1 |
D. T. Phan and G. S. Chung, Appl. Surf. Sci., 257, 8 (2001).
|
2 |
I. J. Kim, B. H. Oh, J. H. Lee, and S. M. Koo, J. KIEEME, 25, 91 (2012).
|
3 |
D. D. Lee and D. S. Lee, IEEE Sensors J., 1, 214 (2001).
DOI
ScienceOn
|
4 |
H. W. Ra, K. S. Choi, J. H. Kim, Y. B. Hahn, and Y. H. Im, Small, 4, 1105 (2008).
DOI
ScienceOn
|
5 |
E. Janzen and O. Kordina, Mater. Sci. Eng., B46, 203 (1997).
|
6 |
M. M. Steeves, D. Deniz, and R. J. Lad, Appl. Phys. Lett., 96, 142103 (2010).
DOI
ScienceOn
|
7 |
J. W. Elam, Z. A. Sechrist, and S. M George, Thin Solid Films, 414, 43 (2002).
DOI
ScienceOn
|
8 |
E. Karber, T. Raadik, T. Dedova, J. Krustok, A. Mere, V. Mikli, and M. Krunks, Nanoscale Reserch Letters, 6, 359 (2011).
DOI
ScienceOn
|