• Title/Summary/Keyword: 결함 검출

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An Image Processing Technique for Polarizing Film Defects Detection (편광필름 결함검출을 위한 영상처리기법)

  • Sohn, Sang-Wook;Ryu, Geun-Taek;Bae, Hyeon-Deok
    • 전자공학회논문지 IE
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    • v.45 no.2
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    • pp.20-27
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    • 2008
  • In this paper, we propose a new image processing technique that reliably detects the various defects of TFT-LCD polarizing films. The image of polarizing film is acquisited from reflected laser beam First, we apply the morphological image processing technique to remove the background noise. Next, we use the 2-dimensional LMS adaptive filtering and statistical characteristics to detect the white and black defects. Performance of the proposed method is evaluated on real TFT-LCD polarizing film samples.

Method of Radiographic Testing and Industrial Application (방사선 투과검사의 방법과 산업적용)

  • Lee, Yong
    • Journal of Welding and Joining
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    • v.12 no.4
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    • pp.35-40
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    • 1994
  • 비파괴검사(NDT)란 시험품에 손상을 주지 않고 내.외부에 존재하는 불연속부(결함)을 찾아내는 방법으로 다음과 같이 그 종류를 분류할 수 있다. (1) 표면결함 검출을 위한 비파괴검사 - 육안검사(VT) : 확대경 등에 의한 치수, 형상확인 - 자분탐상검사(MT) : 강자성체에 적용, 표면(하) 결함검출 - 침투탐상검사(PT) : 금속, 비철금속에 적용, 표면개구 결함검출 - 와류탐상검사(ET) : 도체 표층부(봉, 관 등) (2) 내부결함 검출을 위한 비파괴검사 - 방사선 투과검사(RT) : 결함의 종류, 형상의 판별 우수 - 초음파 탐상검사(UT) : 균열 등 면상 결함검출 등 우수 (3) 기타 비파괴검사 - Strain 측정 : 안전성 평가 - 음향방출시험(AET) - 누설시험(LT) - 중성자 방사선시험(NRT) 이상에서 보는 바와 같이 여러 종류의 비파괴검사가 있으나, 그 중에서 용접부에 적용되는 가장 일반적인 검사방법인 방사선 투과검사에 대해 기술하고자 한다.

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Template Check and Block Matching Method for Automatic Defects Detection of the Back Light Unit (BLU의 자동결함검출을 위한 템플레이트 검사와 블록매칭 방법)

  • Cho SangHee;Han ChangHo;Oh ChoonSuk;Ryu YoungKee
    • Proceedings of the Korean Information Science Society Conference
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    • 2005.07b
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    • pp.793-795
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    • 2005
  • 본 논문에서는 자동결함검출 방법으로 돌출 함몰, 점 등과 같은 작은 결항들을 검출하기 위해 모폴로지의 닫힘, 열림 방법을 이용하는 템플레이트 검사 방법을 사용하였고, 얼룩, 스크래치와 같은 큰 결함을 검출하기 위해 영상에서 격자와 같은 일정한 블록을 형성하여 각 블록을 비교하여 결함을 찾는 블록매칭 방법을 사용하였다. 또한 이 알고리즘을 적용한 결과 결함 검출에 좋은 성능이 있음을 보여준다. 제안된 알고리즘은 자체 개발한 장비에서 실제 BLU의 영상을 얻어 테스트를 하였다.

