• Journal of Information Technology Application
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• v.3 no.3
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• pp.91-106
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• 2001

We propose a software-reliability growth model incoporating the amount of uniform and Weibull testing efforts during the software testing phase in this paper. The time-dependent behavior of testing effort is described by uniform and Weibull curves. Assuming that the error detection rate to the amount of testing effort spent during the testing phase is proportional to the current error content, the model is formulated by a nonhomogeneous Poisson process. Using this model the method the data analysis for software reliability measurement is developed. The optimum release time is determined by considering how the initial reliability R($\chi$ 0) would be. The conditions are ($R\chi$ 0)＞$R_{o}$ , $P_{o}$ ＞R($\chi$ 0)＞ $R_{o}$ $^{d}$ and R($\chi$ 0)＜$R_{o}$ $^{d}$ for uniform testing efforts. deal case is $P_{o}$ ＞($R\chi$ 0)＞ $R_{o}$ $^{d}$ Likewise, it is ($R\chi$ 0)$\geq$$R_{o}$ , $R_{o}$ ＞($R\chi$ 0)＞R(eqation omitted) and ($R\chi$ 0)＜R(eqation omitted)for Weibull testing efforts. Ideal case is $R_{o}$ ＞ R($\chi$ 0)＞ R(eqation omitted).

• Journal of Nuclear Fuel Cycle and Waste Technology(JNFCWT)
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• v.15 no.1
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• pp.91-99
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• 2017

Domestically developed concrete storage casks include an internal canister to maintain the confinement integrity of radio-active materials. In this study, we analyzed the depth of flaws caused by loads that propagate canister weld cracks under normal, off-normal and accident conditions, and evaluated the maximum allowable weld flaw depth needed to secure the structural integrity of the canister weld and to reduce the welding time of the internal canister lid of the concrete storage cask. Structural analyses for normal, off-normal and accident conditions were performed using the general-purpose finite element analysis program ABAQUS; the allowable flaw depth was assessed according to ASME B&PV Code Section XI. Evaluation results revealed an allowable canister weld flaw depth of 18.75 mm for the concrete storage cask, which satisfies the critical flaw depth recommended in NUREG-1536.

• KSCE Journal of Civil and Environmental Engineering Research
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• v.43 no.2
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• pp.267-275
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• 2023

As aged infrastructures have been increased, the importance of accurate maintenance costs and proper budget allocation for infrastructure become prominent under limited resources. This study proposed a mapping algorithm between representative defects, repair methods, and the estimated maintenance costs for concrete bridges. In this regard, using BMS (Bridge Management System) data analysis, bridge repair methods were classified and matched with defects according to their locations, types, and sizes. In addition, the maintenance costs were estimated based on the amount of work-load and quantity per unit using CSPR (Cost Standard Production Rate). As a result, the level of accuracy was an average of 85.1 % compared with the actual bill of quantity for Seoul bridge maintenance. The accuracy of maintenance costs is expected to be enhanced by considering the various site conditions such as pier height, extra charge conditions, additional equipment, etc.

• Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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• 2013.08a
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• pp.238-238
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• 2013

사파이어 단결정은 광학 투명도, 물리적 강도, 충격 저항, 마모 부식, 높은 압력 및 온도 내구성, 생체 호환성 등 다양한 특성을 가지고 있어 다양한 분야에서 사용되고 있으며, 특히 최근에는 백색 또는 청색 LED 소자 분야에서 기판으로 주로 활용되고 있다. 이러한 사파이어 단결정 기판은 공정에서 결정 성장 조건 및 기계적 연마 등의 다양한 요인으로 결정학적 결함이 발생한다. 이러한 결정학적 결함을 제어함으로서 좋은 품질의 단결정 기판을 생산할 수 있다. 이에 따라 각종 결함 제어를 위해서 X-선, EPD, 레이저 편광법 등 다양한 방법으로 결함들을 측정하고 있다. 그 중에서도 X-선 토포그래피는 시료를 비파괴적인 방법으로 단결정의 결함 밀도와 유형 등을 파악하는데 매우 유용한 측정법이며, Lang 토포그래피로 대표되는 X-선 회절 투과법은 기판과 같은 대구경의 시료를 우수한 분해능으로 내부 결함까지 관찰할 수 있는 장점을 지니고 있다. 본 연구에서는 대구경 사파이어 단결정 기판에 내재하는 결정 결함을 확인 및 분석하기 위해 X-선 Lang 토포그래피(X-ray Lang Topography) 장비를 구축하였다. 그리고 4, 6인치 c-면 사파이어 단결정 기판의 (110), (102) 회절면의 X-선 토포그래피 측정을 통해 전위(dislocation), 스크래치(scratch), 표면데미지(surface damage), 트윈(twin), 잔류 응력(strain) 등의 결함의 유형을 식별 및 분석하였으며, 각각의 결함들의 토포그래피 이미지 형성 메커니즘에 대해 분석하였다. 이를 통해 X-선 Lang 토포그래피(X-ray Lang Topography) 장비가 대구경 사파이어 단결정 기판의 결정 결함 평가에 폭넓은 활용이 가능할 것으로 예상된다.

