Failure Analysis of Ferroelectric $(Bi,La)_4Ti_3O_{12}$ Capacitor in Fabricating High Density FeRAM Device
(고밀도 강유전체 메모리 소자 제작 시 발생하는 $(Bi,La)_4Ti_3O_{12}$ 커패시터의 불량 분석)
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- Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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- 2007.06a
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- pp.257-257
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- 2007