Calibration Kit for 4-Port Horizontal/Vertical Probing
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Kim, Taeho
(Department of Electronic and Computer Engineering, Sungkyunkwan University)
Kim, Jonghyeon (Department of Electronic and Computer Engineering, Sungkyunkwan University) Kim, Sungjun (Department of Electronic and Computer Engineering, Sungkyunkwan University) Kim, Kwangho (Department of Electronic and Computer Engineering, Sungkyunkwan University) Pu, Bo (Department of Electronic and Computer Engineering, Sungkyunkwan University) Nah, Wansoo (Department of Electronic and Computer Engineering, Sungkyunkwan University) |
1 | Papazyan, Ruslan, et al., "Extraction of high frequency power cable characteristics from S-parameter measurements", Dielectrics and Electrical Insulation, IEEE Transactions on 11.3 (2004): 461-470. |
2 | William R. Eisenstadt, Yungseon Eo, "S-parameter-based ic interconnect transmission line characterization", IEEE Transactions on Components, Hybrids, and Manufacturing Technology, vol. 15, no. 4, pp. 483-490, Aug. 1992. DOI ScienceOn |
3 | 배현주, 김종현, 이준상, Bo Pu, 이재중, 나완수, "누화특성 감소를 위한 MEMS 프로브 커넥터 시스템의 설계", 한국전자파학회논문지, 23(2), pp. 177-186, 2012년 2월. |
4 | Duc Long Luong, B. A. E. Hyeonju, and N. A. H. Wansoo, "Crosstalk analysis and measurement technique for high frequency signal transfer in MEMs probe pins", IEICE Transactions on Electronics, vol. 95, no. 9, pp. 1459- 1464, 2012. |
5 | http://www.cmicro.com/support/wincal-support/faqs/rf-calibration-and-wincal-faq |
6 | 육종관, 나완수, "PCB 및 IC 회로에서의 EMC 기술 연구 동향", 한국전자파학회논문지, 23(4), pp. 32-42, 2012년 7월. |
7 | 나우진, 이재중, 나완수, "고속 채널 환경에서의 효율적인 인덕턴스 추출법에 관한 연구", 2012년도 대한전기학회 하계학술대회 논문집, pp. 1161-1162, 2012년 6월. |
8 | 노현배, 신용범, 장난, 김종민, 나완수, "De-embedding 기술을 이용한 비아홀 특성 분석에 관한 연구", 2012년도 대한전기학회 하계학술대회논문집, pp. 1742-1743, 2012년 7월. |
9 | 김태호, 김성준, 김종현, 나완수, "4-포트 커넥터 핀의 커플링 효과 측정을 위한 수직형 프로빙 시스템 제작 및 측정", 2013년도 대한전기학회 하계학술대회논문집, pp. 1420-1421, 2013년 7월. |
10 | David M. Pozar, Microwave Engineering, 3rd., Chapter 2, Danvers, MA: Wiley, 2005. |
11 | Cascade Microtech Inc., "On-wafer vector network analyzer calibration and measurements", Application Note, Jan. 2002. |
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