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A Study of Rotor Fault Detection for the Induction Motor Using Axial Leakage Magnetic Flux (축방향 누설자속 측정에 의한 유도전동기의 회전자 결함검출에 관한 연구)

  • Shin, Dae-Cheul;Kim, Young-Hwan
    • Journal of the Korean Institute of Illuminating and Electrical Installation Engineers
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    • v.20 no.1
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    • pp.132-137
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    • 2006
  • The second part of paper related rotor failure is to evaluate that the axial magnetic flux measurement could be used as a tool of the condition monitoring system for the induction motor and to develope the diagnostic algorithm for the various fault in the electric motors. The magnetic leakage flux signal is captured by the flux coil located at the end of motor without the disturbance of the operation. And the signal is analyzed both time and frequency domain to detect the failure of the motor. Specific signature can be described in tin and frequency domain for each fault of the motor. The experimental test found that the rotor failures - broken rotor bar, broken end ing and rotor eccentricity, could be detected from the spectrum with high resolution. The method of detecting the rotor fault was found by analysing the specific frequency and the sideband of the rotor bar pass frequency from axial leakage flux spectrum. In addition the optimal flux coil and measuring equipment for the axial leakage flux measurement was verified and the diagnostic method for the detection of the rotor related failure was developed.

Influence of Shearing Amount on Detection of Internal Defect of Pressure Pipeline by Shearography (Shearography 기법에 의한 압력 배관 내부 결함 검출에서 전단량의 영향)

  • Kim, Koung-Suk;Kang, Ki-Soo;Choi, Man-Yong;Kang, Young-June
    • Journal of the Korean Society for Nondestructive Testing
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    • v.26 no.2
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    • pp.122-129
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    • 2006
  • Shearography is one of optical methods that has been applied to nondestructive testing (NDT) and strain/stress analysis. The technique has the merit of the directly measuring relative displacement, which is insensitive to environmental vibration disturbance. Previous studies about the method have emphasized on extending its application to new fields and lack insufficient research on effective parameters for qualitative and quantitative evaluation of defects. In this paper, the influence of shearing amount on the detection of an internal defect is investigated. In experiment, slender defects along longitudinal direction of pipeline are artificially designed and detection results according to the change of shearing amount are analyzed. Based on the investigation, we propose the technique for the determination of defect size and accurate source location.

Ultrasonic Flaw Sizing Techniques (초음파 결함 크기 측정 기법)

  • Park, Moo-Ho
    • Journal of the Korean Society for Nondestructive Testing
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    • v.19 no.6
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    • pp.448-453
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    • 1999
  • 원전의 열성층 현상으로 발생하는 열 피로균열 및 입계응력부식균열(IGSCC) 등은 결함에 대해서 검사자의 특별한 관심과 노력 없이는 초음파를 이용해 이러한 종류의 결함검출 및 크기 측정이 쉽지 않다. 이러한 결함의 검출 및 크기 측정을 위해서 먼저 초음파 모드 변환 기법을 사용하여 결함 검출 및 결함 크기를 분류한 후에 결함 끝단에서의 초음파 회절파(tip diffraction)를 이용한 여러 가지의 초음파 기법 둥으로 정확한 결함 크기를 측정하여 가동전 중점검시 발견된 결함의 추적 관리 및 결함평가신뢰도 향상에 기여하고자 한다. 따라서, 여기서는 열 피로균열 및 입계응력부식균열 등과 같은 결함의 정확한 검출 및 크기 측정을 위해 초음파 모드 변환 기법의 특성을 철저히 이해하고 이에 관련된 초음파 신호들을 정확히 구분할 수 있는 방법을 기술하였다.

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Defect Inspection of Extreme Ultra-Violet Lithography Mask (극자외선 리소그래피용 마스크의 결함 검출)

  • Yi Moon-Suk
    • Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea SD
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    • v.43 no.8 s.350
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    • pp.1-5
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    • 2006
  • At-wavelength inspection system of extreme Ultra-violet lithography was developed and the inspection results were compared with the optical mask inspection system by cross correlation experiments. In at-wavelength EUV mask inspection system, a raster scan of focused euv light is used to illuminate euv light to mask blank and specularly and non-specularly reflected euv light are detected by photo diode and microchannel plate. The cross correlation results between at-wavelength inspection tool and optical inspection tool shows strong correlation. Far-field scattering fringe pattern from programmed phase and opqque defect, which were detected by phosphor plate and CCD camera shows that distinct diffraction fringes were observed with fringe spacing dependent on the defect size.

