1 |
M. I. Abdulsalam, Corrosion Sci., 47 (2005) 1336
DOI
ScienceOn
|
2 |
K. Cho, H. W. Pickering, J. Electrochem. Soc., 138 (1991) L56
DOI
|
3 |
M. K. Sawford, B. G. Ateya, A. M. Abdullah, H. W. Pickering, J. Electrochem. Soc., 149 (2002) B198
|
4 |
E. A. Nystrom, J. B. Lee, A. A. Sagues, H. W. Pickering, J. Electrochem. Soc., 142 (1994) 358
|
5 |
J. W. Schultze, M. M. Lohrengel, D. Ross, Electrochim. Acta, 28 (1983) 973
DOI
ScienceOn
|
6 |
V. L'Hostis a, C. Dagbert, D. Feron, Electrochim. Acta, 48 (2003) 1451
DOI
ScienceOn
|
7 |
M. G. S. Ferreira, N. E. Hakiki, G. Goodlet, S. Faty, A. M. P. Simoes, M. Da Cunha Belo, Electrochi. Acta, 46 (2001) 3767
DOI
ScienceOn
|
8 |
Q. Le Xuan, B. Rondot, M. Da Cunha Belo, Ann. Chim. Sci. Mat., 23 (1998) 607
DOI
ScienceOn
|
9 |
N. E. Hakiki, M. F. Montemor, M. G. S. Ferreira, M. Da Cunha Belo, Corros. Sci., 42 (2000) 687
DOI
ScienceOn
|
10 |
M. I. Abdulsalam, H. W. Pickering, Corrosion Sci., 41 (1999) 351
DOI
ScienceOn
|
11 |
L. Hamadou, A. Kadri, N. Benbrahim, Applied Surface Science, 252 (2005) 1510
DOI
ScienceOn
|
12 |
J.-B. Lee, S.-J. Oh, 16th International Corrosion Congress, 09-09, Beijing, China (2005)
|
13 |
J.-B. Lee, Materials Chemistry and Physics, 99 (2006) 224
DOI
ScienceOn
|
14 |
M. J. Carmeaim, A. M. Simoes, M. F. Montemor, M. Da Cunha Bela, Corros. Sci., 47, (2005) 581
DOI
ScienceOn
|
15 |
M. Vankeerberghn, M. I. Abdulsalam, H. W. Pickering, J. Deconinck, J. Electrochem. Soc., 150 (2003) B445
DOI
ScienceOn
|
16 |
N. Sato, M. Cohen, J. Electrochem. Soc., 111 (1964) 512
DOI
|
17 |
S. R. Morrison, Electrochemistry at Semiconductors and Oxidized Metal Electrodes, Plenum Press, New york (1980) 120
|
18 |
M. Da Cunha Belo, B. Rondot, C. Compere, M. F. Montemor, A. M. P. Simoes, M. G. S. Ferreira, Corros. Sci., 40 (1998) 481
DOI
ScienceOn
|
19 |
N. E. Hakiki, S. Boudin, B. Rondot, M. Da Cunha Belo, Corros. Sci., 37, (1995) 1809
DOI
ScienceOn
|
20 |
Z. Szklarska-Smialowska, W. Kozlowski, J. Electrochern. Soc., 131 (1984) 234
DOI
ScienceOn
|
21 |
S.-J. Oh, J.-B. Lee, ISE 56th Annuai Meeting, 4B-012-O, Busan, Korea (2005) 674
|