본 연구에서는 포도송이를 절개하지 않고 광학적인 방법으로 당도를 측정하였다. 광원으로는 $615{\sim}635nm$ 파장 대역의 LED를 사용하였다. 포도의 당도는 안토시아닌의 분포량에 의해 결정되는데 적포도의 경우 적색이 강할수록 안토시아닌이 많이 분포되어있다. 측정 결과 적색을 많이 띠는 적포도의 경우 광 강도가 낮은 것을 확인하였다. 또한 광학적인 방법으로 측정된 광 강도와 당도계로 얻어진 당도를 비교 분석하였다. 그 결과 포도송이의 당도에 따른 상대적 광 강도를 확인하였다.
쇠고기에서 마블링 및 살코기의 분포량은 육질 판별에 있어서 중요한 척도 중의 하나이다. 쇠고기의 분광학적 스펙트럼 및 영상 처리에 의한 쇠고기의 마블링의 분포를 측정 하였다. 쇠고기 Sample (a), (b), (c)의 광학적 측정에 의한 광의 강도 변화를 측정하였으며, 약 730nm대역에서 마블링 및 근육의 분포 변화에 따라, 광 강도의 변화를 갖는 것을 볼 수 있다. 분광법에 의해서 측정한 결과 값을 영상처리에 의한 마블링의 양을 비교하여 분광법에 의한 쇠고기의 마블링 분포량을 나타내었다.
CCD의 입력면에서의 물체광과 참조광의 간섭을 수치적 방법으로 생성한 광 강도 분포 홀로그램을 대상으로 퓨리어 변환방법을 이용한 0차 회절광의 제거를 전산 모사 방법으로 구현하였고, 0차 회절광 성분이 제거된 광 강도 분포와 위상을 갖는 홀로그램을 생성하였다. 그리고 그 결과를 수치적 재생 방법을 사용하여 0차 회절광 성분의 제거를 확인하였다. 그리고 퓨리어 변환 방법에 의한 0차 회절광 성분이 제거된 위상홀로그램의 생성이 가능하다. 0차 회절광을 제거하기 위한 제거 함수를 도입하였고 제거 영역에 따른 0차 회절광의 제거와 재생되는 실상의 정보 손실 정도를 비교하였고, 기존의 방법에 비하여 효과적임을 증명하였다.
엑스선형광분석은 비파괴적으로 시료에 포함된 원소와 농도를 분석할 수 있는 기법으로 과학 및 산업 분야에 광범위하게 사용되고 있다. 다양한 물질을 포함한 혼합물 또는 화합물 분석의 정밀도 향상을 위해 10 keV 근방의 저에너지와 20 keV 근방의 에너지 영역에 높은 강도 분포를 갖는 엑스선관이 요구된다. 두 에너지 영역에서 높은 강도 분포를 갖는 스펙트럼을 얻기 위하여 9.65 keV의 특성엑스선을 가지는 텅스텐과 17.48 keV의 몰리브덴 두 물질을 적층한 구조의 표적을 가지는 투과형 엑스선관을 몬테카를로 전산모사를 통해 스펙트럼을 분석하였다. W-Mo 구조의 표적을 통해 10 keV와 20 keV 근방의 강한 강도를 갖는 특성엑스선을 얻었다. 또한 4 ㎛ 두께의 Mo-W multilayers 구조의 표적을 통해 최적의 강도 분포를 갖는 스펙트럼을 얻을 수 있음을 확인하였다. 다양한 표적 물질을 선택 조합하고 두께 최적화를 통해 원하는 에너지 대역에서 높은 강도 분포를 갖는 스펙트럼을 얻는 것이 가능하다.
LED 광중합기(Elipar FreeLight, 3M-ESPE)와 할로겐 광중합기(VIP Bisco)로 광조사한 수종의 상아질 접착제에 대해서 상아질 전단접착강도를 비교하였다 또한 이번 연구의 광학적 근거를 얻기 위해 두 광중합기의 파장에 따른 광강도와 스펙트럼을 비교하였다. 이번 연구에서 사용된 상아질 접착제는 Scotchbond Multipurpose (3M ESPE), Single Bond (3M ESPE). One-Step (Bisco), Clearfil SE Bond (Kuraray), Adper Prompt (3M ESPE) 이다. VIP는 487 nm에서 최대정점을 가지는 넓은 스펙트럼의 분포를 보이는 반면에, Elipar FreeLight는 465 nm에서의 최대정점을 중심으로 좁은 스펙트럼의 분포를 보였다. Clearfil SE bond를 제외하고 할로겐과 LED로 광조사 한 각 상아질 접착제에서 상아질 전단접착강도값의 유의성 있는 차이는 보이지 않았다 (P > 0.05). 이러한 결과는 camphoroquinone의 흡수스펙트럼과 LED의 좁은 영역의 스펙트럼사이에 강한 연관성으로 설명할 수 있다.
