1 |
J. C. Bean and G. A. Rozgonyi, Appl. Phys. Lett. 41, 752 (1982).
DOI
|
2 |
D. M. Zehner, C. W. White, and G. W. Ownby, Appl. Phys. Lett. 36, 56 (1980).
DOI
|
3 |
T. de Jong, W. A. S. Dowma, L. Smit, V. V. Korablev, and F. W. Saris, J. Vac. Sci. Technol. B1, 888 (1983).
DOI
ScienceOn
|
4 |
A. Ishizaka and Y. Shiraki, J. Electrochem. Soc. 133, 666 (1986).
DOI
|
5 |
T. W. Kang, Y. T. Oh, J. Y. Leem, and T. W. Kim, J. Material Sci. Lett. 11, 392 (1992).
DOI
|
6 |
조삼근, 한국진공학회지 18, 15 (2009).
과학기술학회마을
|
7 |
박정식, 이상현, 최명섭, 송덕수, 이성수, 곽동욱, 김도형, 양우철, 한국진공학회지 17, 226 (2008).
과학기술학회마을
|
8 |
Y. Makia, Mat. Sci. Eng. R16, 265 (1996).
|
9 |
D. E. Aspenes, Phys. Rev. Lett. 31, 230 (1973).
DOI
|
10 |
T. Soga, K. Baskar, T. Kato, T. Jimbo, and M. Umeno, J. Cryst. Growth 174, 579 (1997).
DOI
|
11 |
J. Y. Leem, D. Y. Kim, T. W. Kang, J. J. Lee, and J. Y. Oh, Appl. Phys. Lett. 57, 2228 (1990).
DOI
|
12 |
H. Huang, X. Ren, J. Lv, Q. Wang, H. Song, S. Cai, Y. Huang, and B. Qu, J. Appl. Phys. 104, 113114-1 (2008).
DOI
|
13 |
G. E. Becker and J. C. Bean, J. Appl. Phys. 48, 3395 (1997).
|
14 |
Y. Ota, J. Electrochem. Soc. 126, 1761 (1979).
DOI
|
15 |
J. C. Bean, G. E. Becker, P. M. Petroff, and T. E. Seidel, J. Appl. Phys. 48, 907 (1977).
DOI
|