• Title/Summary/Keyword: 이중접합

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Electrical and optical properties of back reflecting layer with AZO-Ag bilayer structure on a glass substrate for thin film Si solar cell applications (박막 Si태양전지 응용을 위한 유리기판 위의 AZO-Ag 이중구조 배면전극의 전기광학적 특성)

  • Park, Jaecheol;Hong, ChangWoo;Choi, YoungSung;Lee, JongHo;Kim, TaeWon
    • 한국신재생에너지학회:학술대회논문집
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    • 2011.05a
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    • pp.124.2-124.2
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    • 2011
  • 현재 박막형 태양전지는 실리콘계가 주류를 이루고 있으며, 유리기판 또는 유연성 기판에 비정질 실리콘 박막을 형성시킨 태양전지와 실리콘 기판 양면에 태양전지를 형성하는 방법 등 효율을 극대화시킨 이종접합 태양전지 등이 연구되고 있다. 예컨대 밴드갭이 서로 다른 박막들 간의 이종접합을 이용한 tandem 구조 및 triple 구조의 Si 박막 태양전지의 경우 13%대 변환효율을 나타낸다고 보고된 바 있다. 본 연구에서는 비정질 Si 박막 태양전지 내 흡수층의 효율을 최대화하기 위하여 AZO/Ag 이중구조 박막의 특성에 관한 연구를 수행하고자 한다. combinatorial sputtering system을 이용하여 AZO/Ag 이중구조 박막을 제작하였으며 타겟으로는 4-inch target(Ag, 2wt% Al2O3 doped ZnO)이 사용되었다. 유리기판 상에 combinatorial sputter system으로 상온에서 제작된 Ag 박막의 두께는 25nm로 성장시켰으며 연속공정으로 AZO 박막을 제작하였고, AZO 박막은 100~500nm의 두께경사를 나타내었다. 이 때 유리기판상에 성장된 Ag/AZO 박막의 면저항은 약 $2{\Omega}/{\Box}$ 값을 나타내었다. 본 발표에서는 AZO/Ag 이중 구조 박막의 우수한 전기적 특성을 기반으로 표면 거칠기 및 반사도 특성 등에 관하여 추가적으로 토론한다.

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Strength Property of Double Shear Bolted-Connections of Larch (낙엽송 부재의 이중 전단 볼트 접합부 강도 성능)

  • Park, Chun-Young;Kim, Kwang-Mo;Lee, Jun-Jae
    • Journal of the Korean Wood Science and Technology
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    • v.33 no.1 s.129
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    • pp.7-16
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    • 2005
  • This study was carried out to evaluate the structural property of double shear bolted connections in Korean Larch. For the main member, sawn lumber and Glulam were used in which thickness of lumber is 39 mm, 89 mm, 139 mm, 189 mm and Glulam 80 mm, 140 mm, 170 mm. For the side member, sawn lumber and steel plate were used in which thickness of lumber is the same of the main member and steel plate is 6mm. And connections were jointed by M12, M16, M20 bolts which were usually used for wood constructions in Korea. Directions of loading to connections were perpendicular and parallel to grain of main and side member. First, through the dowel bearing test, the dowel bearing strength was evaluated and through the bolt bending tests, the bolt bending strength was evaluated. And then experiments for the connection were performed. Obtained results from experiments were compared with calculated values by EYM and analyzed. Strength of double shear bolted connections in Korean Larch was similar or higher than calculated value by EYM. Especially when the side member was made by the sawn lumber, it was similar to the calculated value. In failure mode, the mode was effected by the knot and the dry defect. In the thin main member, it was shown mode I and as the thickness of the main member was thicker, it was changed into mode III.

Identification of Meiotic Recombination Intermediates in Saccharomyces cerevisiae (효모 감수분열과정에서의 유전자 재조합 기전 특이적 DNA 중간체의 구조 변화)

  • Sung, Young Jin;Yoon, Sang Wook;Kim, Keun Pil
    • Korean Journal of Microbiology
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    • v.49 no.1
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    • pp.1-7
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    • 2013
  • During meiosis, genetic recombinants are formed by homologous recombination accompanying with the programmed double-strand breaks (DSBs) and strand exchanges between homologous chromosomes. The mechanism is generated by recombination intermediates such as single-end invasions (SEIs) and double-Holliday junctions (dHJs), and followed by crossover (CO) or non-crossover (NCO) products. Our study was focused on the analysis of meiotic recombination intermediates (DSBs, SEIs, and dHJs) and final recombination products (CO and NCO). We identified these meiotic recombination intermediates using DNA physical analysis under HIS4LEU2 "hot spot" system in budding yeast, Saccharomyces cerevisiae. For DNA physical analysis, when the hot spot locus is recognized by restriction enzyme from synchronous meiotic cells, the fragmented DNA that are forming recombination intermediates can be detected and quantified through Southern hybridization analysis. Our study suggests that this system can analyze the structural change of recombination intermediates during DSB-SEI transition, double-Holiday junctions and crossover/non-crossover products in meiosis.

