1 |
M. Nagai, J. Electrochem. Soc. 154, J387-J392 (2007).
DOI
|
2 |
J. F. O'Hanlon and H. G. Parks, J. Vac. Sci. Tech. A 10, 1863 (1992).
DOI
|
3 |
K. M. Takahashi and J. E. Daugherty, J. Vac. Sci. Technol. A 14, 2983- 2993 (1996).
DOI
|
4 |
T. Seto, T. Nakamoto, K. Okuyama, M. Adachi, Y. Kuga, and K. Takeuchi, J. Aerosol Sci., 28, 193-206 (1997).
DOI
|
5 |
K. Seol, S. Y. Tsutatani, R. P. Camata, J. Yabumoto, S. Isomura, Y. Okada, K. Okuyama, and K. Takeuchi, J. Aerosol Sci., 31, 1389-1395 (2000).
DOI
|
6 |
J. H. Mun, D. G. Cho, Y. J. Kim, J. B. Choi, S. W. Kang, J. Y. Yun, Y. H. Shin, and T. Kim, J. Nanosci. Nanotechnol. 11, 6275-6282 (2011).
DOI
|
7 |
P. J. Ziemann, P. Liu, N. P. Rao, D. B. Kittelson, and P. H. McMurry, J. Aerosol Sci. 26, 745-756 (1995).
DOI
|
8 |
X. Wang, F. E. Kruis, and P. H. McMurry, Aerosol Sci. and Tech. 39, 611- 623 (2005).
DOI
|
9 |
P. J. Ziemann, P. Liu, D. B. Kittelson, and P. H. McMurry, J. Phys. Chem. 99, 5126-5138 (1995).
DOI
|
10 |
T. Kim, Ph. D. Thesis, University of Minnesota (2002).
|