• Title/Summary/Keyword: 완충층

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Study on YBCO coated conductor characteristics dependent on deposition method of $CeO_2$ capping layer ($CeO_2$ capping layer의 증착 방법에 따른 YBCO coated conductor 특성 연구)

  • Yang, Joo-Saeng;Ko, Rock-Kil;Kim, Ho-Sup;Ha, Hong-Soo;Park, Yu-Mi;Song, Kyu-Jeong;Oh, Sang-Soo;Park, Chan;Jo, Wiliiam
    • Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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    • 2005.07a
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    • pp.268-269
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    • 2005
  • YBCO 박막형 초전도체(coated conductor) 제조를 위해서는 여러 층의 완충층이 필요하다. 현재 일반적인 완충층의 구조는 seed layer로써 $Y_2O_3$, diffusion barrier로 YSZ, capping layer로 $CeO_2$가 사용되고 있다. 특히, capping layer로 $CeO_2$는 YBCO와 lattice mismatch가 매우 우수한 산화물로 이용되고 있다 본 연구에서는 $CeO_2$ capping layer가 증착 방법에 따라 그 위에 증착되어지는 초전도층의 특성에 어떤 영향을 미치는지 연구하였다. $CeO_2$를 thermal evaporation과 PLD (pulsed laser deposition) 증착 방법으로 증착 한 후 그 위에 PLD 방법으로 YBCO를 증착하여 coated conductor의 성능을 평가하였다.

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Influence of Tri-Sodium Citrate on ZnS buffer layer prepared by Chemical bath deposition

  • Song, Chan-Mun;Lee, Sang-Hyeop;Eom, Tae-U;Im, Dong-Geon
    • Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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    • 2016.02a
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    • pp.405-405
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    • 2016
  • CIGS 박막 태양전지에서 완충층으로 사용되는 ZnS는 단파장 영역에서 높은 투과도와 CIGS 계면과의 좋은 접착을 가지고 친환경적이며 3.74eV의 에너지 밴드갭을 가지고 있기 때문에 CdS를 사용했을 때 보다 더 넓은 에너지 영역의 광자를 p-n 접합 경계 영역으로 통과 시킬 수 있고 Cd-free 물질이라는 점에서 기존의 CdS 완충층의 대체 물질로 각광 받고 있다. 본 연구에서는 CIGS 박막에 화학습식공정 방법을 이용하여 최적화된 ZnS 박막의 증착 조건을 찾기 위해 실험 변수인 시약의 농도, 실험온도, 열처리 조건 등의 다양한 변화를 통해 실험을 진행하였고, 박막의 갈라짐과 pin-hole 현상을 개선하고 균일한 막을 제조하기 위해 구연산 나트륨 농도에 따른 ZnS 박막의 특성을 연구하였다. 본 실험 결과로서 실험변수인 황산아연의 농도 0.15M, 암모니아는 0.3M, 티오요소 1M, 공정 온도 $80^{\circ}C$의 최적화 된 조건에서 가장 좋은 품질의 ZnS 박막을 제조하였지만, ZnS 박막의 열처리 후 산소의 양이 줄어감에 따라 박막의 표면이 갈라지고 pin-hole 현상이 발생하는 것을 확인할 수 있었다. 박막의 품질을 개선하기 위해 구연산 나트륨을 첨가하여 실험한 결과 구연산 나트륨의 0.05M의 농도에서는 박막 표면에 90nm의 갈라짐의 크기와 pin-hole 현상이 남아있는 것을 확인하였고, 농도가 높아질수록 점차 크기가 줄어들면서 0.4M에서는 갈라짐이 거의 없는 표면과 pin-hole 현상도 없어지는 것을 확인하였고, 약 144nm의 박막 두께와 3.8eV의 에너지 밴드갭을 가지고, 약 81%의 높은 광투과율을 갖는 고품질의 ZnS 박막을 제작할 수 있었다.

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Microstructure and Electrical Properties of the Pt/Pb1.1Zr0.53Ti0.47O3/PbO/Si (MFIS) Using the PbO Buffer Layer (PbO 완충층을 이용한 Pt/Pb1.1Zr0.53Ti0.47O3/PbO/Si (MFIS)의 미세구조와 전기적 특성)

  • Park, Chul-Ho;Song, Kyoung-Hwan;Son, Young-Guk
    • Journal of the Korean Ceramic Society
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    • v.42 no.2 s.273
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    • pp.104-109
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    • 2005
  • To study the role of PbO as the buffer layer, Pt/PZT/PbO/Si with the MFIS structure was deposited on the p-type (100) Si substrate by the r.f. magnetron sputtering with $Pb_{1.1}Zr_{0.53}Ti_{0.47}O_3$ and PbO targets. When PbO buffer layer was inserted between the PZT thin film and the Si substrate, the crystallization of the PZT thin films was considerably improved and the processing temperature was lowered. From the result of an X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) depth profile result, we could confirm that the substrate temperature for the layer of PbO affects the chemical states of the interface between the PbO buffer layer and the Si substrate, which results in the inter-diffusion of Pb. The MFIS with the PbO buffer layer show the improved electric properties including the high memory window and low leakage current density. In particular, the maximum value of the memory window is 2.0V under the applied voltage of 9V for the Pt/PZT(200 nm, $400^{\circ}C)/PbO(80 nm)/Si$ structures with the PbO buffer layer deposited at the substrate temperature of $300^{\circ}C$.

Effect of $CeO_2$ buffer layer thickness on superconducting properties of $YBa_2Cu_3O_{7-{\delta}}$ films grown on $Al_2O_3$ substrates ($CeO_2$ 완충층의 두께가 $Al_2O_3$ 기판 위에 성장된 $YBa_2Cu_3O_{7-{\delta}}$ 박막의 초전도 특성에 미치는 영향)

  • Lim, Hae-Ryong;Kim, In-Seon;Kim, Dong-Ho;Park, Yong-Ki;Park, Jong-Chul
    • Journal of Sensor Science and Technology
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    • v.8 no.2
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    • pp.195-201
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    • 1999
  • C-axis oriented $YBa_2Cu_3O_{7-{\delta}}$ (YBCO) thin films were grown on $Al_2O_3$ (alumina and R-plane sapphire) substrates by a pulsed laser deposition method. The crystallinity of the $CeO_2$ buffer layer on sapphire substrate exhibit a strong dependence on the deposition temperature, resulting in the growth of a-axis orientation at $800^{\circ}C$. The superconducting properties of YBCO thin films on $Al_2O_3$ substrates showed strong dependence on both thickness and crystallinity of the $CeO_2$ buffer layer. Critical temperature of YBCO film on alumina substrate was ${\sim}83\;K$. In the case of R-plane sapphire substrate,

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