• Title/Summary/Keyword: 기술수명추정

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A Study on the Forecasting Model of Technology Life Cycles by Analysis of US Patent Citation (특허인용 분석을 통한 기술수명예측모델 개발에 관한 연구)

  • Yoo, Sun-Hi
    • Journal of Information Management
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    • v.35 no.1
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    • pp.93-112
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    • 2004
  • This study is intend to analyze the cited patent life time of US patent data via more objective way. It is based on exploratory approach which is one of various methods for technology forecasting. The life spans of cited patents of specific technological field are deduced from using informetric analysis of USPA database of KISTI, which is composed of US patent data covered from 1972 to present. The statistics of the results may help to estimate the economic life span of the specific technological area for technology valuation.

The Development of the Method of Determining Remaining Cited-patent Life Time Using the Survival Curve Analysis (생존곡선을 활용한 잔존 인용특허 수명 추정에 관한 연구)

  • Jun, Seung-Pyo;Park, Hyun-Woo;Yoo, Jae Young
    • Journal of Korea Technology Innovation Society
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    • v.15 no.4
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    • pp.745-765
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    • 2012
  • When attempting to use the income approach for the purpose of technology valuation, it is essential to identify the economic life of the technology in question. From the mid-2000s up to the present, the methods proposed by major Korean institutions for estimating the economic life of technologies have been based on cited patent life (CLT), which is one of the types of technology life. The present study utilizes cited patent life (CLT) to estimate the economic life of technology for the purpose of technology valuation, and proposes a new method of analyzing cited patent life, a method that has been improved by taking into consideration the elapsed period and the time period of investment required for commercialization, two factors which have been hitherto overlooked. Survival curve analysis is a method that has already been widely utilized to estimate the economic life of tangible assets, and this study applies the same method to the calculation of the cited patent life index of technology to provide a more objective method for determining the lifetime of a technology. The remaining life expectancy of cited patent life based on the number of elapsed years was calculated and used to determine the life expectancy of a technology that has reached a specific number of elapsed years, which is referred to as the remaining cited-patent life time (r-CLT).

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전자제어모듈의 신뢰성보증 사례

  • 정문식;박정원
    • Proceedings of the Korean Reliability Society Conference
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    • 2000.04a
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    • pp.135-143
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    • 2000
  • 일반적으로 제어시스템은 독립된 기능을 갖는 전자제어모듈들로 구성되고, 제어시스템의 보수에 있어서 최소 교체단위가 전자제어모듈이기 때문에 제어시스템의 신뢰성을 평가하는 것은 전자제어모듈의 신뢰성을 평가하는 것으로부턴 출발한다. 전자모듈의 신뢰성을 평가할 때 주로 사용하는 평가척도는 MTBF이고, 제조업체에서는 일반적으로 MIL-HDBK-217의 수명예측방법을 이용하여 산출한 MTBF를 제시하고 있다. 하지만 현장의 구매자들은 물론 전자모듈을 개발하는 엔지니어도 MIL-HDBK-217 데이터를 이용한 계산만으로 산출한 MTBF가 실제 사용할 때와 큰 차이가 없는지 확인하기를 원한다. 본 논문에서는 이러한 요구에 따라서 MIL-HDBK-217의 수명예측 방법을 이용하여 예측한 수명을 가속수명시험을 통하여 보증하는 방법을 제시하고, 제시한 방법을 실제 국내에서 제작한 2종류의 전자제어모듈에 적용한 사례를 기술하였다. 국내에서 제작한 2종류의 전자제어모듈에 대하여 본 논문에서 제시한 보증시험방법에 따라서 시험한 결과 신뢰수준 60%에서 예측 수명을 보증할 수 있었고, 보증시험 후에 수명을 추정하기 위하여 추가적으로 장시간 시험하여 수명을 추정한 결과 추정된 수명이 MIL-HDBK-217을 이용하여 예측된 수명에 비하여 2.86∼3.40배길게 나타났다.

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Bayesian Estimation of System & Component Reliability Using Masked Data (마스크 데이터를 이용한 베이지안 추정)

  • 김종걸;박창규
    • Proceedings of the Korean Reliability Society Conference
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    • 2000.11a
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    • pp.353-362
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    • 2000
  • 다양한 컴포넌트들로 구성된 시스템의 수명 데이터는 시스템 컴포넌트들의 신뢰성을 추정하는데 많이 사용된다. 하지만 비용이나 고장진단의 기술적 문제 때문에 시스템 고장의 정확한 원인을 밝혀내기는 어렵다. 시스템이나 컴포넌트의 수명 데이터 중 정확한 고장원인을 알 수 없는 데이터를 마스크 데이터라 한다. 본 연구는 마스크데이터와 베이지안 추정의 연구방향을 살펴보고, 그리고 고장률의 비정보 사전분포를 이용하여, 컴포넌트가 직렬로 구성된 시스템의 수명 데이터가 마스크 데이터를 갖는 지수분포의 시스템 컴포넌트 고장률을 추정한다.

