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2 |
G. Ducotey, A. Couvrat, V. Audran, D. Pepper, and L. Couturier, "In-Line Methodology for Defectivity Analysis from Dark Field Wafer Inspection to Defect Root Cause Analysis using FIB Cut," IEEE Advanced Semiconductor Manufacturing Conference(ASMC), pp. 138-141, 2008.
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3 |
Y.C. Chen, Y.Y. Lee, J.Y. Lee, and J.Y. Chen, "Implementation of a Wafer Positioning System," SICE Annual Conference, Vol. 13, No. 18, pp. 1938-1943, 2011.
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4 |
H.T. Kim, H.J. Yang, and S.C. Kim, "The Wafer Alignment Algorithm Regardless of Rotational Center," IEEE Intenational Conference on Mechatronics, Vol. 5, No. 13, pp. 44-48, 2006.
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5 |
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과학기술학회마을
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6 |
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DOI
ScienceOn
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과학기술학회마을
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ScienceOn
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8 |
기명석, 주변 마스크와 일반화 대칭변환 알고리듬을 이용한 인쇄물 검사 시스템, 전남대학교 석사학위논문, 2001.
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9 |
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ScienceOn
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10 |
기명석, 이칠우, "대칭 변환 결과를 이용한 특정 모양의 물체 인식," 한국정보과학회 가을 학술발표논문집, 제27권, 제2호, pp. 347-349, 2000.
과학기술학회마을
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11 |
이인경, 영상공격에 강인한 대칭성기반 특징점 추출, 충남대학교 박사학위논문, 2008.
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김동수, 진성일, "선택적 방향 주의를 가지는 수정된 스캔라인 일반화 대칭 변환," 전자공학회지, 제38권, 제4호, pp. 87-97, 2001.
과학기술학회마을
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13 |
C.J. Parsons and M.S. Nixon, "Introducing Focus in the Generalized Symmetry Operator," IEEE Signal Processing Letters, Vol. 6, No. 3, pp.49-51, 1999.
DOI
ScienceOn
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