Structural and Optical Characterizations of VO2 Film on Graphene/Sapphire Substrate by Post-annealing after Sputtering |
Kim, Keun Soo
(Department of Physics and Graphene Research Institute, Sejong University)
Kim, Hyeongkeun (Electronic Materials and Device Research Center, Korea Electronics Technology Institute) Kim, Yena (Electronic Materials and Device Research Center, Korea Electronics Technology Institute) Han, Seung-Ho (Electronic Materials and Device Research Center, Korea Electronics Technology Institute) Bae, Dong Jae (Department of Physics and Graphene Research Institute, Sejong University) Yang, Woo Seok (Electronic Materials and Device Research Center, Korea Electronics Technology Institute) |
1 | C. R. Dean, A. F. Young, I. Meric, C. Lee, L. Wang, S. Sorgenfrei, K. Watanabe, T. Taniguchi, P. Kim, K. L. Shepard, and J. Hone, Nature Nanotech. 5, 722 (2010). DOI |
2 | L. Britnell, R. V. Gorbachev, R. Jalil, B. D. Belle, F. Schedin, A. Mishchenko, T. Georgiou, M. I. Katsnelson, L. Eaves, S. V. Morozov, N. M. R. Peres, J. Leist, A. K. Geim, K. S. Novoselov, and L. A. Ponomarenko, Science 335, 947 (2012). DOI ScienceOn |
3 | J. Park, W. H. Lee, S. Huh, S. H. Sim, S. B. Kim, K. Cho, B. H. Hong, and K. S. Kim, J. Phys. Chem. Lett. 2, 841 (2011) DOI ScienceOn |
4 | S. J. Kang, B. Kim, K. S. Kim, Y. Zhao, Z Chen, P. Kim, and C. Nuckolls, Adv. Mater. 23, 3531 (2011). DOI ScienceOn |
5 | Y. J. Kim, J. H. Lee, and G. C. Yi, Appl. Phys. Lett. 95, 213101 (2009). DOI ScienceOn |
6 | H. Kim, S. J. Park, Y. Kim, H. Y. Jeong, A. R. Jang, K. S. Kim, S. H. Han, D. H. Yoon, K. S. Suh, H. S. Shin, T. Y. Kim, and W. S. Yang, submitted (2013). |
7 | A. Pirkle, J. Chan, A. Venugopal, D. Hinojos, C. W. Magnuson, and S. McDonnell, Appl. Phys. Lett. 99, 122108 (2011). DOI ScienceOn |
8 | D. Yoon, Y. W. Son, and H. Cheong, Nano Lett. 11, 3227 (2011). DOI ScienceOn |
9 | L. A. Gea and L. A. Boatner, Appl. Phys. Lett. 68, 3081 (1996). DOI ScienceOn |
10 | M. M. Qazilbash, M. Brehm, B. G. Chae, P. C. Ho, G. O. Andreev, B. J. Kim, S. J. Yun, A. V. Balatsky, M. B. Maple, F. Keilmann, H. T. Kim, and D. N. Basov, Science 318, 1750 (2007). DOI ScienceOn |
11 | I. P. Parkin and T. D. J. Manning, Chem. Edu. 83, 393 (2006). DOI ScienceOn |
12 | T. D. Manning, I. P. Parkin, M. E. Pemble, D. Sheel, and D. Vernardou, Chem. Mater. 16, 744 (2004). DOI ScienceOn |
13 | B. Viswanath, C. Ko, Z. Yang, and S. Ramanathan, J. Appl. Phys. 109, 063512 (2011). DOI ScienceOn |
14 | H. Koo, S. Yoon, O. J. Kwon, K. E. Ko, D. Shin, S. H. Bae, S. H. Chang, and C. Park, J. Mater. Sci. 47, 6397 (2012). DOI |
15 | K. S. Novoselov, A. K. Geim, S. V. Morozov, D. Jiang, Y. Zhang, S. V. Dubonos, I. V. Grigorieva, and A. A. Firsov, Science 306, 666 (2004). DOI ScienceOn |
16 | Y. Zhang, T. W. Tan, H. L. Stormer, and P. Kim, Nature 438, 201 (2005). DOI ScienceOn |
17 | J. S. Bunch, S. S. Verbridge, J. S. Alden, A. M van der Zande, J. M. Parpia, H. G. Craighead, and P. L. McEuen, Nano Lett. 8, 2458 (2008). DOI ScienceOn |
18 | C. Lee, X. Wei, J. W. Kysar, and J. Hone, Science 321, 385 (2008). DOI ScienceOn |
19 | S. Chen, Q. Wu, C. Mishra, J. Kang, H. Zhang, K. Cho, W. Cai, A. A. Balandin, and R. S. Ruoff, Nature Materials 11, 203 (2012). DOI ScienceOn |
20 | R. R. Nair, P. Blake, A. N. Grigorenko, K. S. Novoselov, T. J. Booth, T. Stauber, N. M. R. Peres, and A. K. Geim, Science 320, 1308 (2008). DOI ScienceOn |
21 | K. S. Kim, Z. Yue, H. Jang, S. Y. Lee, J. M. Kim, Kwang. S. Kim, J. H. Ahn, P. Kim, J. Y. Choi, and B. H. Hong, Nature 457, 706 (2009). DOI ScienceOn |
22 | M. Cox, A. Gorodetsky, B. Kim, K. S. Kim, Z. Jia, P. Kim, C. Nuckolls, and I. Kymissis, Appl. Phys. Lett. 98, 123303 (2011). DOI ScienceOn |
23 | S. Bae, H. Kim, Y. Lee, X. Xu, J. S. Park, Y. Zheng, J. Balakrishnan, T. Lei, H. R. Kim, Y. I. Song, Y. J. Kim, Kwang. S. Kim, B. Ozyilmaz, J. H. Ahn, B. H. Hong, and S. Iijima, Nature Nanotech. 5, 574 (2010). DOI |
24 | F. J. Morin, Phys. Rev. Lett. 3, 34 (1959). DOI |
25 | A. Zylbersztejn and N. F. Mott, Phys. Rev. B. 11, 4383 (1975). DOI |
26 | R. M. Wentzcovitch, W. W. Schulz, and P. B. Allen, Phys. Rev. Lett. 72, 3389 (1994). DOI ScienceOn |