisfactory.