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'세이브더캣' 패러다임을 활용한 마블시네마틱유니버스(MCU) 영화 서사 구조 분석: 아이언맨 캐릭터를 중심으로 (Narrative Structure Analysis of Marvel Cinematic Universe(MCU) Movies Through 'Save the Cat' Paradigm with Focus on Iron Man Character)

  • 조희영
    • 한국엔터테인먼트산업학회논문지
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    • 제14권1호
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    • pp.75-89
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    • 2020
  • 마블시네마틱유니버스(MCU) 페이즈 1-3이 대단원의 막을 내림에 따라 이 성공적인 스토리텔링과 내러티브에 대한 분석이 필요한 시점이다. 본 연구는 MCU 페이즈 1-3 시기의 영화들에 있어 가장 핵심이 되는 캐릭터인 아이언맨 중심의 연속적 내러티브의 구조를 규명하기 위해 북미 및 국내에서 가장 대중적으로 활용되고 있는'세이브더캣(STC)'시나리오 작법 패러다임을 활용하여 그 실효성을 검증하였다. 110분의 표준 극영화를 기준으로 15단계의 서사 단위(beat)로 구성된 STC 패러다임을 총 러닝타임 1,066분에 달하는 8편의 영화들을 대상으로 기준 비율을 조정하여 분석하였다. 분석 결과, 조정된 STC 패러다임에서 제안하는 위치에서 15단계의 서사 단위가 적절하게 탐색되었으며, 이 탐색의 과정에서 각 서사 단위에 해당하는 극적 전환이 전체 내러티브에서 점유하는 의미를 재차 확인하는 과정을 통해 방대한 텍스트를 더욱 유기적으로 명료하게 포괄적으로 분석해낼 수 있었다. 예상대로 긴 시리즈물의 텍스트의 서사 구조를 파악하는 데 있어서도 STC 패러다임의 실효성이 입증되었기에, 향후 이러한 서사 작법 패러다임을 적용하여 다른 시리즈물을 분석하고 기획하는 데 활용할 수 있을 것으로 예상된다. 하지만 그 전에 MCU의 다른 주요 캐릭터가 중심이 된 텍스트들이라거나, MCU와 유사한 형태로 기획된 다른 영화들을 추가적으로 점검함으로써 다수의 분석 사례를 축적하고, 이러한 사례의 의의 및 문제점에 대해 다양한 논의를 이어 갈 필요가 있다.

마찰전기 발전기의 전기 효율을 향상하기 위한 macroscale 패턴 제조 방식 연구 (A novel method for manufacturing macroscale patterns to enhance electrical efficiency by Triboelectric generator)

  • 양준호;이재영
    • 에너지공학
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    • 제29권1호
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    • pp.75-84
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    • 2020
  • 본 연구에서는 간단하면서, 효과적이고, 지속가능성이 높은 3차원 프린터를 활용한 마찰 전기 발전기 제작 방식을 소개하고자 합니다. 본 연구는 매크로 사이즈의 표면 패턴을 생성하는 방식으로써, 새롭게 소개되는 마찰전기 발전기 제작 방식입니다. 모든 실험은 특별히 제작된 test-bed에서 수행되었으며, test-bed는 마찰을 일으키는 무게와 빈도수, 상대 습도 등을 조정할 수 있는 실험 환경입니다. 추가적으로, 본 연구를 통하여 본연구진은 어떠한 공정을 거치지 않은 마찰전기 발전기에 비해 공정을 거친 마찰전기 발전기가 1.6배가량 전압의 성능이 향상된 것을 확인하였습니다. 기존의 마이크로 그리고 나노 사이즈의 패턴들과 비교하여 3차원 프린터를 활용한 본 연구의 방식은 제작이 훨씬 빠르고, 용이하며, 대량 생산에 적합한 방법이 될 수 있습니다.

다중 주사 경로 회로 기판을 위한 내장된 자체 테스트 기법의 연구 (A Study on Built-In Self Test for Boards with Multiple Scan Paths)

  • 김현진;신종철;임용태;강성호
    • 전자공학회논문지C
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    • 제36C권2호
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    • pp.14-25
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    • 1999
  • 인쇄 회로 보드 수준의 테스팅을 위해 제안된 IEEE 표준 1149.1은 보드상의 테스트 지점에 대한 제어용이도와 관측용이도를 향상시켜 보드의 테스트를 용이하게 해준다. 그러나, 경계 주사 환경에서는 테스트 입력과 테스트 결과에 따른 데이터가 하나의 주사 연결에 의해서 직렬로 이동된다. 이는 테스트 적용시간을 증가시키고 따라서 테스트에 드는 비용을 증가시킨다. 테스트에 소모되는 시간을 줄이기 위해 병렬로 다중주사 경로를 구성하는 방법이 제안되었다. 하지만 이는 여분의 입출력 핀과 내선을 필요로 한다. 더구나 IEEE 표준 1149.1은 주사 경로 상에 있는 IC들의 병렬 동작을 지원하지 않기 때문에 표준에 맞게 설계하기가 어렵다. 본 논문에서는 하나의 테스트 버스로 두 개의 주사 경로를 동시에 제안하는 다중 주사 경로 접근 알고리즘에 기초하여 적은 면적 오버헤드를 가지고 빠른 시간 내에 보드를 테스트할 수 있는 새로운 보드수준의 내장된 자체 테스트 구조를 구현하였다. 제안된 내장된 자체 테스트 구조는 두 개의 주사 경로에 대한 테스트 입력과 테스트 결과를 이동시킬 수 있으므로 테스트에 소모되는 시간을 줄일 수 있고 또한 테스트 입력의 생성과 테스트 결과의 분석에 소모되는 비용을 줄일 수 있다.

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