1 |
W. Kleemann, J. Phys. D: Appl. Phys., 50, 223001 (2017). [DOI: https://doi.org/10.1088/1361-6463/aa6c04]
DOI
|
2 |
A. V. Turutin, J. V. Vidal, I. V. Kubasov, A. M. Kislyuk, M. D. Malinkovich, Y. N. Parkhomenko, S. P. Kobeleva, A. L. Kholkin, and N. A. Sobolev, J. Phys. D: Appl. Phys., 51, 214001 (2018). [DOI: https://doi.org/10.1088/1361-6463/aabda4]
DOI
|
3 |
J. Ryu, J. E. Kang, Y. Zhou, S. Y. Choi, W. H. Yoon, D. S. Park, J. J. Choi, B. D. Hahn, C. W. Ahn, J. W. Kim, Y. D. Kim, S. Priya, S. Y. Lee, S. Jeong, and D. Y. Jeong, Energy Environ. Sci., 8, 2402 (2015). [DOI: https://doi.org/10.1039/C5EE00414D]
DOI
|
4 |
J. Ma, J. Hu, Z. Li, and C. W. Nan, Adv. Mater., 23, 1062 (2011). [DOI: https://doi.org/10.1002/adma.201003636]
DOI
|
5 |
H. Palneedi, V. Annapureddy, S. Priya, and J. Ryu, Actuators, 5, 9 (2016). [DOI: https://doi.org/10.3390/act5010009]
DOI
|
6 |
D. R. Patil, Y. Chai, R. C. Kambale, B. G. Jeon, K. Yoo, J. Ryu, W. H. Yoon, D. S. Park, D. Y. Jeong, S. G. Lee, J. Lee, J. H. Nam, J. H. Cho, B. I. Kim, and K. H. Kim, Appl. Phys. Lett., 102, 062909 (2013). [DOI: https://doi.org/10.1063/1.4792590]
DOI
|
7 |
D. R. Patil, R. C. Kambale, Y. Chai, W. H. Yoon, D. Y. Jeong, D. S. Park, J. W. Kim, J. J. Choi, C. W. Ahn, B. D. Hahn, S. Zhang, K. H. Kim, and J. Ryu, Appl. Phys. Lett., 103, 052907 (2013). [DOI: https://doi.org/10.1063/1.4817383]
DOI
|
8 |
J. Ryu, A. V. Carazo, K. Uchino, and H. E. Kim, Jpn. J. Appl. Phys., 40, 4948 (2001). [DOI: https://doi.org/10.1143/JJAP.40.4948]
DOI
|
9 |
D. Patil, J. H. Kim, Y. S. Chai, J. H. Nam, J. H. Cho, B. I. Kim, and K. H. Kim, Appl. Phys. Express, 4, 073001 (2011). [DOI: https://doi.org/10.1143/apex.4.073001]
DOI
|
10 |
K. H. Cho and S. Priya, Appl. Phys. Lett., 98, 232904 (2011). [DOI: https://doi.org/10.1063/1.3584863]
DOI
|
11 |
C. M. Leung, J. Li, D. Viehland, and X. Zhuang, J. Phys. D: Appl. Phys., 51, 263002 (2018). [DOI: https://doi.org/10.1088/1361-6463/aac60b]
DOI
|
12 |
M. G. Kang, R. Sriramdas, H. Lee, J. Chun, D. Maurya, G. T. Hwang, J. Ryu, and S. Priya, Adv. Energy Mater., 8, 1703313 (2018). [DOI: https://doi.org/10.1002/aenm.201703313]
DOI
|
13 |
H. Song, M. Peddigari, A. Kumar, S. Lee, D. Kim, N. Park, J. Li, D. R. Patil, and J. Ryu, J. Alloys Compd., 834, 155124 (2020). [DOI: https://doi.org/10.1016/j.jallcom.2020.155124]
DOI
|
14 |
J. Ryu, S. Priya, K. Uchino, and H. E. Kim, J. Electroceram., 8, 107 (2002). [DOI: https://doi.org/10.1023/A:1020599728432]
DOI
|
15 |
V. Annapureddy, H. Palneedi, W. H. Yoon, D. S. Park, J. J. Choi, B. D. Hahn, C. W. Ahn, J. W. Kim, D. Y. Jeong, and J. Ryu, Sens. Actuators, A, 260, 206 (2017). [DOI: https://doi.org/10.1016/j.sna.2017.04.017]
DOI
|