1 |
G. E. Harlow : American Museum of Natural History, (1998) 214-272.
|
2 |
A. Gicquel, K. Hassouni, F. Silva, and J. Achard : Curr. Appl. Phys., (2001) 479.
|
3 |
C. Feng, N. Sugiura, S. Shimada, and T. Maekawa : J. Hazard. Mater., 103(1-2) (2003) 65-78.
DOI
|
4 |
S. Ohmagari, H. Yamada, H. Umezawa, A. Chayahara, T. Teraji, and S. -I Shikata : Diamond and Related Materials, 48 (2014) 19-23.
DOI
|
5 |
M. H. Um, B. Y. Ha, and H. C. Kang : Clean Tech., 9(3) (2003) 133-144.
|
6 |
Y. Tian, X. Chen, C. Shang, and G. Chen : J. Electrochem. Soc., 153(7) (2006) 180-185.
|
7 |
A. Kraft, M. Stadelmann, M. Wunsche, and M. Blaschke : Electrochemistry Communications 8(5) (2006) 883-886.
DOI
|
8 |
X. H. Wang, G. -H. M. Ma, WeiZhu, J. T. Glass, L. Bergman, K. F. Turner, and R. J. Nemanich : Diamond and Related Materials 1(7) (1992) 828-835.
DOI
|