• Title/Summary/Keyword: 광정렬

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Aberration effects on white light interferometry (광학계 수차에 의한 백색광 간섭계의 측정 오차에 대한 연구)

  • 박민철;김승우
    • Korean Journal of Optics and Photonics
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    • v.12 no.5
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    • pp.362-370
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    • 2001
  • We prove that 3-D profile mapping using white light interferometry has systematic errors caused by aberrations of the optimal system. The tilt of an object invokes an offset between the object and the reference ray, which eventually makes the aberration cancel incompletely. The fringe peak of a white light interferogram is mainly affected by the aberration effect while the envelope peak remains stable. By the difference between the two peaks, it is easily confirmed how much the error existed in the fringe peak. Experimental results prove that the error caused by aberration is varied by object tilt, microscope NA, optics alignment within the range of $\pm$50nm.

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X-ray propagation in photonic crystal structured X-ray waveguides (광자결정 구조를 갖는 X-선 도파로에서 X-선 도파현상)

  • 윤형근;김진채;이병하;최재호;박영한
    • Proceedings of the Optical Society of Korea Conference
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    • 2002.07a
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    • pp.164-165
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    • 2002
  • 광자결정 광섬유(photonic crystal fiber)는 주기적으로 배열된 공기기둥이 광섬유의 길이 방향으로 정렬되어 일반광섬유의 크래팅의 역할을 하고 있고 코어는 이들 공기구멍의 중심부에 인위적인 결함을 만들어 광도파가 가능하게 된다 이러한 광자결정 광섬유의 광학적 특성은 넓은 영역에 걸친 단일 모드 특성, 특이한 모드분산 강한 비선형 등의 기존의 광섬유와는 다른 광특성이 보고되고 있으며 테라 헐즈 펄스 도파가 보고되는 등 그 응용 영역을 넓히고 있다. (중략)

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Velocity Measurement of Moving Object Using the Semiconductor Laser LDV (반도체 레이저 LDV를 이용한 회전체의 속도측정)

  • 이병욱;황대석;최종운;김용평
    • Proceedings of the Optical Society of Korea Conference
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    • 2000.02a
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    • pp.226-227
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    • 2000
  • Laser Doppler velocimeters: (LDV)$^{1)}$ 의 대부분의 기본원리는 호모다인(honodyne)방법을 사용한다. 호모다인 방법 중에서 많이 사용되는 방법으로는 마이켈슨 간섭계식과 되먹임식(self-mixing type)$^{2)}$ 이 있다. 마이켈슨 간섭계식은 구성하는데는 많은 광학부품과 정밀한 정렬 장치들을 필요로 한다. 반면에 되먹임식은 레이저 공진기의 고유 주파수와 도플러 이동된 산란광을 공진기 속에서 자체 혼합하여 발생한 차주파수를 레이저 공진기 내부에 있는 pin-photodiode로 측정하므로 마이켈슨 간섭계에 비하여 간단한 장치로 속도계를 구성할 수 있다. (중략)

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페룰가공용 다이아몬드 드레싱 장치의 특성에 관한 연구

  • 천영재;이은상
    • Proceedings of the Korean Society of Precision Engineering Conference
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    • 2004.05a
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    • pp.266-266
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    • 2004
  • 광통신 커넥터 핵심 부품인 페룰(Ferrule)은 광통신의 주요한 커넥터 부품으로 사용되며 슬리브내에서 페룰을 서로 맞대어 광섬유론 정렬하는데 사용이 된다. 광섬유의 맞대기가 정확하고 광학 특성에 영향을 주지 않도록 하기 위해서는 페룰의 외경과 표면의 초정밀 가공이 주요한 품질 특성이 된다. 페룰은 고경도 난삭재의 소구경 세라믹 재질이며 이의 가공을 위해서는 다이아몬드 연삭숫돌을 이용한 무심연삭(centerless grinding) 장치를 사용한다.(중략)

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Hamming Group ECC based on DCW(Dual Constant Weights) Modulation Code (DCW부호를 이용한 Hamming Group ECC)

