1 |
M. Wu, K. Pangal, J. C. Sturm, S. Wagner, Appl. Phys. Lett., 75 (1999) 2244
DOI
|
2 |
L. Haji, P. Joubert, J. Stoemeons, N. A. Economou, J. Appl. Phys., 75(8) (1994) 3944
DOI
ScienceOn
|
3 |
A. Nakamura, F. Emoto, E. Fujii, A. Yamamoto, Y. Uemoto, K. Senda, G. Kano, J. Appl. Phys., 66(9) (1989) 4248
DOI
|
4 |
I.-W. Wu, A. Chiang, M. Fuse, L. Ovecoglu, T. Y. Huang, J. Apply. Phys., 65 (1989) 4036
DOI
|
5 |
M. Wu, X.-Z. Bo, J. C. Sturm, S. Wagner, IEEE Trans. Electron Devices, 49(11) (2002) 1993
DOI
ScienceOn
|
6 |
R. S. Howell, M. Stewart, S. V. Karnik, S. K. Saha, M. K. Hatalis, IEEE Electron Device Lett., 21 (2000) 70
DOI
ScienceOn
|