1 |
K. S. Lee, J. H. Yoo, E. S. Hwang, and D. W. Park, J. Korean Inst. Electr. Electron. Mater. Eng., 21, 49 (2008). [DOI: https://doi.org/10.4313/JKEM.2008.21.1.049]
|
2 |
H. P. Ko, C. Y. Kang, and S. J. Yoon, J. Korean Inst. Electr. Electron. Mater. Eng., 18, 18 (2005).
|
3 |
J. H. Yoo, S. W. Kim, D. H. Seo, E. S. Lee, N. G. Choi, and H. S. Jeong, J. Korean Inst. Electr. Electron. Mater. Eng., 30, 152 (2017). [DOI: https://doi.org/10.4313/JKEM.2017.30.3.152]
|
4 |
J. Yoo, T. Kim, E. Lee, N. G. Choi, and H. S. Jeong, Trans. Electr. Electron. Mater., 18, 334 (2017). [DOI: https://doi.org/10.4313/TEEM.2017.18.6.334]
|