1 |
Berreman, D. W., Phys. Rev. Lett., 28, 1683, (1972).
DOI
|
2 |
Toney, M. F., Russell, T. P., Logan, J. A., Kikuchi, H., Sands, J. M., Kumar, S. K., Nature, 374, 709, (1995).
DOI
|
3 |
D. S. Seo, S. Kobayashi, and M. Nishikawa, Appl. Phys. Lett., 61, 2392, (1992).
DOI
|
4 |
D. S. Seo, and S. Kobayashi, J. Appl. Phys., 86, 4046, (1999).
DOI
|
5 |
T. Uchida, M. Ohgawara, and M. Wada, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 19, 2127, (1980).
DOI
|
6 |
D. S. Seo, J. Appl. Phys., 86, 3594, (1999).
DOI
|
7 |
F. S. Yeung, J. Y. Ho, Y. W. Li, F. C. Xie, O. K. Tsui, P. Sheng, and H. S. Kwok, Appl. Phys. Lett., 88, 051910, (2006).
DOI
|
8 |
J. Y. L. Ho, V. G. Chigrinov, and H. S. Kwok, Appl. Phys. Lett., 90, 243506, (2007).
DOI
|
9 |
J. B. Kim, K. C. Kim, H. J. Ahn, B. H. Hwang, J. T. Kim, S. J. Jo, C. S. Kim, and H. K. Baik, Appl. Phys. Lett., 91, 023507, (2007).
DOI
|
10 |
J. B. Kim, K. C. Kim, H. J. Ahn, B. H. Hwang, D. C. Hyun, and H. K. Baik, Appl. Phys. Lett., 90, 043515, (2007).
DOI
|
11 |
K. E. Vaughn, M. Sousa, D. Kang, and C. Rosen-blatt, Appl. Phys. Lett., 90, 194102, (2007).
DOI
|
12 |
H. G. Park, B. Y. Oh, Y. H. Kim, B. Y. Kim, J. M. Han, J. Y. Hwang, and D. S. Seo, Electrochem. Solid State Lett., 12, J37, (2009).
DOI
|