• Journal of the Korean Crystal Growth and Crystal Technology
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• v.9 no.3
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• pp.267-272
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• 1999

Micro-defects in the undoped and MgO-doped $LiNbO_3$ single crystals, which were grown from a congruent melting composition (48.6 mol% $Li_2$O) by the CZ (Czochralski) method, were analyzed using microscopic techniques such as optical microscopy (OM), scanning electron microscopy (SEM) and transmission electron microscopy (TEM). Effects of the dopant and g value (the fraction solidfied) on the domain structure and micro-defect were investigated to build a corelationship with a growth condition of crystal. It was observed that the micro-defect concentrated near the domain wall is caused by high stress. Especially, the micro-defect was observed to be biased toward a certain side of the domain wall.

• Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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• 2014.02a
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• pp.482.2-482.2
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• 2014

최근 고효율 실리콘 태양전지 제작을 위해 다양한 연구가 진행되고 있다. 이온주입법을 이용한 PN 접합 형성은 기존의 확산법에 비해 표면과 실리콘 기판 내부에서 도펀트 조절이 용이하다는 장점에 의해 주목 받고 있다. 하지만, 이온주입법으로 도펀트를 주입할 경우, 도펀트와 기판의 충격으로 비정질 상과 결정 결함이 형성된다. 결정 결함은 생성된 전자와 정공의 재결합 준위로 작용하기 때문에 적절한 이온주입 조건과 후 열처리를 통해 높은 특성을 갖는 PN접합층을 형성하여야 한다. 본 실험에서는 보론 도핑된 p형 실리콘 기판에 인을 주입하였다. 인 이온 주입 시 가속전압과 열처리 조건을 달리하여 전기적 특성을 관찰하였으며, 태양전지 에미터층으로의 적용 가능성을 조사해 보았다.

• Journal of the Korean Society for Nondestructive Testing
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• v.16 no.1
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• pp.19-28
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• 1996

This study has investigated the optimization of NDT method and the minimum detectable defect size for complex structures such as the solid propellant rocket motor using real time X-ray imaging system. Test specimens were made of steel plates with various defect size, and installed with proper thickness for which solid propellant, rubber, and case converted to the steel equivalent thickness according to the radiographic equivalent theory. As the results, this examination obtained optimum magnification and X-ray energy, dose rate according to steel equivalent thickness, also, obtained the relationship between minimum detectable defect size and the ratio(defect depot/object thickness). Thus, this simulated test is the preliminary procedure before performing NDT for real objects, and is possibly applied for NDT of other complex structures.

• The KIPS Transactions:PartC
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• v.8C no.2
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• pp.173-181
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• 2001

하드웨어 기술의 발전으로 인해 컴퓨터 하드웨어의 결함 발생률은 상수 값이거나 점차 작아지는 경향이 있다. 반면에 하드웨어에 탑재된 소프트웨어의 복잡성 및 크기는 이전에는 상상할 수 없을 정도로 방대해져가고 있기 때문에, 소프트웨어의 결함 발생으로 인한 컴퓨터 시스템의 장애 발생 가능성은 점차 더 높아지고 있다. 본 논문에서는 Active/Active 클러스터 시스템의 가용도 개선을 위해서 소프트웨어적인 결함 발생을 미연에 방지할 수 있는 능동적 결함허용 기법인 소프트웨어 재활(rejuvenation) 방법에 대하여 연구하였다. 소프트웨어 재활 과정 및 여분서버로 작업전이(switchover) 과정을 semi-Markov 프로세스로 모델링 한 후, 수학적 분석을 통해 구한 Active/Active 클러스터 시스템의 bud형 상태 확률을 이용하여, 다양한 운영 조건하의 가용도 및 손실비용을 계산하였으며, 이를 통하여 소프트웨어 재활을 통한 Active/Active 클러스터 시스템의 가용도 개선 가능성을 확인하였다.

• The Journal of the Korea institute of electronic communication sciences
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• v.6 no.1
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• pp.43-48
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• 2011

In this paper, We have investigated the weak waterproofing defection characteristic of polymer humidity sensor and identified the cause of failure. In high temperature and high humidity conditions(($60^{\circ}C/95%$), the defecting process is simulated about defective and improved samples which are modified for the crosslinking polymer structure's aspect. It is aimed at the defecting reason and suggestion of defection process mechanism.

• Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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• 2013.02a
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• pp.460-460
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• 2013

본 연구는 Si (111) 기판위에 Ga 분자선량을 변화시켜 GaN 박막을 molecular beam epitaxy 법으로 성장하고, Schottky 장벽 다이오드를 제작한 후에 deep level transient spectroscopy (DLTS) 법을 통하여 깊은 준위 결함에 대하여 조사하였다. 성장 시 Ga 분자선량은, 그리고 Torr로 달리하여 V/III 비율을 변화시켰고, Schottky 장벽 다이오드 제작을 위하여 e-beam evaporator를 사용하여 metal을 증착하였다. Schottky 접촉에는 Ni (20 nm)/Au (100 nm)를 증착하였고, ohmic 접촉에는 Ti (20 nm)/Au (100 nm)를 증착하고 I-V, C-V 그리고 DLTS를 측정하였다. DLTS 신호를 통해 GaN 박막 성장 과정에서 형성되는 깊은 결함의 종류를 확인하였으며, 열처리 등의 처리 및 측정 조건변화에 따른 결함의 거동과 종류 및 원인에 대하여 분석 설명하였다.