• Title/Summary/Keyword: 불량관리

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A Study on the Realtime Monitoring System of the WAFER PROCESS (WAFER PROCESS 실시간 모니터링 시스템에 관한 연구)

  • Kim, Hyo-Nam
    • Proceedings of the Korean Society of Computer Information Conference
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    • 2015.01a
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    • pp.297-298
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    • 2015
  • 반도체 제조 및 FPD제조 공정 중 WAFER 및 GLASS 제품의 상태를 직접적으로 관리하는 기술로서 기존에 널리 사용하고 있는 방법은 CHAMBER의 온도나 상태 등의 설비 컨디션 상태를 관리 모니터링 하는 것이다. 반도체 제조의 공정비용을 최소화하기 위하여 기존 방법과 달리 WAFER 및 GLASS의 온도 상태 등을 직접적으로 모니터링 하는 시스템으로 반도체 FPD제조 공정 중 장비의 개별 특성에 따라 제품의 공정 편차로 인해 발생되는 공정불량을 실시간으로 모니터링함으로서 불량을 최소화 할 수 있는 시스템을 제안한다.

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한국 증권시장의 주가과잉반응에 관한 연구

  • Jang, Gyeong-Cheon
    • The Korean Journal of Financial Management
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    • v.10 no.2
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    • pp.319-345
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    • 1993
  • 한국 증권시장에서 1986년 이후 지속적으로 상장되어진 주식들을 대상으로 하여 그 과잉반응을 살펴보았다. 월별 수익률의 변화에 의거하여 불량, 중간, 우량 포트폴리오를 구성하고 각 포트폴리오의 다음달 수익률 변화를 살펴보았다. 즉, 과잉반응 현상으로 볼 수 있는 수익률의 반전형태를 살펴보았다. 불량 포트폴리오는 다음달에 양의 초과수익을 올려 과잉반응 현상을 보인 반면 다른 포트폴리오들은 뚜렷한 현상을 보이지 않았다. 1월효과 및 규모효과를 과잉반응과 연결하여 살펴보았으나 연관성이 찾아지지는 않았다. 전체적으로 우리나라 증권시장에서는 인간의 비합리성을 가정한 주가 과잉반응 현상이 존재한다고 할 수는 없는 것으로 나타났다.

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머신비전을 이용한 자동차부품 자동검사/계측 시스템

  • Jeong, Won;Park, Seok-Hwan;Lim, Gyeong-Su;Park, Jong-Rak
    • Proceedings of the Korea Society for Industrial Systems Conference
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    • 1997.11a
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    • pp.489-501
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    • 1997
  • 국내에서 생산되는 자동차부품이 국제적으로 경쟁력을 갖춘 제품이 되기 위해서는 불량률이 적어도 100 ppm 이하가 되어야 한다. 본 연구의 목적은 검사와 계측이 동시에 필요한 자동차 부품 제조 공정에 불량률 최소화 달성을 위한 산업체의 필요에 맞도록 머신비전을 이용하여 검사/계측 자동화시스템을 개발하는 것이다. 이 시스템은 생산부품을 전수검사하고 불량품을 100% 발견하는 것은 물론 데이터를 통계적으로 분석하여 이상원인이나 공정의 변화가 있을 때 이를 빨리 발견하여 많은 불합격품이 만들어지기 전에 공정을 조사하고 수정할 수 있는 조치를 취할 수 있도록 하였다. 이는 정확한 최신 데이터로 신속한 경향관리가 가능하도록 하는 것이며, 품질의 예방관리를 실현하는 것이다. 털 논문에서는 구체적 응용사례로서 자동차 Door inner panel의 프레스 공정에 대한 검사/계측시스템을 예시하였다.

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A Study on the Deep Learning-Based Defect Prediction Model Using Sensor Data of Semiconductor Equipment (반도체 설비 센서 데이터를 활용한 딥러닝 기반의 불량예측 모델에 관한 연구)

  • Ha, Seung-Jae;Lee, Won-Suk;Gu, Kyo-Yeon;Shin, Yong-Tae
    • Proceedings of the Korea Information Processing Society Conference
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    • 2021.05a
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    • pp.459-462
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    • 2021
  • 본 연구는 반도체 제조 공정중 발생하는 센서 데이터를 활용하여 딥러닝기반으로 불량을 예측하는 모델을 제안한다. 반도체 공장에서는 FDC((Fault Detection and Classification)라는 불량을 예측하는 시스템이 있지만, 공정의 복잡도가 높고 센서의 종류가 많아 공정 관리자가 모든 센서의 기준을 설정 및 관리하는데 한계가 있다. 이를 해결하기 위해 공정 설비의 센서 데이터를 딥러닝을 활용하여 학습시켜 센서 기준정보로 임계치를 제공하고, 가공중 발생하는 센서 데이터가 입력되면 정상 여부를 판정하는 모델을 제안한다.

A Study on the Complex Target & Pre-Control Chart Apply to Lean Production (Lean 생산방식에 적합한 Complex Target & Pre-Control Chart 적용방안 연구;동일 허용공차를 생산하는 다품종 소량생산을 중심으로)

  • Shin, Heung-Sub;Ree, Sang-Bok
    • Proceedings of the Korean Society for Quality Management Conference
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    • 2007.04a
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    • pp.187-195
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    • 2007
  • 최근 우리나라에서 도요타를 벤치마킹하여 TPS를 도입하는 회사가 늘어나고 있다. 다품종 소량생산의 Lean 생산방식을 적용하기 위해서는 셋업시간의 단축 뿐만 아니라 이에 따른 셋업 품질능력이 향상되어야 한다. 따라서, 공정을 셋업하는 작업자들에게 이러한 Complex Target & Control Chart를 적용한다면, 통계적인 지식 없이도 공정의 불량을 예방 할 수 있으리라 확신한다. 이러한 관리도를 사용하여 공정능력을 향상한다면, 일본과 같은 높은 수준의 공정능력을 확보 할 수 있을 것이다. 단, 본 관리도는 현장 작업자를 위한 불량예방을 위한 품질관리 도구이며, 공정변동을 관리하기 위해서는 엔지니어 측면에서 관리도의 활용도 병행되어야 한다.

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