1 |
E. Fortunato, P. Barquinha, R. Martins, Adv. Mater. 24 (2012) 2945.
DOI
|
2 |
J. S. Park, W. J. Maeng, H. S. Kim, J. S. Park, Thin Solid Films 520 (2012) 1679.
DOI
|
3 |
H. B. Kim, H. S. Lee, Thin Solid Films 550 (2014) 504.
DOI
|
4 |
C. H. Ahn, K. Senthil, H. K. Cho, S. Y. Lee, Sci. Rep. 3 (2013) 2737.
DOI
|
5 |
S. Lee, D. C. Paine, Appl. Phys. Lett. 98 (2011) 262108.
DOI
|
6 |
S, Jeong, Y. Jeong, J. Moon, J. Phys. Chem. C 112 (2008) 11083.
|
7 |
M. H. Kim, H. S. Lee, Solid State Electron. 96 (2014) 14.
DOI
|
8 |
N. Munzenrieder, C. Zysset, L. Petti, T. Kinkeldei, G. A. Salvatore, G. Troster, Solid State Electron. 84 (2013) 198.
DOI
|
9 |
K. Everaerts, L. Zeng, J. W. Hennek, D. I. Camacho, D. Jariwala, M. J. Bedzyk, M. C. Hersam, T. J. Marks, ACS Appl. Mater. Interfaces 5 (2013) 11884.
DOI
|
10 |
N. Munzenrieder, P. Voser, L. Petti, C. Zysset, L. Buthe, C. Vogt, G. A. Salvatore, G. Troster, IEEE Electron Dev. Lett. 35 (2014) 69.
DOI
|
11 |
J. H. Kang, E. N. Cho, C. E. Kim, M. J. Lee, S. J. Lee, J. M. Myoung, I. Yun, Appl. Phys. Lett. 102 (2013) 222103.
DOI
|
12 |
H. Hosono, J. Non-cryst. Solids, 352 (2006) 851.
DOI
|
13 |
K. Nomura, A. Takagi, T. Kamiya, H. Ohta, M. Hirano, H. Hosono, Jpn. J. Appl. Phys. 45 (2006) 4303.
DOI
|
14 |
K. Ide, Y. Kikuchi, K. Nomura, T. Kamiya, H. Hosono, Thin Solid Films 520 (2012) 3787.
DOI
|
15 |
H. S. Shin, B. H. Ahn, Y. S. Rim, H. J. Kim, J. Inform. Display 12 ( 2011) 209.
DOI
|
16 |
T. Kamiya, K. Nomura, H. Hosono, Journal of Display Technology 5 (2009) 468.
DOI
|
17 |
S. H. Bae, I. H. Yoo, S. K. Kang, C. Park, J. Kor. Ceram. Soc. 47 (2010) 329.
DOI
|
18 |
Y. S. Lee, Z. M. Dai, C. I. Lin, H. C. Lin, Ceramics International 38S (2012) S595
|
19 |
C. C. Lo, T. E. Hsieh, ESC Transactions 28 (2010) 131.
|
20 |
D. Tahir, E. K. Lee, H. L. Kwon, S. K. Oh, H. J. Kang, S. Heo, E. H. Lee, J. G. Chung, J. C. Lee, S. Tougaard, Surf. Interface Anal. 42 (2010) 906.
DOI
|
21 |
G. H. Kim, B. D. Ahn, H. S. Shin, W. H. Jeong, H. J. Kim, H. J. Kim, Appl. Phys. Lett. 94 (2009) 233501.
DOI
|
22 |
J. W. Park, P. S. Jeong, S. H. Choi, H. S. Lee, B. H. Kong, H. K. Cho, Jpn. J. Appl. Phys. 48 (2009) 111603.
DOI
|
23 |
J. R. Yim, S. Y. Jung, H. W. Yeon, J. Y. Kwon, Y. J. Lee, J. H. Lee, Y. C. Joo, Jpn. J. Appl. Phys. 51 (2012) 011401.
DOI
|
24 |
K. Nomura, T. Kamiya, H. Hosono, ECS Journal of Solid State Science and Technology 2 (2013) P5.
DOI
|
25 |
S. H. Choi, M. K. Han, IEEE. Dev. Lett. 33 (2012) 396
DOI
|
26 |
T. T. Trinh, V. D. Nguyen, K. G. Ryu, K. S. Jang, W. B. Lee, S. S. Baek, J. Raja, J. S. Yi, Semicond. Sci. Technol. 26 (2011) 085012.
DOI
|
27 |
B. D. Ahn, H. S. Shin, G. H. Kim, J. S. Park, H. J. Kim, Jpn. J. Appl. Phys. 48 (2009) 03B019.
|
28 |
H. S. Jeon, S. W. Na, M. R. Moon, D. G. Jung, H. S. Kim, H. J. Lee, J. Electrochem. Soc. 158 (2011) H949.
DOI
|
29 |
M. R. Moon, S. W. Na, H. S. Jeon, T. H. Lee, D. G. Jung, H. S. Kim, J. M. Yang, H. J. Lee, Surf. Interface Anal. 44 (2012) 1431.
DOI
|