1 |
S. H. Lee, S. P. Nam, S. G. Lee, and Y. H. Lee, J. Korean Inst. Electr. Electron. Mater. Eng., 24, 116 (2011).
|
2 |
Y. H. Lee, D. H. Kim, J. H. Yoo, I. S. Kim, J. S. Song, and J. I. Hong, J. Korean Inst. Electr. Electron. Mater. Eng., 22, 489 (2009).
|
3 |
J. R. Noh and J. H. Yoo, Ferroelectrics, 449, 125 (2013). [DOI: http://dx.doi.org/10.1080/00150193.2013.822777]
DOI
|
4 |
C. Zhang, Z. Chen, W. J. Ji, L. Wang, Y. B. Chen, S. H. Yao, S. T. Zhang, and Y. F. Chen, J. Alloys Compd., 509, 2425 (2011). [DOI: http://dx.doi.org/10.1016/j.jallcom.2010.11.037]
DOI
|
5 |
B. H. Seo and J. H. Yoo, J. Korean Inst. Electr. Electron. Mater. Eng., 23, 617 (2010).
|
6 |
T. Takenaka and H. Nagata, J. Eur. Ceram. Soc., 25, 2693 (2005).
DOI
|