1 |
K. I. Bolotin, K. J. Sikes, Z. Jiang, M. Klima, G. Fudenberg, J. Hone, P. Kim, and H. L. Stomer, Solid State Commun., 146, 351 (2008). [DOI: https://doi.org/10.1016/j.ssc.2008.02.024]
DOI
|
2 |
S. V. Morozov, K. S. Novoselov, M. I. Katsnelson, F. Schedin, D. C. Elias, J. A. Jaszczak, and A. K. Geim, Phys. Rev. Lett., 100, 016602 (2008). [DOI: https://doi.org/10.1103/PhysRevLett.100.016602]
DOI
|
3 |
A. A. Balandin, S. Ghosh, W. Bao, I. Calizo, D. Teweldebrahan, F. Miao, and C. N. Lau , Nano Lett., 8, 902 (2008). [DOI: https://doi.org/10.1021/nl0731872]
DOI
|
4 |
C. Lee, X. Wei, J. W. Kysar, and J. Hone, Science, 321, 385 (2008). [DOI: https://doi.org/10.1126/science.1157996]
DOI
|
5 |
Y. Zhu, S. Murali, W. Cai, X. Li, J. W. Suk, J. R. Potts, and R. S. Ruoff, Adv. Mater., 22, 3906 (2010). [DOI: https://doi.org/10.1002/adma.201001068]
DOI
|
6 |
L. Dai, Carbon Nanotechnology (Elsevier Science, Amsterdam, The Netherlands, 2006) p. 633.
|
7 |
X. Li, W. Cai, J. An, S. Kim, J. Nah, D. Yang, R. Piner, A. Velamakanni, I. Ju ng, E. Tu tu c, S. K. Banerjee, L. Colombo, and R. S. Ruoff, Science, 324, 1312 (2009). [DOI: https://doi.org/10.1126/science.1171245]
DOI
|
8 |
S. Bae, S. J. Kim, D. Shin, J. H. Ahn, and B. H. Hong, Phys. Scr., 2012, 014024 (2012). [DOI: https://doi.org/10.1088/0031-8949/2012/T146/014024]
DOI
|
9 |
J. An, E. Voelkl, J. W. Suk, X. Li, C. W. Magnuson, L. Fu, P. Tiemeijer, M. Bischoff, B. Freitag, E. Popova, and R. S. Ruoff, ACS Nano, 5, 2433 (2011). [DOI: https://doi.org/10.1021/nn103102a]
DOI
|
10 |
Y. Han, B. J. Park, J. H. Eom, and S. G. Yoon, Korean J. Mater. Res., 30, 142 (2020). [DOI: https://doi.org/10.3740/MRSK.2020.30.3.142]
DOI
|
11 |
B. J. Park, J. S. Choi, J. H. Eom, H. Ha, H. Y. Kim, S. Lee, H. Shin, and S. G. Yoon, ACS Nano, 12, 2008 (2018). [DOI: https://doi.org/10.1021/acsnano.8b00015]
DOI
|
12 |
H. A. Song, B. J. Park, and S. G. Yoon, J. Korean Inst. Electr. Electron. Mater. Eng., 25, 387 (2012). [DOI: https://doi.org/10.4313/JKEM.2012.25.5.387]
DOI
|