1 |
H. Monig, R. Caballero, C. A. Kaufmann, T. L. Schmidt, M. Ch. Lux-Steiner, and S. Sadewasser, Sol. Energ. Mater. & Sol. Cel., 95, 1537 (2011).
DOI
ScienceOn
|
2 |
L. Gutay, C. Lienau, and G. H. Bauer, Appl. Phys. Lett., 97 (2010).
|
3 |
D. A. Ras, M. A. Contrersa, R. Noufi, and H. W. Schock, Thin Solid Films, 517, 2218 (2009).
DOI
ScienceOn
|
4 |
M. Chandramohan, Mater. Sci. and Eng., in press (2010).
|
5 |
A. S. Kindyak, V. V. Kindyak, Y. Vud, Semiconducores, 30, 882 (1997).
|
6 |
J. F. Guillemoles, L. Kronik, D. Cahen, U. Rau, A. Jasenek, and H. W. Schock, J. Phys. Chem., B104, 4849 (2000).
|
7 |
P. Guha, S. N. Kundu, S. Chaudhuri, and A. K. Pal, Mater. Chem. and Phys., 74, 192 (2002).
DOI
ScienceOn
|
8 |
K. Ramanathan, G. Teeter, J. C.Keane, and R. Noufi, Thin Solid Film, 480, 499 (2005).
|
9 |
E. Wallin, T. Jarmar, U. Malm, M. Edoff, and L. Stolt, Thin Solid Films, Ariticel in Press, 4 (2011).
|