• Title/Summary/Keyword: 결함 성장

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Effect of Substrate Surface Roughness Modified by Nitridation on GaN Growth (질화처리에 의한 기판 평면 평활도의 변화가 GaN 성장에 미치는 영향)

  • Jeong, Jae-Sik;Byeon, Dong-Jin;Kim, Byeong-Hwa;Lee, Jae-In;Yu, Ji-Beom;Geum, Dong-Hwa
    • Korean Journal of Materials Research
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    • v.7 no.11
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    • pp.986-990
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    • 1997
  • LED와 LD의 수명과 효율은 결정에 존재하는 결함의 밀도에 반비례하며, 이러한 결함의 밀도는 적당한 기판을 사용하거나, 기판의 표면을 적절하게 제어함으로써 줄일 수 있다. GaN성장시 원자 단위의 매끄러운 표면은 완충충 성장이나 질화처리를 함으로써 얻어질 수 있다. 이렇게 얻어진 원자 단위의 매끄러운 표면에 의해 기판과 박막상이의 계면 자유에너지가 감소하기 때문에 2D성장이 촉진된다. 사파이어(AI$_{2}$O$_{3}$(0001))기판을 사용한 GaN 왕충충성장과 진화처리에 대한 최적조건은 AFM(Atomic Force Microscope)측정 결과에 의해 결정되었다. AFM에 의해 얻어진 표면 평활도의 개념은 사파이어 기판을 사용한 GaN박막성장의 최적조건을 결정하는 데 있어서 높은 신뢰도를 가질 수 있다.

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3단계 동시진공증발공정에 의해 성장된 CIGS 광흡수층 박막에 대한 Se Flux의 영향

  • Lee, Min-Ji;Gwak, Ji-Hye;Yun, Jae-Ho;An, Se-Jin;Jo, A-Ra;An, Seung-Gyu;Sin, Gi-Sik;Yun, Gyeong-Hun;Kim, Do-Jin
    • Proceedings of the Materials Research Society of Korea Conference
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    • 2011.05a
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    • pp.43.1-43.1
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    • 2011
  • Cu(In,Ga)$Se_2$, $CuInS_2$ 등의 CIS계 화합물 박막 소재를 활용한 태양전지는 높은 광흡수 계수, 상대적으로 높은 변환 효율 및 미래의 잠재적 변환 효율, 화학적 안정성, 도시적인 미관 등의 장점으로 인하여 활발한 연구 및 양산화가 진행 중에 있다. CIGS 박막 태양전지 내에서 광생성된 캐리어들의 재결합 메커니즘을 이해하고 태양에너지의 변환 중 에너지 손실을 더욱 줄이기 위해서는 CIGS 태양전지의 결함 특성에 대한 규명이 중요하며, 이차상의 분리, 셀렌화, Na 확산 등과 같이 CIGS 화합물 박막이 성장하는 동안 일어나는 현상들과 결함발생 사이의 관계에 대한 체계적인 연구가 필수적이다. 특히, CIGS 박막 성장 공정 중 Se flux는 CIGS 막의 성장과 소자의 전기적 파라미터에 영향을 미치므로, Se 조절 및 이에 관련된 결함들을 이해하는 것은 CIGS 박막 태양전지의 전기적 특성을 향상시키는 중요한 열쇠가 된다. 본 연구에서는 3단계 동시증발공정을 이용하여 CIGS 박막 태양전지를 제조 분석하여, 공정 중기판온도 및 Se flux가 CIGS 박막 성장에 미치는 영향을 파악하고자 하였으며, 이를 통한 공정조건 최적화로 CIGS 박막 태양전지의 특성을 향상시키고 고효율을 달성할 수 있음을 확인하였다.

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6H-SiC single crystal growth by the sublimation method : (II) the analysis of internal defects (승화법에 의한 6H-SiC 단결정 성장 : (II) 내부 결함 해석)

  • Kim, Hwa-Mok;Kang, Seung-Min;Joo, Kyoung;Shim, Kwang-Bo;Auh, Keun-Ho
    • Journal of the Korean Crystal Growth and Crystal Technology
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    • v.7 no.2
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    • pp.191-196
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    • 1997
  • The micro-defects in the SiC single crystals were characterized using a variety of the microscopic techniques (OM, TEM, AFM). It was observed that the hexagonal-plate precipitates and the longitudinal micropipes are present inside of SiC wafers. TEM results exhibited that there are amorphous phase in the SiC wafer and the phase were originated from the formation of the nonstoichiometric $Si_{1-x}_xC_x$ phases during growth process.

