Estimation of Activation Energy of Electroluminescent film by Accelerated Life Test |
Kim, Su-Kyoung
(Korea Testing Certification)
Hyung, Jae-Phil (Korea Testing Certification) Oh, Gil-Gu (Korea Testing Certification) Lim, Hong-Woo (Korea Testing Certification) Kim, Myung-Soo (Suwon University) Oh, Geun-Tae (Suwon University) |
1 | 김수경․이창훈․임홍우․김명수․오근태 (2013), Electroluminescent film의 가속 스트레스 인자에 따른 광특성 변화 신뢰성학회 춘계학술대회 논문집, pp. 17-24. |
2 | 김수경․형재필․임홍우․김명수․오근태 (2014), Electroluminescent film의 가속시험 활성화 에너지 추정, 신뢰성학회 춘계학술대회 논문집. |
3 | 신경철․박양수․문태정․임준우․김태훈 (2011), 디스 플레이 개론, 광문각. |
4 | 이상욱 (2003), 고휘도 교류구동 후막 무기 EL소자의 특성과 신뢰성에 대한 연구, 동국대학교 대학원. |
5 | 이종찬․박대희 (2011), 후막 EL 소자의 발광과 흡습 열화 특성, 대한전기학회 하계학술대회 논문집 C, 2001.7, pp. 1352-1354. |
6 | 정의효․김수경․이창훈․반정현 (2013), Electroluminescent film의 가속스트레스 인자에 의한 다크스팟 고장 연구, 신뢰성학회 추계학술대회 논문집, pp. 371-378. |
7 | Kido Junzi (2004), 유기EL, 광문각. |
8 | Vladmir Vlaskin Svetlana Vlaskina, Leonid Berezhinsky, Georgiy Svechikov (2009), Reliability of AC thick-film electroluminescent lamps, Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics, Vol. 12, No. 2. pp. 173-177. |