• Title/Summary/Keyword: 광학상수

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Growth and Optical Properties of PbSnSe Epilayers Grown on BaF2(111) (PbSnSe 단결정 박막의 성장과 광학적 특성)

  • Lee, Il-Hoon
    • Journal of Korean Ophthalmic Optics Society
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    • v.9 no.1
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    • pp.35-41
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    • 2004
  • This study investigated the crystal growth, crystalline structure and the basic optical properties of $PbSnSe/BaF_2$ epilayers. The PbSnSe epilayer was grown on $BaF_2$(111) insulating substrates using a hot wall epitaxy (HWE) technique. It was found from the analysis of X-ray diffraction patterns that $PbSnSe/BaF_2$ epilayer was grown single crystal with a rock-salt structure oriented along [111] the growth direction. Using Rutherford back scattering, the atomic ratios of the PbSnSe was found to be proper stoichiometric. The best values for the full width at half maximum (FWHM) of the DCXRD was 162 arcsec for PbSnSe epilayer. The epilayer-thickness dependence of the FWHM of the DCXRD shows that the quality of the $PbSnSe/BaF_2$ is as expected. The dielectric function ${\varepsilon}(E)$ of a semiconductor is closely related to its electronic energy band structure and such relation can be drawn from features around the critical points(CPs) in the optical spectra. The real and imaginary parts(${\varepsilon}1$ and ${\varepsilon}2$) of the dielectric function ${\varepsilon}$ of PbSe were measured, and the observed spectra reveal distinct structures at energies of the E1, E2 and E3 CPs. These data are analyzed using a theoretical model known as the model dielectric function (MDF). The optical constants related to dielectric function such as the complex refractive index ($n^*=n+ik$), absorption coefficient (${\alpha}$) and normal-incidence reflectivity (R) are also presented for $PbSnSe/BaF_2$.

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Surface profile measurement with optically trapped micro-particles (광포획된 마이크로 입자를 이용한 표면형상 측정)

  • 주지영;김준식;김승우
    • Proceedings of the Optical Society of Korea Conference
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    • 2001.02a
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    • pp.116-117
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    • 2001
  • 정밀 삼차원 미세 형상 측정기에서 성능의 관건은 고속, 고분해능으로 측정하는 것이다. 그러기 위해서는 공진주파수가 높아야 하고 스프링 상수가 작아야 한다. 광포획 현미경(optical trap microscope, OTM)은 광포획 된 마이크로 입자를 프로브로 사용하는 것으로 입자에 작용하는 복원력이 광에 의한 힘뿐이므로 스프링 상수가 낮다. 또한 공진주파수는 f=√k/m 으로 입자의 질량이 매우 작으므로 공진주파수도 비교적 높다. (중략)

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Korea Astronomy Observatory 1 m Telescope Its Opto-mechanical Characteristics and Performance (한국천문연구원 1 m 망원경 광학 기계부 설계 제작 및 성능 소개)

  • 한인우;장정균;김한철
    • Proceedings of the Optical Society of Korea Conference
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    • 2000.02a
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    • pp.210-211
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    • 2000
  • 한국천문연구원에서는 1 m 망원경을 국내 기술로 설계 제작하여 현재 시험 관측을 수행하고 있다. 이 망원경은 가대는 경위도식이고 광학계는 Ritchey-Chretien 형 망원경이다. Ritchey-Chretien 형은 구면 수차와 코마 수차가 없는 광학계로서 대부분의 천문 연구 망원경이 Ritchey-Chretien 형으로 제작되고 있다. 원래의 광학계 설계는 합성초점비가 F/10, 주경 곡률 반경이 5,700 mm로 설계하였으나 주경 가공 과정에서 주경의 곡률 반경과 원뿔상수 (conic constant)가 설계치와 차이가 발생하여, 이에 맞추어 전체 시스템 설계를 변경하였다. 최종 완성된 망원경의 광학계 설계 수치는 아래 표와 같다. (중략)

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Determination of Optical Constants and Observation of Patterns of Dielectric Thin Films Using Surface Plasmon Resonance (표면 플라즈몬 공명을 이용한 유전체 박막의 광학 상수 결정과 형상 측정)

  • 황보창권;김성화;이규진
    • Korean Journal of Optics and Photonics
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    • v.3 no.4
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    • pp.205-216
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    • 1992
  • Distribution of electric fields of surface plasmons at resonance and off-resonance angles were calculated and compared. As applications of surface plasmon resonance, (1) optical constants of ZnS films overcoated on Ag films were measured as the thickness of ZnS films increased, (2) four surface plasmon resonances distributed spatially due to the different thickness of SiO thin films overcoated on Ag films were observed in a picture frame by employing diverging waves of incidence, and (3) patterns of SiO thin films such as a grating and a character "가" overcoated on Ag films were measured by employing collimated waves of incidence.

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임계 혼합 용액에서의 DC Kerr 효과

  • 강동철;이재형;장준성
    • Proceedings of the Optical Society of Korea Conference
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    • 1988.06a
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    • pp.82-85
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    • 1988
  • 임계 연계용액에서의 DC Kerr 효과를 측정하고 임계온도 근처에서 Kerr상수가 발산하는 등의 임계 현상이 나타남을 관측하고 임계지수를 측정한다. 이로부터 현상학적 모델인 방울모델(droplet model) 의 타당성을 조사한다.

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Optical methods for Particle Size and Temperature Measurements (입자크기 및 온도측정을 위한 광학적 방법)

  • 김상수;서용재
    • Journal of the KSME
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    • v.33 no.12
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    • pp.1069-1075
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    • 1993
  • 측정기술이 발달함에 따라 실제 연소시스템에서 직접 응용할 수 있고, 시공간적으로 해상도가 높고 유동장과 온도장을 교란하지 않는 방법이 요구되고 있다. 이 글에서는 2장에서 광학적 방 법을 이용한 입자의 크기 측정법을 살펴보고, 3장에서는 광학적 방법을 이용한 온도의 측정법에 대하여 설명하고자 한다.

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