Analysis of Center Potential and Subthreshold Swing in Junctionless Cylindrical Surrounding Gate and Doube Gate MOSFET (무접합 원통형 및 이중게이트 MOSFET에서 중심전위와 문턱전압이하 스윙 분석)

  • Jung, Hakkee
    • Journal of IKEEE
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    • v.22 no.1
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    • pp.74-79
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    • 2018
  • We analyzed the relationship between center potential and subthreshold swing (SS) of Junctionless Cylindrical Surrounding Gate (JLCSG) and Junctionless Double Gate (JLDG) MOSFET. The SS was obtained using the analytical potential distribution and the center potential, and SSs were compared and investigated according to the change of channel dimension. As a result, we observed that the change in central potential distribution directly affects the SS. As the channel thickness and oxide thickness increased, the SS increased more sensitively in JLDG. Therefore, it was found that JLCSG structure is more effective to reduce the short channel effect of the nano MOSFET.

Poperties of Optically Pumped Stimulated Emission and its Polarization from an AlGaN/GaInN Double Heterostructure (AlGaN/GaInN 이중 이종접합구조의 광여기 유도방출과 편광특성)

  • Kim, Seon-Tae;Mun, Dong-Chan
    • Korean Journal of Materials Research
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    • v.5 no.4
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    • pp.420-425
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    • 1995
  • AlGaN/GaInN 이중이종접합구조(double heterostructure :DH)를 대기압 유기금속기상에 피텍셜(MOVPE)법으로 AIN 와충층을 이용하여 사파이어 기판위에 성장하고, 실온에서의 광여기법에 의한 청색영역의 단면모드 유도방출특성과 편광특성을 조사하였다. 여기광원의 광밀도가 증가함에 따라 청색 영역에서의 유도방출 피크는 낮은 에너지 쪽으로 이동하였고, 유도방출 피크파장은 여기광밀도가 200kW/$cm^{2}$일때 402nm 이었으며, 스펙트럼의 반치폭은 18meV 이었다. 또한 유도방출에 필요한 여기광밀도의 임계치는 130 kW/$cm^{2}$ 이었다. AlGaN/GaInN로부터 방출되는 유도방출 광은 임계치 이상에서 TE-mode로 편광 되었다.

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Optically Pumped Stimulated Emission from AlGaN/GaN Double-Heterostructure (AlGaN/GaN이중 이종접합구조의 광여기 유도방출 특성)

  • Kim, Seon-Tae;Mun, Dong-Chan
    • Korean Journal of Materials Research
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    • v.5 no.4
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    • pp.445-450
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    • 1995
  • AIN 완충층을 이용하여 대기압 유기금속에피텍셜 (MOVPE)법으로 사파이어 기판위에 성장시킨 AlGaN/GaN 이중 이종접합구조(double heterostructure : DH)의 고밀도 광여기에 의한 자외선 영역에서의 단면모드 유도방출 특성에 대하여 조사하였다. 실온에서 여기광 밀도 200kW/$cm^{2}$에서 방출된 AlGaN/GaN DH의 유도방출 피크파장과 반치폭은 각각 369nm와 22.4meV이었으며, 80K의 온도에서는 각각 360.1nm와 13.4meV이었다. 고밀도 광여기에 의하여 단면모드 자외영역 유도방출을 얻기에 필요한 입사광 밀도의 임계치는 실온과 80K의 온도에서 각각 89kW/$cm^{2}$와 44kW/$cm^{2}$이었다.

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A New Dual-Gate SOI LIGBT by employing Separated Shorted Anode and Floating Ohmic Contact (분리된 단락애노드와 플로팅오믹접합을 사용한 새로운 SOI 이중게이트 수평형 절연게이트바이폴라트랜지스터)

  • Ha, Min-Woo;Lee, Seung-Chul;Oh, Jae-Keun;Jeon, Byung-Chul;Han, Min-Koo;Choi, Yearn-Ik
    • Proceedings of the KIEE Conference
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    • 2001.07c
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    • pp.1343-1345
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    • 2001
  • 본 논문은 스냅백을 효과적으로 제거하고 순방향 전압 강하를 줄이는 새로운 구조의 분리된 이중 게이트 SOI SA-LIGBT를 제안하였다. 제안된 소자는 분리된 단락 애노드와 플로팅 오믹 접합의 적용을 통해 스냅백이 성공적으로 제거되었고, 순방향전압강하는 전류밀도가 100A/$cm^2$일 때 기존의 SA-LIGBT에 비교해서 2V 감소된다. 또한 턴-오프 특성도 분리된 단락 애노드를 적용하였기 때문에 SA-LIGBT보다 개선되었다.

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A Study on the Lateral Waveguiding & Beam Width Variation of DH Laser Diode (이중 헤테로 접합 레이저 다이오드의 횡방향 도파 및 빔폭 변화에 관한 연구)

  • 김은수;박한규
    • Journal of the Korean Institute of Telematics and Electronics
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    • v.20 no.1
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    • pp.15-21
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    • 1983
  • In this paper, the theoretical analysis of lateral guiding mechanism in stripe geometry Double Heterojunction Laser Diode is performed. In the analysis, the spatial variations of gain form refractive index profile are modeled by the mathematical form of injected current density and the beam width variations dependence of active layer, stripe width & cavity length have been analyzed by perturbed mode equation.

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