1 |
Y. Saito, N. Teraguchi, A. Suzuki, T. Araki, and Y. Nanishi : Jpn. J. Appl. Phys. 40 (2001) L91.
DOI
|
2 |
V. Yu. Davydov, A. A. Klochikhin, R. P. Seisyan, V. V. Emtsev, S. V. Ivanov, F. Bechstedt, J. Furthmuller, H. Harima, A. V. Mudryi, J. Aderhold, and O. Semchinova : J. Graul, Phys. Stat. Sol. (b) 229 (2002) R1.
DOI
|
3 |
J. Wu, W. Walukievicz, K. M. Yu, J. W. Ager III, E. E. Haller, H. Lu, W. J. Schaff, Y. Saito, and Y. Nanishi : Appl. Phys. Lett. 80 (2002) 3967.
DOI
|
4 |
X. Q. Shen, T. Ide, M. Shimizu, S. Hara, and H. Okumura : Jpn. J. Appl. Phys. 39 (2000) L1270.
DOI
|
5 |
Y. Nanishi, Y. Saito, and T. Yamaguchi : Jpn. J. Appl. Phys. 42 (2003) 2549.
DOI
|
6 |
D. Muto, R. Yoneda, H. Naoi, M. Kurouchi, T. Araki, and Y. Nanishi : Mater. Res. Soc. Symp. Proc. 831 (2005) E4.2.1.
|
7 |
T. Kitamura, X. -Q. Shen, M. Sugiyama, H. Nakanishi, M. Shimizu, and H. Okumura : Jpn. J. Appl. Phys. 45 (2006) 57.
DOI
|
8 |
나현석 : 열처리공학회지 29 (2016) 124.
|