1 |
M. Willander, O. Nur, Q. X. Zhao, L. L. Yang, M. Lorenz, B. Q. Cao, J. Z. Perez, C. Czekalla, G. Zimmermann, M. Grundmann, A. Bakin, A. Behrends, M. Al-Suleiman, A. El-Shaer, A. C. Mofor, B. Postels, A. Waag, N. Boukos, A. Travlos, H. S. Kwack, J. Guinard, and D. L. S. Dang, Nanotechnol. 20, 332001 (2009).
DOI
ScienceOn
|
2 |
Y. S. Choi, J. W. Kang, D. K. Hwang, and S. J. Park, IEEE Trans. Electron Devices 57, 26 (2010).
DOI
ScienceOn
|
3 |
W. I. Park and G. C. Yi, Adv. Mater. 16, 87 (2004).
DOI
ScienceOn
|
4 |
E. Lai, W. Kim, and P. Yang, Nano Res. 1, 123 (2008).
DOI
|
5 |
M. A. Zimmler, D. Stichtenoth, C. Ronning, W. Yi, V. Narayanamurti, T. Voss, and F. Capasso, Nano Lett. 8, 16955 (2008).
|
6 |
M. A. Zimmler, J. Bao, F. Capasso, S. Muller, and C. Ronning, Appl. Phys. Lett. 93, 051101 (2008).
DOI
ScienceOn
|
7 |
M. T. Chen, M. P. Lu, Y. J. Wu, J. Song, C. Y. Lee, M. Y. Lu, Y. C. Chang, L. J. Chou, Z. L. Wang, and L. J. Chen, Nano Lett. 10, 4387 (2010).
DOI
ScienceOn
|
8 |
M. A. Zimmler, T. Voss, C. Ronning, and F. Capasso, Appl. Phys. Lett. 94, 241120 (2009).
DOI
ScienceOn
|
9 |
C. Xiong, A. E. Aliev, B. Gnade, and K. J. Balkus, ACS Nano 2, 75083 (2008).
|
10 |
Y. J. Choi, I. S. Hwang, J. G. Park, K. J. Choi, J. H. Park, and J. H. Lee, Nanotechnol. 19, 095508 (2008).
DOI
ScienceOn
|
11 |
Z. Zhuang, X. Su, H. Yuan, Q. Sun, D. Xiao, and M. M. F. Choi, Analyst 133, 126 (2008).
DOI
ScienceOn
|
12 |
S. Park, S. An, H. Ko, C. Jin, and C. Lee, ACS Appl. Mater. Interfaces 4, 3650 (2012).
DOI
ScienceOn
|
13 |
C. Soci, A. Zhang, B. Xiang, S. A. Dayeh, D. P. R. Aplin, J. Park, X. Y. Bao, Y. H. Lo, and D. Wang, Nano Lett. 7, 92093 (2007).
|
14 |
M. C. Jeong, B. Y. Oh, M. H. Ham, and J. M. Myoung, Appl. Phys. Lett. 88, 202105 (2006).
DOI
ScienceOn
|
15 |
F. Xu, Z. Y. Yuan, G. H. Du, T. Z. Ren, C. Bouvy, M. Halasa, and B. L. Su, Nanotechnol. 17, 588 (2006).
DOI
ScienceOn
|
16 |
Y. H. Yang, X. Y. Chen, Y. Feng, and G. W. Yang, Nano Lett. 7, 3879 (2007).
DOI
ScienceOn
|
17 |
R. Konenkamp, R. C. Word, and M. Godinez, Nano Lett. 5, 2005 (2008).
|
18 |
J. P. Richters, T. Voss, D. S. Kimg, R. Scholz, and M. Zacharias, Nanotechnol. 19, 305202 (2008).
DOI
ScienceOn
|
19 |
M. K. Lee, T. G. Kim, W. Kim, Y. M. Sung, and J. Phys. Chem. C 112, 10079 (2008).
DOI
ScienceOn
|
20 |
K. W. Liu, R. Chen, G. Z. Xing, T. Wu, and H. D. Sun, Appl. Phys. Lett. 96, 023111 (2010).
DOI
ScienceOn
|
21 |
C. Baratto, E. Comini, M. Ferroni, G. Faglia, and G. Sberveglieri, Cryst. Eng. Comm. 15, 7981 (2013).
DOI
ScienceOn
|
22 |
C. Jin, C. Hong, S. Park, and C. Lee, Thin Solid Films 519, 1351 (2010).
DOI
ScienceOn
|
23 |
L. E. Greene, M. Law, J. Goldberger, F. Kim, J. C. Johnson, Y. Zhang, R. J. Saykally, and P. Yang, Angew. Chem. Int. Edit. 42, 3031 (2003).
DOI
ScienceOn
|