• Title/Summary/Keyword: 위상측정

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Acceleration of Phase Measuring Profilometry using GPU (GPU를 이용한 위상 측정법의 가속화)

  • Kim, Ho-Joong;Cho, Tai-Hoon
    • Journal of the Korea Institute of Information and Communication Engineering
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    • v.21 no.12
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    • pp.2285-2290
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    • 2017
  • Automation systems are evolving in many areas of industry in recent years. At the same time, the necessity of the height inspection of the object by the 3D measurement is gradually increasing. Among the various 3D measurement methods, this paper discusses phase measuring profilometry(PMP). The PMP is a method of obtaining the height of an object using the phase value of the fringe pattern. Since the PMP is an algorithm requiring a large amount of computation, a method for efficiently solving the problem is needed. In this paper, we propose to use CUDA from NVIDIA to solve this problem. We also propose using pinned memory and streams provided by CUDA. This can greatly improve the measurement speed while maintaining accuracy. Finally, we demonstrate the performance of the proposed method through experiments.

Particle Size Measurements Using Phase Doppler Technique (위상도플러법에 의한 입자의 크기측정)

  • 최태민;김상진;박무룡
    • Journal of the KSME
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    • v.33 no.12
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    • pp.1076-1085
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    • 1993
  • 레이저광이 가지는 지향성, 단색성, 공간적 집속성 등의 성질을 이용하는 각종 측정장치는 광섬 유의 발달과 새로운 신호처리계의 개발로 그 적용 범위가 점점 확대되고 있다. 레이저 도플러 신호의 위상차를 이용하여 운동상태의 입자의 크기와 속도를 동시에 측정할 수 있는 측정장치가 80년대에 실용화되어 캐비테이션, 분무노즐, 기름버너, 엔진연소 등 많은 분야에서 다양하게 사 용되고 있다. 이 측정방법은 Durst와 Zare에 의해 도플러 신호의 위상과 입자의 크기는 선형적인 함수 관계가 있음이 밝혀진 이래, Bachalo, Buchhave, Knuhfsen과 Olldag 등에 의해 급속히 발 전되었다. 현재 국내에도 덴마크의 단텍사, 미국의 에어로메트릭스사 등에서 개발한 장비가 3-4 기관에서 사용되고 있다. 이 글에서는 위상도플러법에 의한 입자의 크기측정에 관한 기초 이론을 참고문헌을 인용하여 설명하고, 단텍사에서 개발한 위상도플러 측정장치인 입자운동 해석장치 (PDA)를 사용하여 본 연구실에서 실험한 버너용 압력분사식 노즐에서 분사된 액적들의 국소부분 거동에 대해 소개하기로 한다.

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An Advanced Phase Angle Measurement Algorithm And Error Analysis (개선된 위상 측정 알고리즘과 오차 해석)

  • 송영석;김재철;최인규;박종식
    • Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea SC
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    • v.41 no.3
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    • pp.25-32
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    • 2004
  • An advanced algorithm for measurement of phase angle between two sinusoidal signals is proposed in this paper. This algorithm uses discrete sample data of two input signals for calculation of phase angle and amplitude. And the key parameters of the measurement algorithm are described by analytical express, so the calculation of phase angle is simplified. In this paper it is proved that harmonic distortion of the input sinusoidal signals does not affect the measurement value of phase angle by using the proposed algorithm when a whole cycle is sampled. And measurement error by the white Gaussian noise is very small compared by other algorithms.

The Phase Difference Measurement Module Development for Amplitude Modulated Range Measurement System (진폭 변조 거리 측정 시스템을 위한 정밀 위상차 측정부 개발)

  • Noh, Hyoung-Woo;Park, Jeong-Ho;Kang, Il-Heung;Choi, Mun-Gak;Kim, Kang-Wook
    • The Journal of Korean Institute of Electromagnetic Engineering and Science
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    • v.22 no.2
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    • pp.182-190
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    • 2011
  • A amplitude modulation(AM) range measuring system utilizes the phase difference of the modulated envelope of the reflected signal to measure the distance. It is known that the AM system has a problem in accuracy due to antenna leakage signals and spurious reflection signals, but an AM range measurement system using an active reflector, which shifts the frequency bands, has been proposed in order to minimize the measurement errors due to spurious signals. In this paper, a new phase measurement module for the AM range measurement system, which enables to measure long distance with good accuracy, is proposed. The modulation frequency is alternatively selected between 8 and 1 MHz, and the measured distance range with this module is up to 150 m within 2 cm accuracy. A JK flip-flop circuit is used for higher phase accuracy, and an XOR circuit is used to cover long distance.

Theoretical Analysis of Phase Detector Technique for the Measurement of Cell Membrane Capacitance During Exocytosis (세포외 분비시 막 캐패시턴스를 측정하기 위한 위상감지법(phase detector technique)의 이론적 분석.)

  • Cha, Eun-Jong;Goo, Yong-Sook;Lee, Tae-Soo
    • Progress in Medical Physics
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    • v.3 no.2
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    • pp.43-57
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    • 1992
  • Phase detector techique provides a unique probe to membrane recycling phenomenon by enabling dynamic monitoring of cell membrane capacitance. However, it has inherent errors due to constant changes in measurement environments. The present study analyzed several error sources to develope application criteria of this technique. and the following was found based on a theoretical analysis. The initial phase angle has to be appropriately selected to minimize the error due to perturbation of access and membrane conductances. Excitation frequency is also important to determine the initial phase angle. However. deviation of the phase angle from a predetermined initial value during the measurement period does not affect capacitance estimation to a significant degree. Despite an appropriate initial phase selection an error in scaling factor is expected for a large increase in capacitance during exocytosis. which may be overcome by iteratively correcting the scaling factor over the measurement period. These results will provide a useful guideline in practical application of this technique.