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Marangoni Convection Effects on Crystal Growth (결정 성장에서 Marangoni 대류의 영향)

  • 강승민;최종건;오근호
    • Journal of the Korean Crystal Growth and Crystal Technology
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    • v.2 no.2
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    • pp.77-82
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    • 1992
  • When a crystal is grown by FZ process, the melt zone is located at between the solid of upper and lower side and is kept by the solid-liquid interface tension. On the surface of the melt zone, a surface tension gradient is occured by the difference of temperature and solute concentration, it is the driving force of marangoni flow. The crystal even in the steady state growth can become imperfect for the dislocation distribution and the solute concentration in the peripheral region of the crystal are higher than those in the inner part and the probability of the formation of the defects such as voids, bubble penetration, secondary phase creation and crack is high near the solid-liquid interface. This is because the solid -liquid interface becomes irregular because of the local variation of temperature in that region due to marangoni convection.

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A Coverage-Based Software Reliability Growth Model for Imperfect Fault Detection and Repeated Construct Execution (불완전 결함 발견과 구문 반복 실행을 고려한 커버리지 기반 신뢰성 성장 모형)

  • Park, Joong-Yang;Park, Jae-Heung;Kim, Young-Soon
    • The KIPS Transactions:PartD
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    • v.11D no.6
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    • pp.1287-1294
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    • 2004
  • Recently relationships between reliability measures and the coverage have been developed for evaluation of software reliability. Particularly the mean value function of the coverage-based software reliability growth model is important because of its key role in rep-resenting the software reliability growth. In this paper, we first review the problems of the existing mean value functions with respect to the assumptions on which they are based. Then a new mean value function is proposed. The new mean value function is developed for a general testing environment in which imperfect fault detection and repeated construct execution are allowed. Finally performance of the proposed model is empirically evaluated by applying it to a real data set.

Software Reliability Growth Models considering an Imperfect Debugging environments (불완전 디버깅 환경을 고려한 소프트웨어 신뢰도 성장모델)

  • 이재기;이규욱;김창봉;남상식
    • The Journal of Korean Institute of Communications and Information Sciences
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    • v.29 no.6A
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    • pp.589-599
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    • 2004
  • Most models assume the complete debugging environments by requiring a complete software correction in quantitative evaluation of software reliability. But, in many case, new faults are involved in debugging works, for complete software correction is impossible. In this paper, software growth model is proposed about incomplete debugging environments by considering the possibility of new faults involvements, and software faults occurrence status are also mentioned about NHPP by considering software faults under software operation environments and native faults owing to the randomly involved faults in operation before test. While, effective quantitative measurements are derived in software reliability evaluation, applied results are suggested by using actual data, and fitnesswith existing models are also compared and analyzed.

Growth of Civic Organizations in South Korea (한국 시민단체의 성장에 대한 양적 연구)

  • Shin, Dong-Joon;Kim, Kwang-Soo;Kim, Jae-On
    • Survey Research
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    • v.6 no.2
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    • pp.75-101
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    • 2005
  • This study introduces and analyzes the data from Directory of Korean NGOs, which was published in 1997 and again in 200, to conduct a quantitative research on the growth of civic organization in South Korea. This paper focus on the information on membership size and founding year which are essential indicators for the growth of organizations. Missing rates on those two indicators are checked to evaluate the quality of data. We examine the changes in membership size between the two time periods, 1996 and 1999. It shows that there is a considerable decrease in the membership size for civic and advocary organizations that are oriented to national issues. It suggests the competition among the organizations over limited resources, which is consistent with an assumption of ecological theory of organization on non-linear growth pattern. Using founding year data from 1945 to 1996, we estimate pseudo growth curves of civic organizations based on logistic growth curve model to discuss different growth patterns of organizations across areas of activities.

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CVD를 이용한 산화아연 (ZnO) 나노구조 형성 및 특성평가

