1 |
A. Takagi, K. Nomura, H. Ohta, H. Yanagi, T. Kamiya, M. Hirano, and H. Hosono, Thin Solid Films, 438, 38 (2005). [DOI: http://dx.doi.org/10.1016/j.tsf.2004.11.223
|
2 |
K. H. Kim, H. S. Kim, M. Patel, and J. D. Kim, J. Korean Inst. Electr. Electron. Mater. Eng., 28, 808 (2015).
|
3 |
H. Kim, C. M. Gilmore, A. Pique, J. S. Horwitz, H. Mattoussi, H. Murata, Z. H. Kafafi, and D. B. Chrisey, J. Appl. Phys., 86, 6451 (1999). [DOI: http://dx.doi.org/10.1063/1.371708]
DOI
|
4 |
T. Karasawa and Y. Miyata, Thin Solid Films, 223, 135 (1993). [DOI: http://dx.doi.org/10.1016/0040-6090(93)9073-A]
DOI
|
5 |
S. Ishibashi, Y. Higuchi, Y. Ota, and K. Nakamura, J. Vac. Sci. Technol. A, 8 1403 (1990). [DOI: http://dx.doi.org/10.1116/1.576890]
DOI
|
6 |
M. D. Kumar, H. K. Kim, and J. D. Kim, Sensors and Actuators A, 223, 290 (2015).
|
7 |
C. Battaglia, S. M. de Nicolas, S. D. Wolf, X. Yin, M. Zheng, C. Ballif, and A. Javey, Applied Physics Letters, 104, 113902 (2014). [DOI: http://dx.doi.org/10.1063/1.4868880]
DOI
|
8 |
L. G. Gerling, S. Mahato, C. Voz, R. Alcubilla, and J. Puigdollers, Appl. Sci., 5, 695 (2015). [DOI: http://dx.doi.org/10.3390/app5040695]
DOI
|
9 |
K. M. Kang, J. H. Yoon, Y. C. Park, and J. D. Kim, J. Korean Inst. Electr. Electron. Mater. Eng., 27, 276 (2014).
|
10 |
Z. H. Wang, S. H. Lee, D. H. Kim, J. H. Kim, and J. K. Park, Solar Energy Materials and Solar Cells, 94, 1592 (2010).
|