  • 강병복;노재우;김근율;정흥상
    • Proceedings of the Optical Society of Korea Conference
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    • 2001.02a
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    • pp.64-65
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    • 2001
  • HDDS(Holographic Digital Data Storage) 시스템에서 저장밀도가 증가함에 따라서 기록/재생된 데이터는 중첩된 페이지 사이의 간섭과 인접 픽셀간의 간섭에서 기인하는 ISI (Intersymbol Interference) 및 Speckle 잡음을 포함하는 Random Noise와 광학 수차, 광학정렬 오차 및 Laser 광원의 비균일 광강도 분포 등에서 기인하는 Non- random Noise 등 다양한 시스템 잡음에 의해서 BER 이 급격히 저하되는 문제가 발생된다. 113 이러한 문제점을 해소하고 시스템의 기록/재생 데이터 신뢰도를 확보하기 위해서는 적절한 광신호처리 기법과 coding 기법이 도입되어야만 한다. (중략)

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Error compensation in the optical 3D phase measuring profilometry (광위상 3차원 형상 측정법에서의 오차보정)

  • 황용선;강영준;백성훈;박승규;임창환
    • Proceedings of the Optical Society of Korea Conference
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    • 2003.07a
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    • pp.154-155
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    • 2003
  • PMP(Phase Measuring Profilometry)측정법은 투영계와 기록계의 기하학적 구성과 광학계의 정렬적인 문제에 의해서 기본적으로 오차를 가지고 측정된다. 일반적으로 PMP 형상 측정에서 측정면과 광학계의 높이가 피 측정면에 비해서 상당히 큰 경우, CCD 카메라에서 높이 방향으로 측정영역이 작아지게됨으로써 측정위상이 기준면에서의 위치와 높이 방향에 따라서 다르게 나타나고 프로젝터가 측정면에 투영되는 간섭무의의 피치가 다르게 적용된다. (중략)

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Design and Analysis of a Segmented Mode Size Converter with Short Taper Length (?은 테이퍼 길이를 가지는 분리형 모드 크기 변환기의 설계 및 분석)

  • 박보근;정영철
    • Proceedings of the Optical Society of Korea Conference
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    • 2003.07a
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    • pp.208-209
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    • 2003
  • 고밀도 광집적회로의 광도파로는 단일모드 광섬유와 굴절률의 차이 및 코어 크기에 의해 모드 부정합 문제가 존재한다. 본 논문은 이러한 모드 부정합 문제를 해결할 수 있는 모드 크기 변환기를 설계 하고 3-D Beam Propagation Method (BPM)을 이용하여 분석하였다. 모드 크기 변환기술에는 마이크로 렌즈, 테이퍼 광섬유, 렌즈화 광섬유가 사용되고 있으나 이는 패키징 가격이 높으며 광섬유와의 정렬 문제가 존재하므로, 집적된 실리콘 기판위에 제작하는 모드 크기 변환기에 대한 연구가 다각도에서 시도되고 있다. (중략)

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Measurement of Tensile Properties for Thin Aluminium Film by Using White Light Interferometer (백색광간섭계를 이용한 알루미늄 박막의 인장 물성 측정)

  • Kim, Sang-Kyo;Oh, Chung-Seog;Lee, Hak-Joo
    • Journal of the Korean Society for Nondestructive Testing
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    • v.30 no.5
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    • pp.471-478
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    • 2010
  • Thin films play an important role in many technological applications including microelectronic devices, magnetic storage media, MEMS and surface coatings. It is well known that a thin film's material properties can be very different from the corresponding bulk properties and thus there has been a strong need for the development of a reliable test method to measure the mechanical properties of a thin film. We have developed an alternative and convenient test method to overcome the limitations of previous membrane deflection experiment and uniaxial tensile test by adopting a white light interferometer having sub-nanometer out-of-plane displacement resolution. The freestanding aluminium specimens are tested to verity the effectiveness of the test method developed and get the tensile properties. The specimens are 0.5 rum wide, $1{\mu}m$ thick and fabricated through MEMS processes including sputtering. 1 to 5 specimens are fabricated on Si dies. The membrane deflection experiments are carried out by using a homemade tester consisted of a motor-driven loading tip, a load cell, and 6 DOF alignment stages. The test system is compact enough to set it up beneath a commercial white light interferometric microscope. The white light fringes are utilized to align a specimen with the tester. The Young's modulus and yield point stress of the aluminium film are 62 GPa and 247 MPa, respectively.

