1 |
K. D. Lee, Y. D. Kim, S. S. Dahiwale, H. Boo, S. Park, S. J. Tark, and D. Kim, J. Korean Vac. Soc. 21, 29 (2012).
DOI
ScienceOn
|
2 |
G. P. Willeke, Sol. Energ. Mater. Sol. Cell 72, 191 (2002).
DOI
ScienceOn
|
3 |
N. Y. Artyunov, M. Lsayed, R. Rause-Reberg, V. V. Emtsev, G. A. Oganesyan, and V. V. Kozlovski, J. Condes. Matter 25, 035801 (2013).
DOI
ScienceOn
|
4 |
A. Uedono, Y. K. Cho, S. Tanigawa, and A. Ikari, Jpn. J. Appl. Phys. 33, 1 (1994).
DOI
ScienceOn
|
5 |
S. Dannefaer, P. Mascher, and D. Kerr, J. Appl. Phys. 73, 3740 (1993).
DOI
ScienceOn
|
6 |
C. He, M. Muramatsua, T. Ohdairaa, N. Oshimaa, A. Kinomuraa, R. Suzukia, and Y. Kobayashia, Radiation Phys. and Chem. 76, 204 (2007).
DOI
ScienceOn
|
7 |
C. Y. Lee and S. H. Bae, J. Korean Vac. Soc. 19, 489 (2010).
DOI
ScienceOn
|
8 |
K. H. Lee and C. Y. Lee, J. Korean Vac. Soc. 20, 367 (2011).
DOI
ScienceOn
|
9 |
H. E. Schaefer, R. Wurschum, R. Birringer, and H. Gleiter, Phy. Rev. B 38, 9545 (1988).
DOI
ScienceOn
|
10 |
K. G. Lynn, J. E. Dickman, W. L. Brown, and M. F. Robbins, Phy. Rev. B 20, 3566 (1978).
|
11 |
Z. Jin, G. Niu, J. D. Cressler, C. J. Marshall, P. W. Marshall, H. S. Kim, R. A. Reed, and D. L. Harame, IEEE Transactions on Nuclear Science, 48, 2244 (2001).
DOI
ScienceOn
|
12 |
R. Krause-Rehberg and H. S. Leipner, Positron Annihilation in Semiconductors, (Springer, Heidelberg, 1999).
|
13 |
L. S. Vlasenko, M. P. Vlasenko, V. A. Kozlov, V. V. Kozlovskii, Semiconductors 33, 1059 (1999).
DOI
|
14 |
J. G. Shin, C. Y. Lee, S. H. Bae, J. H. Kim, and J. H. Kwon, Kor. J. Mater. Res. 18, 427 (2008).
DOI
ScienceOn
|
15 |
J. J. Kelly and R. M. Lambrecht, Phys. Lett. A 60, 475 (1977).
DOI
ScienceOn
|
16 |
F. Hori, T. Chijiiwa, R. Oshima, and T. Hisamatsu, Physica B 273, 480 (1999).
|
17 |
N. M. Johnson, F. A. Ponce, R. A. Street, and R. J. Nemanich, Phys. Rev. B 35, 4166 (1987).
DOI
ScienceOn
|
18 |
T. K. Gupta and W. G. Carlson, J. Mater. Sci. 20, 3487 (1987).
|
19 |
S. Fatima, B. G. Svensson, and C. Jagadish, Conference on Optoelectronic and Micro-electronic Materials And Devices Proceedings, 154 (1996).
|
20 |
R. Poirier, V. Avalos, S. Dannefaer, F. Schiettekatte, and S. Roorda, Nuclear Instr. Meth. Bin Phys. Res. 206, 85 (2003).
DOI
ScienceOn
|
21 |
S. Vayrynen, Irradiation of Silicon Particle Detectors with MeV - Protons, (University of Helsinki, Helsinki, 2010).
|