1 |
K. I. Park, H. G. Kim, K. H. Shin, and G. Sagong, J. Korean Inst. Electr. Electron. Mater. Eng., 4, 756 (2003).
|
2 |
C. T. Chiang and P. C. Tsai, IEEE. Sens. J., 15, 3311 (2015). [DOI: http://dx.doi.org/10.1109/JSEN.2014.2388216]
DOI
|
3 |
K. I. Ha, M. H. Kim, G. J. Kang, B. G. Hyun, M. G. Chae, and G. Imano, J. Korean. Sens. Soc., 10, 320 (2001).
|
4 |
Y. J. Lee and J. I. Im, J. Inst. Electron. Eng. Korea, 43, 30 (2006).
|
5 |
S. W. Lee, Y. B. Kim, J. T. Ryu, and H. D. Nam, J. Acous. Soc. Korea, 26, 80 (2007).
|
6 |
J. H. Lee, C. I. Kim, J. H. Paik, J. H. Cho, Y. H. Jeong, Y. J. Lee, and S. Nahm, J. Korean Inst. Electr. Electron. Mater. Eng., 24, 859 (2011).
|