1 |
S. Stemmer, G. R. Bai, N. D. Browning, and S.K. Streiffer, J. Appl. Phys. 87, 3526 (2000); G.R. Bai, S. K. Streiffer, P. K. Baumann, S.Stemmer, O. Auciello, K. Ghosh, A. Munkholm, C. Thompson, R. A. Rao, and C. B. Earn, Appl. Phys. Lett. 76, 3106 (2000)
DOI
ScienceOn
|
2 |
S. D. Bu, M. K. Lee, C. B. Earn, W. Tian, X. Q. Pan, S. K. Streiffer, and J. J. Krajewski, Appl. Phys. Lett. 79, 3482 (2001)
DOI
ScienceOn
|
3 |
J. N. Eckstein, I. Bozovic, D. G. Schlom, and J. S. Harris, Jr., Appl. Phys. Lett. 57, 1049 (1990).
DOI
|
4 |
V. Nagarajan, S. P. Alpay, C. S. Ganpule, B. K. Nagaraj, S. Aggarwal, E. D. Williams, A. L. Roytburd, and R. Ramesh, Appl. Phys. Lett. 77, 438 (2000)
DOI
ScienceOn
|
5 |
Q. Gan, R. A. Rao, and C. B. Earn, Appl. Phys. Lett. 70, 1962 (1997)
DOI
ScienceOn
|
6 |
Q. Gan and C. B. Earn (submitted)
|
7 |
J. Kwo, R. M. Fleming, H. L. Kao, D. J. Werder, and C. H. Chen, Appl. Phys. Lett. 60, 1905 (1992)
DOI
|
8 |
S. W. Choi, T. R. Shrout, S. J. Jang, and A. S. Bhalla, Mater. Lett. 8, 253 (1989)
DOI
ScienceOn
|
9 |
S. K. Streiffer, B. M. Lairson, and J. C. Bravrnan, Appl. Phys. Lett. 57, 2501 (1990)
DOI
|
10 |
S.E. Park and T. R. Shrout, J. Appl. Phys. 82, 1804 (1997)
DOI
ScienceOn
|
11 |
R. A. Rao, Q. Gan, C. B. Earn, Y. Suzuki, A. A. McDaniel, and J. W. P. Hsu, Appl. Phys. Lett. 69, 3911 (1996)
DOI
ScienceOn
|
12 |
C. B. Earn, R. J. Cava, R. M. Fleming, J. M. Phillips, R. B. Van Dover, J. H. Marshall, J. W. P. Hsu, J. J. Krajewski, and W. F. Peck, Jr., Science 258, 1766 (1992)
DOI
ScienceOn
|
13 |
D. Lavric, R. A. Rao, Q. Gan, J. J. Krajewski, and C. B. Earn, Integr. Ferroelectr. 21, 499 (1998)
DOI
ScienceOn
|
14 |
C. B. Earn, R. B. Van Dover, J. M. Phillips, D. J. Werder, J. H. Marshall, C. H. Chen, R. J. Cava, R. M. Fleming, and D. K. Fork, Appl. Phys. Lett. 63, 2570 (1993)
DOI
ScienceOn
|
15 |
S. L. Swartz and T. R. Shrout, Mater. Res. Bull. 17, 1245 (1982)
DOI
ScienceOn
|
16 |
C. B. Eom, X. Q. Pan, S. K. Streiffer, R. Ramesh, and S.D. Bu (submitted)
|
17 |
J.P. Maria, W. Hackenberger, and S. TrolierMcKinstry, J. Appl. Phys. 84, 5147 (1998)
DOI
ScienceOn
|