1 |
H. D. Kim, W. G. Jeong, J. H. Lee, J. S. Yim, D. Lee, R. Stevenson, P. D. Dapkus, J. W. Jang, and S. H. Pyun, Appl. Phys. Lett 87, 083110 (2005)
DOI
ScienceOn
|
2 |
R. H. Blick, R. J. Haug, K. von Klitzing, and K. Eberl, Surf. Sci. 361/362, 595 (1996)
DOI
|
3 |
G. Bacher, H. Sch,mig, M. Scheibner, A. Forchel, A. A. Maksimov, A. V. Chernenko, P. S. Dorozhkin, V. D. Kulakovskii, T. Kennedy, and T. L. Reinecke, Physica E 26, 37 (2005)
DOI
|
4 |
G. Ortner, M. Bayer, A. Kress, A. Forchel, Y. B. Lyanda-Geller, and T. L. Reinecke, Physica E 21, 171 (2004)
DOI
|
5 |
M. Hayne, R. Provoost, M. K. Zundel, Y. Manz, K. Eberl, and V. V. Moshchalkov, Physica E 6, 436 (2000)
DOI
ScienceOn
|
6 |
M. K. Zundel, N. Y. Jin-Phillipp, F. Phillipp, K. Eberl, T. Riedl, E. Fehrenbacher, and A. Hangleiter, Appl. Phys. Lett. 73, 1784 (1998)
DOI
ScienceOn
|
7 |
P.-F. Braun, X. Marie, L. Lombez, B. Urbaszek, T. Amand, P. Renucci, V. K. Kalevich, K. V. Kavokin, O. Krebs, P. Voisin, and Y. Masumoto, Phys. Rev. Lett. 94, 16601 (2005)
DOI
ScienceOn
|
8 |
J. W. Jang, S. H. Pyun, S. H. Lee, I. C. Lee, W. G. Jeong, R. Stevenson, P. D. Dapkus, N. J. Kim, M. S. Hwang, and D. Lee, Appl. Phys. Lett. 85, 3675 (2004)
DOI
ScienceOn
|
9 |
Y. Zheng, T. L,, C. Zhang, and W. Su, Physica E 24, 290 (2004)
DOI
|
10 |
K. E. Meissner, C. Holton, and W. Spillman, Physica E 26, 377 (2005)
DOI
ScienceOn
|
11 |
D. V. Lang, J. Appl. Phys. 45, 3023 (1974)
DOI
ScienceOn
|
12 |
S. M. Sze, Semiconductor Devices - Physics and Technology, 2nd ed (John Wiley & Sons, New York, 2002), p. 101
|
13 |
P. Blood and J. W. Orton, The Electrical Characterization of Semiconductors: Majority Carriers and Electron States (Academic Press, New York, 1992), p. 336
|
14 |
E. K. Kim, J. S. Kim, H. Hwang, K. Park, E. Yoon, J. H. Kim, I.-W. Park, and Y. J. Park, Jpn. J. Appl. Phys 43, 3825 (2004)
DOI
|
15 |
L. Jacak, P. Hawrylak, and A. W,js, Quantum Dots (Springer-Verlag, New York, 1997) p. 1
|
16 |
R. Dingle, W. Wiemann, and C. H. Henry, Phys. Rev. Lett. 34, 1327 (1975)
DOI
|
17 |
L. L. Chang, L. Esaki, and R. Tsu, Appl. Phys. Lett. 24, 593 (1974)
DOI
ScienceOn
|