Evaluation of Rededge-M Camera for Water Color Observation after Image Preprocessing (영상 전처리 수행을 통한 Rededge-M 카메라의 수색 관측에의 활용성 검토)

  • Kim, Wonkook;Roh, Sang-Hyun;Moon, Yongseon;Jung, Sunghun
    • Journal of the Korean Society of Surveying, Geodesy, Photogrammetry and Cartography
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    • v.37 no.3
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    • pp.167-175
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    • 2019
  • Water color analysis allows non-destructive estimation of abundance of optically active water constituents in the water body. Recently, there have been increasing needs for light-weighted multispectral cameras that can be integrated with low altitude unmanned platforms such as drones, autonomous vehicles, and heli-kites, for the water color analysis by spectroradiometers. This study performs the preprocessing of the Micasense Rededge-M camera which recently receives a growing attention from the earth observation community for its handiness and applicability for local environment monitoring, and investigates the applicability of Rededge-M data for water color analysis. The Vignette correction and the band alignment were conducted for the radiometric image data from Rededge-M, and the sky, water, and solar radiation essential for the water color analysis, and the resultant remote sensing reflectance were validated with an independent hyperspectral instrument, TriOS RAMSES. The experiment shows that Rededge-M generally satisfies the basic performance criteria for water color analysis, although noticeable differences are observed in the blue (475 nm) and the near-infrared (840 nm) band compared with RAMSES.

금 나노패턴을 이용한 서브파장구조를 가진 광대역 무반사 글래스의 제작 및 특성

  • Im, Jeong-U;Lee, Su-Hyeon;Guan, Xiang-Yu;Kim, Jeong-Tae;Jeong, Gwan-Su;Yu, Jae-Su
    • Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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    • 2014.02a
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    • pp.279.1-279.1
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    • 2014
  • 글래스(glass), 폴리머 또는 쿼츠와 같은 투명기판은 렌즈, 디스플레이, 광검출기, 광센서, 발광다이오드 및 태양전지와 같은 광 및 광전소자 분야에서 널리 사용되고 있다. 이러한 소자들의 경우, 광추출 또는 광흡수 효율을 향상시키는 것이 매우 중요하다. 그러나 투명기판의 경우, 약 1.5의 굴절율로 인해 표면에서 4% 반사가 발생되는데, 이러한 광학적 손실은 소자의 성능을 저하시키는 원인이 된다. 따라서, 글래스와 공기 경계면에서 발생되는 광손실을 줄이기 위한 효율적인 무반사 코팅이 필요하다. 최근, 우수한 내구성 뿐만 아니라, 광대역 파장 및 다방향성에서 무반사 특성을 보이는 서브파장 주기를 갖는 나노구조(subwavelength structures)의 형성 및 제작 공정에 관한 연구가 보고되고 있다. 이러한 나노구조는 경사 굴절율 분포를 가지는 유효 매질을 형성하기 때문에 투명기판 표면에서의 Fresnel 반사로 인한 광손실을 줄일 수 있다. 또한, 무반사 서브파장구조를 형성하기 위한 패터닝 방법으로, 간단/저렴하고 대면적 제작이 용이한 열적 응집 공정을 이용한 자가정렬된 금속 나노입자 형성 기술이 널리 사용되고 있다. 따라서 본 실험에서는 열적 응집현상에 의해 형성된 비주기적 금 나노입자 식각 마스크 패턴 및 유도결합 플라즈마 장비를 이용하여 글래스 기판 위에 무반사 서브파장 나노구조를 제작하였다. 금 나노패턴 및 제작된 글래스 서브파장 나노구조의 식각 프로파일은 주사전자현미경을 사용하여 관찰하였으며, UV-Vis-NIR 스펙트로미터를 사용하여 빛의 투과율을 측정하였다. 또한, 제작된 샘플들에 대해서, 표면 접촉각 측정 장비를 이용하여 표면 wettability를 조사하였다.

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