  • Kim, Jae-Su;Jo, Byeong-Gu;Lee, Gwang-Jae;Park, Dong-U;Kim, Hyeon-Jun;Kim, Jin-Su;Kim, Yong-Hwan;Min, Gyeong-In;Jeong, Hyeon;Jeong, Mun-Seok
    • Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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    • 2010.02a
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    • pp.179-179
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    • 2010
  • 1차원 나노구조를 갖는 ZnO를 성장하기 위해 Laser ablation, Chemical vapor deposition (CVD), Chemical transport method, Molecular beam epitaxy, Sputtering 등의 다양한 형성법들이 이용되어지고 있다. 특히 대량생산과 경제성 측면에서 많은 장점을 가지고 있는 CVD를 이용한 ZnO 성장 및 응용 연구가 활발하게 수행되고 있다. 본 연구에서는 Thermal CVD를 이용하여 반응물질과 기판 사이의 거리, 기판온도, $O_2$/Zn 비율 등의 성장변수를 변화시켜 ZnO 나노구조를 성장하고 구조 및 광학적 특성을 연구하였다. Scanning electron microscope를 통한 구조 특성평가 결과 반응물질과 기판 사이의 거리가 13 cm 이하의 조건에서 ZnO 나노구조들은 나노판(Nanosheet)과 나노선(Nanowire)이 혼재하여 성장된 것을 보였다. 그리고 반응물질과 기판사이의 거리가 15 cm 이상부터 나노판이 없어지고 수직한 ZnO 나노막대(Nanorod)가 형성되었다. 상온 Photoluminescence 스펙트럼에서 반응물질과 기판사이의 거리가 5에서 15 cm로 증가할수록 결함 (Defect)에 의해 발생된 515 nm 파장의 최대세기 (Maximum intensity)가 10배 이상 감소한 반면, ZnO 나노구조에 의한 378 nm 파장의 NBE발광 (Near band edge emission)은 8배 이상 증가하였다. 이러한 구조 및 광학적 결과로부터, 질서 없이 성장된 것보다 수직 성장된 ZnO 나노구조의 결정질(Crystal quality)이 좋은 것을 확인하였다. 이를 바탕으로 성장변수에 따른 ZnO 나노구조의 형성 메커니즘을 Zn와 O 원자의 성장거동을 기반으로 한 모델을 이용하여 해석하였다.

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The effects of low temperature Ge buffer layers on the growth of pure Ge on Si(001)

  • Sin, Geon-Uk;Yang, Chang-Jae;Lee, Sang-Su;Yun, Ui-Jun
    • Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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    • 2010.02a
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    • pp.132-132
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    • 2010
  • 3-5족 화합물 반도체는 직접천이형 반도체이며, 여러가지 우수한 특성으로 인하여 고효율의 태양전지물질로 각광을 받고 있다. 또한 3중접합 구조를 이용한 집광형태양전지의 경우, 40% 이상의 높은 효율을 보인다고 보고 되고 있다. 이러한 고효율 태양전지를 실리콘 기판위에 성장할 경우, 대면적에서의 태양전지제작이 가능해지며, 단가절감이 가능할 것이라고 예상된다. 하지만, 하부셀로 사용되는 게르마늄과 실리콘의 4.2%의 격자상수차이로 인하여, 고품질의 게르마늄 박막을 실리콘 기판위에 성장하는 데에 있어서 많은 문제점이 있으며, 이러한 문제점을 극복하기 위하여, 저온에서 성장한 게르마늄 박막을 완충층으로 사용하는 2단계 성장법이 제안되었다. 하지만, 2단계 성장법에서 저온 완충막의 성장조건이 게르마늄 박막에 미치는 영향은 명확하지 않다. 본 연구팀은 초고진공 화학기상증착법을 이용하여 순수 게르마늄 박막을 실리콘 기판 위에 성장하였으며, 저온 완충막의 두께를 20 nm에서 120 nm까지 변화시켜서, 완충막의 두께가 게르마늄박막에 미치는 영향에 대해서 연구해 보았다. 그 결과, 40 nm이하의 두께를 갖는 완충막을 사용할 경우, 박막 내부에 실리콘 게르마늄을 형성하면서, 거친 표면이 형성되었다. 반면에, 40 nm보다 두꺼운 완충막을 사용할 경우 평탄한 표면을 갖는 순수게르마늄박막이 형성되었다. 이를 통해서, 순수 게르마늄박막 성장을 위해서는 일정 두께 이상의 저온 완충막이 사용되어야함을 알 수 있었다. 또한 게르마늄박막의 관통 전위 밀도를 분석해 본 결과 완충막의 두께가 80 nm까지 두꺼워짐에 따라서 초기에는 관통전위밀도가 $1.2\;{\times}\;10^6\;cm^{-2}$ 까지 감소하는 경향을 보였으나, 완충막의 두께가 더욱 증가할 경우 관통전위밀도가 증가하였다. 이러한 결과를 바탕으로 저온 완충막의 두께를 조절함으로써 최적화된 게르마늄의 성장이 가능함을 확인할 수 있었다.

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XPS study of NiO Growth on Ag(100) (Ag(001)에 성장된 NiO 극초박막의 화학 결함 연구)

  • Yang, Seol-Un;Seong, Shi-Jin;Kim, J.S.;Hwang, Han-Na;Hwang, C.C.;Chang, Young J.;Park, Soo-Hyon;Min, H.G.
    • Journal of the Korean Vacuum Society
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    • v.16 no.5
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    • pp.311-321
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    • 2007
  • We have researched the chemical defects of NiO ultrathin films grown on Ag(001) by x-ray photoelectron spectroscopy. In particular, O 1s and Ni 2p spectra were analyzed consistently with control film thickness, $O_2\;and\;H_2O$ partial pressure and substrate temperature. As a result, we could identify each chemical defect. In addition, we suggest the optimum growth condition to minimize the defect density.