1 |
C. Y. Chen, J. W. Lee, W. C. Chen, H. Y. Lin, K. L. Yeh, P. H. Lee, S. D. Wang, and T. F. Lei, IEEE Elec. Dev. Lett. 27, 893 (2006)
DOI
ScienceOn
|
2 |
H. Shin, CC King, T. Horiuchi and C. Hu, IEEE Elec. Dev. Lett. 12, 404 (1991)
DOI
ScienceOn
|
3 |
C. S. Wu, L. J. Wang, J. Zhou, L. H. Zhao and P. Wang, Chi. Sci. Bull. 52, 1886 (2007)
DOI
ScienceOn
|
4 |
M. J. Schoning and A. Poghossian. Analyst 127, 1137 (2002)
DOI
ScienceOn
|
5 |
S. Fang, and J. P. McVittie, IEEE Elec. Dev. Lett. 13, 288 (1992)
DOI
ScienceOn
|
6 |
S. Fang and J. P. McVittie, IEEE Elec. Dev. 41, 1034 (1994)
DOI
ScienceOn
|
7 |
K Lai, K Kumar, A Chou and J. C. Lee, IEEE Elec. Dev. Lett. 17, 82 (1996)
DOI
ScienceOn
|
8 |
A. Kim, C. S. Ah, H. Y. Yu, J. H. Yang, I. B. Baek, C. G. Ahn, C. W Park, and M. S. Jun, S. Lee, Appl. Phys. Lett. 91, 103901, (2007)
DOI
ScienceOn
|
9 |
D. Park and C. Hu, IEEE P2ID Proc. 17, 15 (1997)
|
10 |
T. Mizuno, S. Takagi, N. Sugiyama, J. Koga, T.Tezuka, K. Usuda, T. Hatakeyama, A. Kurobe, A. Toriumi, IEEE Elec. Dev. Meet. 943 (1999)
|
11 |
M. Mehrvar and M. Abdi, Analyst 20, 1113 (2004)
|
12 |
W. J. Cho, and C. G. Ahn, Appl. Phys. Lett. 90, 143509, (2007)
DOI
ScienceOn
|