1 |
I. Schnitzer, E. Yablonovitch, C. Caneau, T. J. Gmitter, and A. Scherer, Appl. Phys. Lett., 63, 2174 (1993). [DOI: http://dx.doi.org/10.1063/1.110575]
DOI
|
2 |
R. Windisch, P. Heremans, A. Knobloch, P. Kiesel, G. H. Dohler, B. Dutta, and G. Borghs, Appl. Phys. Lett., 74, 2256 (1999). [DOI: http://dx.doi.org/10.1063/1.123817]
DOI
|
3 |
M. R. Krames, M. Ochiai-Holcomb, G. E. Hofler, C. Carter-Coman, E. I. Chen, I. H. Tan, P. Grillot, N. F. Gardner, H. C. Chui, J. W. Huang, S. A. Stockman, F. A. Kish, M. G. Craford, T. S. Tan, C. P. Kocot, M. Hueschen, J. Posselt, B. Loh, G. Sasser, and D. Collins, Appl. Phys. Lett., 75, 2365 (1999). [DOI: http://dx.doi.org/10.1063/1.125016]
DOI
|
4 |
P. Waltereit, O. Brandt, A. Trampert, H. T. Grahn, J. Menniger, M. Ramsteiner, M. Reiche, and K. H. Ploog, Nature, 406, 865 (2000). [DOI: http://dx.doi.org/10.1038/35022529]
DOI
|
5 |
C. Huh, K. S. Lee, E. J. Kang, and S. J. Park, J. Appl. Phys., 93, 9383 (2003). [DOI: http://dx.doi.org/10.1063/1.1571962]
DOI
|
6 |
T. Fujii, Y. Gao, R. Sharma, E. L. Hu, S. P. DenBarrs, and S. Nakamura, Appl. Phys. Lett., 84, 855 (2004). [DOI: http://dx.doi.org/10.1063/1.1645992]
DOI
|
7 |
S. H. Huang, R. H. Horng, K. S. Wen, Y. F. Lin, K. W. Yen, and D. S Wuu, IEEE Photon. Technol. Lett., 18, 2623 (2006). [DOI: http://dx.doi.org/10.1109/LPT.2006.886823]
DOI
ScienceOn
|
8 |
S. E. Brinkley, C. L. Keraly, J. Sonoda, C. Weisbuch, J. S. Speck, S. Nakamura, and S. P. DenBaars, Appl. Phys. Express, 5, 032104 (2012). [DOI: http://dx.doi.org/10.1143/APEX.5.032104]
DOI
|
9 |
R. Windisch, C. Rooman, S. Meinlschmidt, P. Kiesel, D. Zipperer, G. H. Dohler, B. Dutta, M. Kuijk, G. Borghs, and P. Heremans, Appl. Phys. Lett., 79, 2315 (2001). [DOI: http://dx.doi.org/10.1063/1.1397758]
DOI
|
10 |
Y. J. Lee, J. M. Hwang, T. C. Hsu, M. H. Hsieh, M. J. Jou, B. J. Lee, T. C. Lu, and H. C. Kuo, IEEE Photon. Technol. Lett., 18, 1152 (2006). [DOI: http://dx.doi.org/10.1109/LPT.2006.874737]
DOI
ScienceOn
|
11 |
K. Orita, S. Tamura, T. Takizawa, T. Ueda, M. Yuri, S. Takigawa, and D. Ueda, Jpn. J. Appl. Phys., 43, 5809 (2004). [DOI: http://dx.doi.org/10.1143/JJAP.43.5809]
DOI
|
12 |
J. K. Kim, S. Chhajed, M. F. Schubert, E. F. Schubert, A. J. Fischer, M. H. Crawford, J. Cho, H. Kim, and C. Sone, Adv. Mater., 20, 801 (2008). [DOI: http://dx.doi.org/10.1002/adma.200701015]
DOI
|
13 |
S. J. Lee, Appl. Opt., 40, 1427 (2001). [DOI: http://dx.doi.org/10.1364/AO.40.001427]
DOI
|
14 |
H. Wang, S. Zhou, Z. Lin, Z. Hong, and G. Li, Jpn. J. Appl. Phys., 52, 092101 (2013). [DOI: http://dx.doi.org/10.7567/JJAP.52.092101]
DOI
|