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융합기술 가치평가 모형의 개발에 관한 연구

  • Seong, Tae-Eung;Jeon, Seung-Pyo;Park, Hyeon-U
    • Proceedings of the Korea Technology Innovation Society Conference
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    • 2017.05a
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    • pp.175-192
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    • 2017
  • 4차 산업혁명의 도래와 더불어 ICT 기계, ICT 금융, ICT 의료, ICT 나노 등과 같이 기술분야별 영역의 장벽이 허물어지고, 학제간 연구(Interdisplinary Research)가 일상화됨에 따라 무형자산의 가치평가시에도 융합기술의 가치평가 모형에 대한 니즈가 증대되고 있다. 특히, 기술의 매매, 현물출자, 기술금융(투자유치, 담보 보증), 인수 합병, 청산 소송 등 다양한 용도로 사용되고 있는 기술가치평가 모형은 융합기술의 입력변수 결정에 대한 체계적인 로직을 제공하지 못하고 있는 실정이다. 일반적으로 실제 거래사례가 존재할 경우, 국제가치평가기준(IVS)에 의하면 시장접근법이 우선적으로 적용될 수 있다고 권고된다. 그러나 융합기술의 이전거래를 비롯한 평가 활용사례를 수집하기도 어렵고 그렇다할 평가모델이 존재하지 않는 것이 사실이다. 융합기술에 대한 기술 및 시장의 사업화 환경을 고려하는 경우 소득접근법 기반의 평가기법이 유용하게 활용될 수 있는데, 기술수명, 매출액추정, 할인율, 산업기술요소 등의 핵심변수 결정에 관한 정형화된 로직이 존재하지 않으므로 본 고에서 융합기술 사례에 대해 실용적으로 활용가능한 변수추정 로직을 제시하고자 한다. 기술수명의 경우, 복수 개의 국제특허분류(IPC)별 피인용특허수에 따라 가중 적용하여 수명 추정을 위한 기준값을 정하며, 사업화소요기간 및 비용의 경우 평가대상 융합기술이 속하는 업종별 메타데이터값을 가중평균하여 현금흐름 추정기간을 최종 도출할 수 있다. 소득접근법에서의 매출추정, 할인율, 산업기술요소 변수 추정 이외에도 로열티공제법 적용을 위한 로열티율 결정에 있어서, 융합기술이 응용가능한 산업(업종)별 매출액 기반으로 가중 적용하여 각 변수값을 산출할 수 있다. 본 연구에서 개발된 융합기술 가치평가 모형은 향후 기술의 융복합화 특성을 반영하여 적정 가치를 산출하는 평가 가이드라인을 제공할 수 있을 것으로 기대된다.

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The future Research based on Reliability Analysis Using Masked Data (마스크 데이타를 이용한 신뢰성 분석의 연구방향)

  • 김종걸;박창규
    • Proceedings of the Safety Management and Science Conference
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    • 2000.11a
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    • pp.53-62
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    • 2000
  • 다양한 컴포넌트들로 구성된 시스템의 수명 데이터는 시스템 컴포넌트들의 신뢰성을 추정하는데 많이 사용된다. 하지만 비용이나 고장진단의 기술적 문제 때문에 시스템 고장의 정확한 원인을 밝혀내기는 어렵다. 시스템이나 컴포넌트의 수명 데이터 중 정확한 고장원인을 알 수 없는 데이터를 마스크 데이터라 한다. 본 연구는 마스크데이터와 베이지안 추정의 연구방향을 살펴보고, 그리고 고장률의 비정보 사전분포를 이용하여, 컴포넌트가 직렬로 구성된 시스템의 수명 데이터가 마스크 데이터를 갖는 지수분포의 시스템 컴포넌트 고장률을 추정 한다.

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An Improved Method for Estimating Technology Life Cycle Based on Cited Patent Life Time(CLT) (피인용특허수명(CLT)기반의 기술의 경제적 수명기간 산출 개선방법에 관한 연구)

  • Kim, Sanggook;Park, Hyunwoo
    • Journal of Technology Innovation
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    • v.20 no.2
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    • pp.49-74
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    • 2012
  • In this study we analyzed factors affecting the life cycle of technology, quantified the evaluation criteria that will affect the life of the individual technologies, and finally proposed the improvements to calculate technology life cycle that the properties of individual technologies are reflected based on cited-patent life time(CLT). It is expected that the methodology proposed improves the limits of the existing standard model, presents more reasonable criteria and ease of persuasion on the results derived by appraisers, and finally gives a lot of the feasibility and the usability of technology life cycle derived by the improved method to appraisers.

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SOH Estimation Method of Lithium Polymer Batteries Using OCV (리튬폴리머 배터리(LiPB)의 OCV를 이용한 배터리 SOH 추정 방법)

  • Noh, Dong-Yoon;Hwang, In-Sung;Yoo, Ji-Yoon
    • Proceedings of the KIPE Conference
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    • 2010.07a
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    • pp.269-270
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    • 2010
  • 본 논문은 리튬 폴리머 배터리(LiPB)의 OCV(Open Circuit Voltage;개방전압)를 이용한 배터리 SOH(State Of Health;잔존수명) 추정하는 방법의 제안이다. 종래에는 배터리 수명은 제조회사에서 지정된 시간이나 충방전 횟수를 기초로 수명을 결정하였다. 하지만 배터리의 온도, 충전방법, 전류변화 및 DOD(Depth of Discharge;방전심도) 정도에 따라 배터리 수명은 유동적이다. 따라서 배터리가 노후됨에 따라 OCV가 변한다는 원리를 이용하여 임피던스 분석을 통해서 SOH, 즉 배터리 잔존수명을 추정하는 기술을 제안하였다.

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