X-ray 시스템의 구성 및 TSV (Through Silicon Via) 결함 검출을 위한 응용

  • Kim, Myeong-Jin;Kim, Hyeong-Cheol
    • Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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    • 2014.02a
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    • pp.108.1-108.1
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    • 2014
  • 제품의 고성능 사양을 위해 초미소 크기(Nano Size)의 구조를 갖는 제품들이 일상에서 자주 등장한다. 대표 제품은 주변에서 쉽게 접할 수 있는 전자제품의 반도체 칩이다. 반도체 칩 소자 구조는 크기를 줄이는 것 외에도 적층을 통해 소자의 집적도를 높이는 방향으로 진화를 하고 있다. 복잡한 구조로 인해 발생되는 여러 반도체 결함 중에 TSV 결함은 현재 진화하는 반도체 칩의 구조를 대변하는 대표 결함이다. 이 결함을 효율적으로 검출하고 다루기 위해서는 초미소 크기(Nano Size)의 결함을 비파괴적인 방법으로 가시화하고 분석하는 장비가 필요하다. X-ray 시스템은 이러한 요구를 해결하는 훌룡한 한 방법이다. 이 논문에서는 X-ray 시스템의 구성 및 위의 TSV 결함을 검출하고 분석하기 위한 시스템의 특징에 대해 설명을 한다. X-ray 시스템은 크게 X선을 발생시키는 X선튜브와 대상 물체를 투과한 X선을 영상화하는 디텍터, 대상물체의 영상화를 위해 물체를 적절하게 구동시키는 이동장치로 구성되어 있다. 초미소크기(Nano Size)의 결함 검출을 위해서는 X선 튜브, 디텍터, 이동장치에 요구되는 사양의 복잡도, 정밀도는 이러한 시스템의 개발을 어렵게 만든다. 이 논문에서는 이러한 시스템을 개발 시에 시스템 핵심 요소의 특징을 분석한다.

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Detection of Real Defects in Composite Structures by Laser Measuring System (레이저 계측시스템에 의한 복합재료 구조물의 실제결함 검출)

  • 정성균;김태형;김경석;강영준
    • Composites Research
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    • v.15 no.5
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    • pp.19-26
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    • 2002
  • Real defects in composite structures were detected by using laser measuring system. Four types of real defects, that is, impact-induced delamination in a composite laminate, debond in a honeycomb structure, free-edge delamination in a composite laminate and debond in an adhesive joint, were made by applying several types of loads to the specimens. Laser measuring system such as ESPI and shearography technique were used to detect those defects. Thermal loading method, which can easily induce the surface deformation of specimen, was used to detect the defects. Experimental results show that the defects in composite structures could be easily detected by ESPI and shearography technique. Moreover, it shows that ESPI and shearography technique could be usefully applied to the detection of defects in various kinds of composite structures.

TFT-LCD Defect Detection Using Multi-level Threshold and Probability Density Function (다단계 임계화와 확률 밀도 함수를 이용한 TFT-LCD 결함 검출)

  • Kim, Se-Yun;Jung, Chang-Do;Yun, Byoung-Ju;Joo, Young-Bok;Choi, Byung-Jae;Park, Kil-Houm
    • Journal of the Korean Institute of Intelligent Systems
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    • v.19 no.5
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    • pp.615-621
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    • 2009
  • TFT-LCD image consists of ununiform background, random noises and target defect signal components. Defects in TFT-LCD have some intensity variations compared to background region. It is sometimes difficult for human inspectors to figure out. In this paper, we propose multi-level threshold scheme for detection of the real defect using probability density function with Parzen Window. The experimental results show that the proposed algorithms produce promising results and can be applied to automated inspection systems for finding defects in the TFT-LCD image.