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Measurement of Similarity between Images Using Phase Only Correlation (위상한정상관을 이용한 화상의 유사도 측정)

  • 이충호;김응규
    • Proceedings of the Korean Information Science Society Conference
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    • 2002.10d
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    • pp.580-582
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    • 2002
  • 본 논문은 위상한정상관법을 이용하여 겹쳐진 화상이 둘 중 어떤 화상에 더 유사한 지를 정량적으로 측정하는 알고리듬을 제안한다. 제안된 알고리듬은 화상을 푸리에변환하여 위상만을 가지고 합성화상을 만든 다음 역푸리에변환을 통하여 만들어지는 위상한정상관을 가지고 유사도를 측정한다. 본 알고리듬에서는 유사도를 충분히 구분할 수 있을 정도로 상수로 설정된 진폭을 충분히 크게 하고 중심부분이외에 나타나는 피크치를 무시하고 오직 중심부분 만의 피크치를 원화상의 자기상관과 비교한다. 실험결과는 진폭을 100으로 하였을 경우 위상한정상관의 피크는 그 유사도가 1에서 0까지 변함에 따라서 100에서 40까지변하는 것을 보여 준다. 이것은 제안된 알고리듬이 위상한정상관을 이용하여 화상의 유사도를 정량적으로 효과적으로 측정하는데 사용될 수 있음을 보여준다.

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Establishment of nanometer length standardization using the monolithic x-ray interferometer (일체식 엑스선 간섭계를 이용한 나노미터 표준확립)

  • 김원경;정용환;박진원;김재완;엄천일;권대갑
    • Proceedings of the Korea Crystallographic Association Conference
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    • 2002.11a
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    • pp.35-35
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    • 2002
  • 나노미터 표준을 확립하기 위하여 일체식 엑스선 간섭계에 광간섭계를 결합시킨 복합간섭계를 구성하였다. 복합간섭계는 광간섭계의 Zero crossing 지점부터 표준시편이 올려진 미소이동대의 이동거리를 변화된 위상값으로 읽고 그 변화량을 고분해능 변위 측정기인 엑스선 간섭계로 읽어들이는 구조로 구성된다. 본 연구에서는 미소이동대의 위치 변화와 관련된 광간섭계의 위상 안정도, 엑스선 간섭계 및 미소이동대의 위치 안정도 등이 나노미터 영역의 길이 측정에 매우 중요한 요인이 되므로, 미소이동대의 위치 변화시 정지상태에서의 위상 잠김 (phase locking) 안정도를 측정하였다. 마이켈슨 레이저간섭계의 한쪽 팔을 고정시키고 다른 한 팔은 미소이동대 위에 반사거울을 설치하여 미소이동대의 움직임을 측정하였다. 보다 안정된 위상잠김 상태를 확보하기 위하여 PID feedback loop controller를 사용하였다. 측정 결과 위상 변동폭이 0.022 degree 이하의 높은 위상잠김 안정도를 확보하였으며, 이를 길이단위로 환산하면 정지상태에서 약 0.02 nm 이하의 위치 안정도를 나타낸다.

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Measurement of Refractive Index Profile of Optical Fiber Using the Diffraction Phase Microscope (회절위상현미경을 이용한 광섬유의 굴절률 프로파일 측정)

  • Jafar-Fard, Mohammad R.;Moon, Sucbei
    • Korean Journal of Optics and Photonics
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    • v.23 no.4
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    • pp.135-142
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    • 2012
  • We have developed a measurement method of the refractive index profile of an optical fiber by using diffraction phase microscopy. In the microscope system, the reference light was extracted directly from the probe light that passed through the sample by means of pinhole filtering with a diffraction grating. The spatial interference pattern produced by the probe light and the reference light was processed to generate the phase image of the sample fiber. The index profile was obtained by the inverse Abel transform of the phase profile. In order to remove the background phase that originated from the index difference between the cladding and the surrounding medium, the background phase was calculated from the phase data of the cladding to make a core phase profile that can be directly transformed to the index profile of the core without the full phase image that includes the entire cladding part.

Simultaneous Determination of Both Surface Profiles of a Bifocal Lens Using Dual-Wavelength Transmission Deflectometry With Liquid (액체와 2 파장 투과형 편향법을 이용한 다초점 렌즈 양면 프로파일 동시측정)

  • Shin, Sanghoon;Yu, Younghun
    • Korean Journal of Optics and Photonics
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    • v.26 no.3
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    • pp.147-154
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    • 2015
  • We propose a method for simultaneously measuring the front and back surface profiles of transparent optical components. The proposed method combines dual-wavelength transmission deflectometry with liquids to record distorted phases at different wavelengths, and then numerically reconstructs the three-dimensional phase information to image the front and back surfaces of the lens. We propose a theoretical model to determine the surface information, and a bifocal lens is experimentally investigated. Unlike conventional transmission deflectometry, our proposed method supports direct observation of the front and back surface profiles of the optical elements.