Effect of mechanical backside damage upon minority carrier recombination lifetime measurement by laser/microwave photoconductance technique (기계적 후면 손상이 레이저/극초단파 광전도 기법에 의한 소수 반송자 재결합 수명 측정에 미치는 영향)
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- Journal of the Korean Crystal Growth and Crystal Technology
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- v.5 no.4
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- pp.408-413
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- 1995