1 |
S. Stemmer, G. R. Bai, N. D. Browning, and S.K. Streiffer, J. Appl. Phys. 87, 3526 (2000); G.R. Bai, S. K. Streiffer, P. K. Baumann, S.Stemmer, O. Auciello, K. Ghosh, A. Munkholm, C. Thompson, R. A. Rao, and C. B. Earn, Appl. Phys. Lett. 76, 3106 (2000)
DOI
ScienceOn
|
2 |
S. D. Bu, M. K. Lee, C. B. Earn, W. Tian, X. Q. Pan, S. K. Streiffer, and J. J. Krajewski, Appl. Phys. Lett. 79, 3482 (2001)
DOI
ScienceOn
|
3 |
J. N. Eckstein, I. Bozovic, D. G. Schlom, and J. S. Harris, Jr., Appl. Phys. Lett. 57, 1049 (1990).
DOI
|
4 |
V. Nagarajan, S. P. Alpay, C. S. Ganpule, B. K. Nagaraj, S. Aggarwal, E. D. Williams, A. L. Roytburd, and R. Ramesh, Appl. Phys. Lett. 77, 438 (2000)
DOI
ScienceOn
|
5 |
Q. Gan, R. A. Rao, and C. B. Earn, Appl. Phys. Lett. 70, 1962 (1997)
DOI
ScienceOn
|
6 |
J. Kwo, R. M. Fleming, H. L. Kao, D. J. Werder, and C. H. Chen, Appl. Phys. Lett. 60, 1905 (1992)
DOI
|
7 |
C. B. Earn, R. J. Cava, R. M. Fleming, J. M. Phillips, R. B. Van Dover, J. H. Marshall, J. W. P. Hsu, J. J. Krajewski, and W. F. Peck, Jr., Science 258, 1766 (1992)
DOI
ScienceOn
|
8 |
S. W. Choi, T. R. Shrout, S. J. Jang, and A. S. Bhalla, Mater. Lett. 8, 253 (1989)
DOI
ScienceOn
|
9 |
S. K. Streiffer, B. M. Lairson, and J. C. Bravrnan, Appl. Phys. Lett. 57, 2501 (1990)
DOI
|
10 |
Q. Gan and C. B. Earn (submitted)
|
11 |
S.E. Park and T. R. Shrout, J. Appl. Phys. 82, 1804 (1997)
DOI
ScienceOn
|
12 |
R. A. Rao, Q. Gan, C. B. Earn, Y. Suzuki, A. A. McDaniel, and J. W. P. Hsu, Appl. Phys. Lett. 69, 3911 (1996)
DOI
ScienceOn
|
13 |
D. Lavric, R. A. Rao, Q. Gan, J. J. Krajewski, and C. B. Earn, Integr. Ferroelectr. 21, 499 (1998)
DOI
ScienceOn
|
14 |
C. B. Earn, R. B. Van Dover, J. M. Phillips, D. J. Werder, J. H. Marshall, C. H. Chen, R. J. Cava, R. M. Fleming, and D. K. Fork, Appl. Phys. Lett. 63, 2570 (1993)
DOI
ScienceOn
|
15 |
S. L. Swartz and T. R. Shrout, Mater. Res. Bull. 17, 1245 (1982)
DOI
ScienceOn
|
16 |
C. B. Eom, X. Q. Pan, S. K. Streiffer, R. Ramesh, and S.D. Bu (submitted)
|
17 |
J.P. Maria, W. Hackenberger, and S. TrolierMcKinstry, J. Appl. Phys. 84, 5147 (1998)
DOI
ScienceOn
|