New Analysis Approach to the Characteristics of Excimer Laser Annealed Polycrystalline Si Thin Film by use of the Angle wrapping (엑시며 레이저에 의해 형성된 다결정 실리콘 박막의 Angle wrapping에 의한 깊이에 따른 특성변화)
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- Korean Journal of Materials Research
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- v.8 no.10
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- pp.884-889
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- 1998