PLLIF(Planar Laser Liquid Induced Fluorescence) 기법은 분무장을 교란시키지 않고 고해상도의 2차원 질량분포를 빠르게 측정할 수 있기 때문에 기존의 기계적인 분무 분포 측정방법의 한계를 극복하였을 뿐만 아니라 접근이 불가능하였던 인젝터 근방의 분무에 대한 중요한 정보를 제공하고 있다. 그러나 레이저 광을 받은 액적에 의한 산란광의 강도가 클 경우에는 인접한 액적들을 형광시킬 수 있고 액적의 형광신호가 액적들을 통과하면서 감쇠되는 이차산란에 의한 오차는 PLLIF 기법의 정량화에 가장 큰 난점으로 인식되고 있다. 특히 이러한 현상은 분무 분포의 밀도가 높고 액적의 크기가 클수록 강하게 나타나는데, 액체로켓에서 일반적으로 사용되고 있는 like-doublet 인젝터는 이러한 분무 특성을 갖는다. 따라서 Mechanical Patternator 및 PDPA(Phase Doppler Particle Analyzer)로부터 측정한 like-doublet 인젝터의 분무 질량 분포 결과와 비교하여 이차산란에 의한 오차를 파악하여 PLLIF 기법의 적용 가능성을 진단하였다.
입사 광량과 동공 직경의 관계는 Stiles-Crawford 효과에 의해서 동의 중앙에서 가장자리로 갈수록 입사 광량이 감소하는 경향을 갖는다. 본 논문에서는 여러 가지 영향에 의하여 임의의 방향으로 입사광의 실수 진폭 분포가 편위되었을 때 상면에서의 착락원 형태 변화를 조사하였다. 입사광의 실수 진폭 분포가 편위되지 않았을 때는 상면에서 착락원은 원형 대칭성을 나타냈지만 입사광의 실수 진폭 분포가 편위되었을 때는 상면에서의 착락원 형태는 비대칭의 타원 형태로 변화되었다. 또한 입사광의 실수 진폭 분포의 편위 방향과 상면에서 착락원의 장축 방향이 일치하였으며 입사광의 실수 진폭 분포의 편위 방향이 서로 반대 방향(${\Delta}{\phi}$와 ${\Delta}{\phi}+{\pi}$)일지라도 상면에서의 강도 분포와 착락원의 형태는 동일하게 나타나 상질에 동일한 영향을 미침을 알 수 있었다.
반사광은 표면에 대한 다양한 정보를 포함하고 있다. 반사광 속에서 표면의 거칠기 정보를 알아내 기 위한 노력이 계속되었고, 이를 통해 여러 표면 거칠기 측정법 중에서도 인프로세스 측정에 큰 장 점이 있는 것으로 밝혀졌다. 알려진 바로는 하나의 반사광을 정반사 성분와 난반사 성분으로 구분할 수 있으며 정반사 성분은 광 강도가, 난반사 성분은 광 분포가 중요하다. 매끈한 면에서는 정반사 성분이 지배적이며, 거친 면에서는 난반사 성분이 지배적이고, 그 중간 단계의 면에서는 두 성분이 합해져서 동시에 나타난다.(중략)
대기 중 에어로졸 입자의 크기 분포를 측정하는 기기 중 광학적 입자 계수기(Optical Particle Counter)는 0.3$\mu\textrm{m}$에서 25$\mu\textrm{m}$ 사이의 입자의 크기를 개개의 입자에 대한 산란광의 강도를 측정하여 그 강도와 미리 정해진 강도와의 관계에 의해 입자의 크기를 추정한다(Chun et al., 2001). 본 연구에서는 2001년 4월 제주 고산에서 실시된 ACE-Asia(Asian Pacific Regional Aerosol Characterization Experiment) 집중 관측 기간 중 광학적 입자 계수기(Optical Particle Counter; HIAC/ROYCO 5230)를 이용하여 측정한 이 기간 중 에어로졸 입자의 크기 분포의 특성을 황사시와 비황사시, 그리고 강수시와 비강수시로 나누고 그 특징을 비교하여 보았다. (중략)
HDDS(Holographic Digital Data Storage) 시스템에서 저장밀도가 증가함에 따라서 기록/재생된 데이터는 중첩된 페이지 사이의 간섭과 인접 픽셀간의 간섭에서 기인하는 ISI (Intersymbol Interference) 및 Speckle 잡음을 포함하는 Random Noise와 광학 수차, 광학정렬 오차 및 Laser 광원의 비균일 광강도 분포 등에서 기인하는 Non- random Noise 등 다양한 시스템 잡음에 의해서 BER 이 급격히 저하되는 문제가 발생된다. 113 이러한 문제점을 해소하고 시스템의 기록/재생 데이터 신뢰도를 확보하기 위해서는 적절한 광신호처리 기법과 coding 기법이 도입되어야만 한다. (중략)
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[게시일 2004년 10월 1일]
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