1 |
K. Nomura, H. Ohta, K. Ueda, T. Kamiya, M. Hirano, and H. Hosono, Science, 300, 1269 (2003). [DOI: https://doi.org/10.1126/science.1083212]
DOI
|
2 |
H. Yabuta, M. Sano, K. Abe, T. Aiba, T. Den, H. Kumomi, K. Nomura, T. Kamiya, and H. Hosono, Appl. Phys. Lett., 89, 112123 (2006). [DOI: https://doi.org/10.1063/1.2353811]
DOI
|
3 |
C. G. Van de Walle, Phys. Rev. Lett., 85, 1012 (2000). [DOI: https://doi.org/10.1103/PhysRevLett.85.1012]
DOI
|
4 |
K. Nomura, H. Ohta, A. Takagi, T. Kamiya, M. Hirano, and H. Hosono, Nature, 432, 488 (2004). [DOI: https://doi.org/10.1038/nature03090]
DOI
|
5 |
K. B. Park, J. B. Seon, G. H. Kim, M. Yang, B. Koo, H. J. Kim, M. K. Ryu, and S. Y. Lee, IEEE Electron Device Lett., 31, 311 (2010). [DOI: https://doi.org/10.1109/LED.2010.2040130]
DOI
|
6 |
W. H. Jeong, G. H. Kim, H. S. Shin, B. D. Ahn, H. J. Kim, M. K. Ryu, K. B. Park, J. B. Seon, and S. Y. Lee, Appl. Phys. Lett., 96, 093503 (2010). [DOI: https://doi.org/10.1063/1.3340943]
DOI
|
7 |
Y. S. Rim, H. S. Lim, and H. J. Kim, ACS Appl. Mater. Interfaces, 5, 3565 (2013). [DOI: https://doi.org/10.1021/am302722h]
DOI
|
8 |
P. C. Chang, Z. Fan, C. J. Chien, D. Stichtenoth, C. Ronning, and J. G. Lu, Appl. Phys. Lett., 89, 133113 (2006). [DOI: https://doi.org/10.1063/1.2357013]
DOI
|
9 |
S. H. Song, W. K. Hong, S. S. Kwon, and T. H. Lee, Appl. Phys. Lett., 92, 263109 (2008). [DOI: https://doi.org/10.1063/1.2955512]
DOI
|